本申请公开了一种测试方法、存储装置、计算机设备和测试设备。该测试方法包括：提供一分盘机构和一供料机构；从第一上料工位拾取待测试工件，并输送至测试机构进行测试；根据工件的测试结果将工件放置于对应类型的卸料工位的载盘内；响应于其中一种类型的卸料工位满载，与卸料工位对应设置的顶升件伸入至对应的托盘料盒，以承接自卸料工位卸下的载盘。通过上述方式，本申请提供的测试方法能够有效地提升了测试设备的上下料效率以及运行效率。升了测试设备的上下料效率以及运行效率。升了测试设备的上下料效率以及运行效率。
【技术实现步骤摘要】
测试方法、存储装置、计算机设备和测试设备
[0001]本申请涉及半导体测试
，特别是涉及一种测试方法、存储装置、计算机设备和测试设备。
技术介绍
[0002]现有对晶粒（die）进行检测的测试装置中，测试设备体积较大，其所占地面积也较大，且也常因上下料耗时长，而导致测试设备的检测效率受限，继而生产进度受影响较大。
技术实现思路
[0003]本申请主要提供一种测试方法、存储装置、计算机设备和测试设备，以解决测试设备运行效率不高的问题。
[0004]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种测试方法。所述测试方法包括：提供一分盘机构和一供料机构，所述分盘机构和所述供料机构呈层叠设置，所述分盘机构包括多个承载组件，所述多个承载组件被划分为第一上料工位和多种类型的卸料工位，所述供料机构包括多个托盘料盒和多个顶升件，所述托盘料盒和所述顶升件一一对应设置，且分别对应所述承载组件；从所述第一上料工位拾取待测试工件，并输送至测试机构进行测试；根据工件的测试结果将所述工件放置于对应类型的所述卸料工位的载盘内；响应于其中一种类型的所述卸料工位满载，与所述卸料工位对应设置的所述顶升件伸入至对应的所述托盘料盒，以承接自所述卸料工位卸下的载盘。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种具有存储功能的存储装置。所述存储装置存储有程序数据，所述程序数据能够被处理器执行以实现如上述的测试方法。
[0006]为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种计算机设备。所述计算机设备包括处理器和存储器，所述处理器耦接所述存储器，所述存储器用于存储程序数据，所述处理器用于执行所述程序数据以实现如上述的测试方法。
[0007]为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种测试设备。所述测试设备包括分盘机构、供料机构、测试机构和如上述的计算机设备，所述计算机设备与所述分盘机构、所述供料机构及所述测试机构通信连接。
[0008]本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请公开了一种测试设备。通过限定分盘机构和供料机构层叠设置，且每一承载组件均对应有一组托盘料盒和顶升件，从而可快捷地对第一上料工位进行供料，同时还能够快捷地承接自卸料工位卸下的载盘，彼此互不干扰且可同时运行，从而测试设备的上下料均能能够十分快捷地完成，有效地提升了测试设备的上下料效率以及运行效率，从而可有效地提升本测试设备每分钟的检测量，相对节省时间成本，能够获得较高的经济效益。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：图1是本申请提供的测试设备一实施例的结构示意图；图2是如图1所示测试设备除测试机构和拾取机构之外的结构示意图；图3是如图2所示测试设备的分解结构示意图；图4是如图3所示测试设备中供料机构的结构示意图；图5是如图1所示测试设备除拾取机构之外的俯视结构示意图；图6是如图5所示测试设备中分盘机构的俯视结构示意图；图7是如图6所示分盘机构中承载组件的俯视结构示意图；图8是如图4所示供料机构的局部分解结构示意图；图9是如图8所示供料机构中料框架的结构示意图；图10是如图9所示料框架中自锁件的剖视结构示意图；图11是如图1所示测试设备中测试机构的结构示意图；图12是本申请提供的测试方法一实施例的流程示意图；图13是图12所示方法中S20的流程示意图；图14是图12所示方法中S40的流程示意图；图15是本申请计算机设备一实施例的结构示意图；图16是本申请提供的存储装置一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0010]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0011]本申请实施例中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
[0012]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其他实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其他实施例相结合。
[0013]本申请提供一种测试设备100，参阅图1至图3，图1是本申请提供的测试设备一实
施例的结构示意图，图2是如图1所示测试设备除测试机构和拾取机构之外的结构示意图，图3是如图2所示测试设备的分解结构示意图。
[0014]该测试设备100包括基台10、分盘机构20、供料机构30、换盘机构40、测试机构50和拾取机构60，分盘机构20和换盘机构40均连接于基台10上，供料机构30连接于基台10之下，即分盘机构20和供料机构30分别连接于基台10相背的两侧，测试机构50和拾取机构60可以连接基台10或独立设置于基台10之外。
[0015]可选地，测试机构50与基台10相间隔且独立设置，进而可避免其余装置所产生的震动等扰动传递给测试机构50；或者，其余装置运行时其所造成的震动可控制在较小水平时，也可将测试机构50连接于基台10上，以使得该测试设备100的整体布局更紧凑，所占用的面积较小。
[0016]其中，供料机构30用于提供空载盘和载有待测试工件的载盘，以及承接收集完成测试的工件的载盘，分盘机构20用于暂存载有待测试工件和完成测试的工件的载盘以及空载盘，换盘机构40用于将空载盘分发至分盘机构20的各位置，拾取机构60用于在分盘机构20与测试机构50之间搬运工件，测试机构50用于对工件进行测试，以评估工件的性能或品质等。
[0017]本实施例中，基台10为一完整的板体，分盘机构20、换盘机构40、测试机构50和拾取机构60连接于基台10的上表面，换盘机构40设置于分盘机构20的至少一侧，测试机构50与分盘机构20并排设置，拾取机构60连接基台10且横跨分盘机构20，供料机构30连接于基台10的下表面且对应于分盘机构20设置。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：提供一分盘机构和一供料机构，所述分盘机构和所述供料机构呈层叠设置，所述分盘机构包括多个承载组件，所述多个承载组件被划分为第一上料工位和多种类型的卸料工位，所述供料机构包括多个托盘料盒和多个顶升件，所述托盘料盒和所述顶升件一一对应设置，且分别对应所述承载组件；从所述第一上料工位拾取待测试工件，并输送至测试机构进行测试；根据工件的测试结果将工件放置于对应类型的所述卸料工位的载盘内；响应于其中一种类型的所述卸料工位满载，与所述卸料工位对应设置的所述顶升件伸入至对应的所述托盘料盒，以承接自所述卸料工位卸下的载盘。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述多个承载组件中的一部分还被划分为第二上料工位，所述第二上料工位用于承接空载盘；所述承接自所述卸料工位卸下的载盘之后，所述测试方法还包括：响应于所述卸料工位的空载，从所述第二上料工位或所述第一上料工位拾取空载盘至所述卸料工位，其中所述第一上料工位的空载盘为待测试工件被全部拾取后形成的。3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：响应于所述第一上料工位的空载，与所述第一上料工位对应设置的所述顶升件伸入至对应的所述托盘料盒，以输送所述托盘料盒收容的载有待测试工件的载盘至所述第一上料工位；响应于所述第二上料工位的空载，与所述第二上料工位对应设置的所述顶升件伸入至对应的所述托盘料盒，以输送所述托盘料盒收容的空载盘至所述第二上料工位。4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述响应于所述第一上料工位的空载之前，还包括：将所述第一上料工位上的空载盘转运至空置的所述第二上料工位或所述卸料工位。5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试机构包括测试板、调节载台和第一图像采集组件，所述测试板设有测试接口；所述测试机构对所述待测试工件进行测试的步...
【专利技术属性】
技术研发人员：王树锋，梁晖，陈小兵，
申请(专利权)人：前海晶方云深圳测试设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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