一种用于测试IGBT模块的装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及IGBT模块测试技术领域，且公开了一种用于测试IGBT模块的装置，包括工作台，所述工作台的底部具有用于对工作台进行支撑的支撑架，所述工作台的内侧具有检测头，所述检测头的外侧具有控制部，所述控制部用于对检测头的位置进行控制，所述工作台的外侧具有夹持部，所述夹持部的底部连通回收部；所述夹持部包括：夹板，固定于所述工作台外表面，所述夹板的内侧具有定位片；连接杆，活动地设置于所述夹板内部，且所述连接杆外侧具有夹块。通过本发明专利技术所提供的一种用于测试IGBT模块的装置，能够用于对IGBT模块进行测试，且相对于普通的测试装置，本发明专利技术所提供的测试装置具备能够便于对模块进行固定夹持，在出现不合格的等优点。点。点。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试IGBT模块的装置


[0001]本专利技术涉及IGBT模块测试
，尤其涉及一种用于测试IGBT模块的装置。

技术介绍

[0002]IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)，绝缘栅双极型晶体管，是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件,兼有MOSFET(金氧半场效晶体管)的高输入阻抗和GTR(电力晶体管)的低导通压降两方面的优点。
[0003]IGBT模块是由IGBT(绝缘栅双极型晶体管芯片)与FWD(续流二极管芯片)通过特定的电路桥接封装而成的模块化半导体产品；封装后的IGBT模块直接应用于变频器、UPS不间断电源等设备上。
[0004]LGBT模块在进行加工时对LGBT模块的夹持不稳定，在进行测试时不能够将不合格的模块快速回收，需要人工进行模块的回收，较为麻烦，不便于加工使用。

技术实现思路

[0005](一)解决的技术问题
[0006]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种用于测试IGBT模本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试IGBT模块的装置，包括工作台(1)，所述工作台(1)的底部具有用于对工作台(1)进行支撑的支撑架(2)，所述工作台(1)的内侧具有检测头(3)，其特征在于，所述检测头(3)的外侧具有控制部，所述控制部用于对检测头(3)的位置进行控制，所述工作台(1)的外侧具有夹持部，所述夹持部的底部连通回收部；所述夹持部包括：夹板(22)，固定于所述工作台(1)外表面，所述夹板(22)的内侧具有定位片(21)；连接杆(23)，活动地设置于所述夹板(22)内部，且所述连接杆(23)外侧具有夹块(24)；涡簧(26)，安装于所述夹块(24)与连接杆(23)之间；以及用于对夹块(24)进行限位的限位凸起(25)，所述限位凸起(25)位于所述夹块(24)外表面。2.根据权利要求1所述的一种用于测试IGBT模块的装置，其特征在于，所述夹板(22)的外表面具有橡胶片(27)，所述橡胶片(27)固定于所述夹板(22)外表面，所述定位贯穿所述夹板(22)并延伸至夹板(22)内部，且所述定位片(21)固定于所述连接杆(23)外表面，所述夹块(24)套设于所述连接杆(23)外侧，所述涡簧(26)的外侧以及内侧分别固定于所述连接杆(23)外表面以及夹块(24)内壁。3.根据权利要求2所述的一种用于测试IGBT模块的装置，其特征在于，所述限位凸起(25)的外表面与所述夹板(22)接触，限位凸起(25)能够对夹块(24)进行限位，所述定位片(21)的底部具有支撑弹簧(28)，所述支撑弹簧(28)一端固定于所述工作台(1)外表面，所述支撑弹簧(28)的另一端固定于所述定位片(21)外表面。4.根据权利要求1所述的一种用于测试IGBT模块的装置，其特征在于，所述回收部包括：收卷盘(31)，活动地设置于所述工作台(1)的内部，所述收卷盘(31)的内侧具有电机(32)；连接绳(33)，固定于所述收卷盘(31)内部，所述连接绳(33)的外侧具有推板(34)；顶杆(36)，活动地插接于所述工作台(1)的内部。5.根据权利要求4所述的一种用于测试IGBT模块的装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张哲民，肖步文，
申请(专利权)人：无锡惠吉通半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：