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本发明涉及IGBT模块测试技术领域，且公开了一种用于测试IGBT模块的装置，包括工作台，所述工作台的底部具有用于对工作台进行支撑的支撑架，所述工作台的内侧具有检测头，所述检测头的外侧具有控制部，所述控制部用于对检测头的位置进行控制，所述工作...
该专利属于无锡惠吉通半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡惠吉通半导体有限公司授权不得商用。

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