半导体器件的测试方法技术

本发明专利技术提供了一种半导体器件的测试方法，包括：编写测试程式，一个测试程式包含一个UID号池，一个UID号池被一个测试程式调用，并且，同一型号的的半导体器件调用的测试程式相同；将同一型号的半导体器件分成M份，采用N个测试机台同时对N份所述半导体器件进行测试，每个所述测试机台选择一份所述半导体器件进行测试，其中，每个所述测试机台的测试程式选用一个UID号段，不同所述测试机台选用的所述UID号段均不同，每个所述测试机台将对应的所述UID号段及其中的UID写入所述半导体器件中，并且，一个所述UID写入一个所述半导体器件，并且，N≤M。≤M。≤M。

【技术实现步骤摘要】
半导体器件的测试方法


[0001]本专利技术涉及半导体器件测试领域，尤其是涉及一种半导体器件的测试方法。

技术介绍

[0002]在半导体晶圆测试过程中，有一类芯片需要写入UID号用来作为识别这块芯片的唯一编码。其中一种UID的写入需要从芯片的用户处申请，这种UID只能使用一次，不同的芯片需要写入不重复的UID，因此UID资源非常宝贵，因此，合理分配UID的使用非常重要。例如，金融卡、门禁卡等，一旦UID被写入该芯片，则无法擦除后重新写入。该UID要求是不能重复，而且在写入时尽量少的浪费。如果两颗芯片写入了同一个UID，则会造成芯片的报废。如果只有一台测试机写入UID，则没有UID分配的问题，然而，当有多台测试机一起测试时，需要合理分配UID的使用区间，防止重复使用同个UID。
[0003]然而，为了提高生产效率，通常在测试时都会分配多台测试机一起测试。因此，需要合理分配UID的使用区间，使得不同的测试机使用不同的UID号。在现有技术的半导体器件的测试过程中，不同的测试机通常会使用不同的测试程序，每个测试程序单独调用同一个UID号池，当这个号池中的UID用尽以后，则需要停下来，等待工程人员更新该程序对应的UID号池后才能继续测试。
[0004]因为在测试过程中，一个测试程式只能使用一个UID号池，一个UID号池只能被一个测试程式使用，从而防止UID被不同测试机台重复使用的问题。如果多个测试机台同时对同一型号的多批次半导体器件进行测试，就需要使用不同的UID号池，这样导致多个机台之间的测试程式不能互用，同时，一个UID号池被一个测试机台使用，不能最大限度地使用UID号池，更进一步的，同一型号的多批次半导体器件使用不同UID号池不方便后续追踪该型号半导体器件的质量问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种半导体器件的测试方法，在对同一型号的半导体器件进行测试时，可以多个测试机台调用同一测试程式，避免同一UID号池被不同测试机台调用的情况发生，从而避免减少芯片报废的几率。同时，可以多个测试机台同时使用同一个UID号池，最大限度地使用UID号池，提高测试效率。
[0006]为了达到上述目的，本专利技术提供了一种半导体器件的测试方法，用于在半导体测试过程中，将UID写入半导体器件，包括：
[0007]编写测试程式，一个所述测试程式包含一个UID号池，一个所述UID号池被一个测试程式调用，并且，同一型号的的半导体器件调用的测试程式相同；
[0008]将一个所述UID号池分为若干个UID号段；以及
[0009]将同一型号的半导体器件分成M份，采用N个测试机台同时对N份所述半导体器件进行测试，每个所述测试机台选择一份所述半导体器件进行测试，其中，每个所述测试机台的测试程式选用一个UID号段，不同所述测试机台选用的所述UID号段均不同，每个所述测
试机台将对应的所述UID号段及其中的UID写入所述半导体器件中，并且，一个所述UID写入一个所述半导体器件，并且，N≤M。
[0010]可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，所述UID号池包括多个UID，每个所述UID按照加一的方式保存在所述UID号池中。
[0011]可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，每个所述UID号段包括若干个UID，每个所述UID按照加一的方式保存在UID号段中。
[0012]可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，将一个所述UID号池平均分为若干个UID号段。
[0013]可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，所述测试机台调用UID号段后，该号段标记为已使用。
[0014]可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，所述测试机选用UID号段之前，还包括：判断所述UID号段是否为已使用，如果没被使用，则选用该UID号段。
[0015]可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，所述测试机台的当前UID号段包含的UID使用完之后，自动选用下一个没被使用的UID号段。
[0016]可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，所有所述UID号段用完之后，所述测试机台报警。
[0017]可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，所述UID号池包括的UID为：0000000000～9999999999。
[0018]可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，将所述UID号池分为5个UID号段，分别为第一号段、第二号段、第三号段、第四号段和第五号段，所述第一号段包括0000000000～1999999999的UID，所述第二号段包括2000000000～3999999999的UID，所述第三号段包括4000000000～5999999999的UID，所述第四号段包括6000000000～7999999999的UID，所述第五号段包括8000000000～9999999999的UID。
[0019]可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，所述UID号池和UID号段均保存在数据库中。
[0020]在本专利技术提供的半导体器件的测试方法中，在对同一型号半导体器件进行测试时，可以多个测试机台调用同一测试程式，避免同一UID号池被不同测试机台调用的情况发生，从而避免减少芯片报废的几率。多个测试机台同时使用同一个UID号池，最大限度地使用UID号池，提高测试效率，同时，同一UID号池包含的UID关联，同一型号的半导体器件使用相同的UID号池，还可以使得追踪该批次半导体器件的质量问题更加方便。
附图说明
[0021]图1是本专利技术实施例的半导体器件的测试方法的流程图。
具体实施方式
[0022]下面将结合示意图对本专利技术的具体实施方式进行更详细的描述。根据下列描述，本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。
[0023]在下文中，术语“第一”“第二”等用于在类似要素之间进行区分，且未必是用于描
述特定次序或时间顺序。要理解，在适当情况下，如此使用的这些术语可替换。类似的，如果本文所述的方法包括一系列步骤，且本文所呈现的这些步骤的顺序并非必须是可执行这些步骤的唯一顺序，且一些所述的步骤可被省略和/或一些本文未描述的其他步骤可被添加到该方法。
[0024]请参照图1，本专利技术提供了一种半导体器件的测试方法，用于在半导体测试过程中，将UID写入半导体器件，包括：
[0025]S1：编写测试程式，一个测试程式包含一个UID号池，一个UID号池被一个测试程式调用，并且，同一型号的的半导体器件调用的测试程式相同；
[0026]S2：将一个UID号池分为若干个UID号段；以及
[0027]S3：将同一型号的半导体器件分成M份，采用N个测试机台同时对N份所述半导体器件进行测试，每个所述测试机台选择一份所述半导体器件进行测试，其中，每个所述测试机台的测试程式选用一个UID号段，不同所述测试机台选用的所述UID号段均不同，每个所述测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件的测试方法，用于在半导体测试过程中，将UID写入半导体器件，其特征在于，包括：编写测试程式，一个所述测试程式包含一个UID号池，一个所述UID号池被一个测试程式调用，并且，同一批次的半导体器件调用的测试程式相同；将一个所述UID号池分为若干个UID号段；以及将同一型号的半导体器件分成M份，采用N个测试机台同时对N份所述半导体器件进行测试，每个所述测试机台选择一份所述半导体器件进行测试，其中，每个所述测试机台的测试程式选用一个UID号段，不同所述测试机台选用的所述UID号段均不同，每个所述测试机台将对应的所述UID号段及其中的UID写入所述半导体器件中，并且，一个所述UID写入一个所述半导体器件，并且，N≤M。2.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，所述UID号池包括多个UID，每个所述UID按照加一的方式保存在所述UID号池中。3.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，每个所述UID号段包括若干个UID，每个所述UID按照加一的方式保存在UID号段中。4.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，将一个所述UID号池平均分为若干个UID号段。5.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，所述测试机台调用UID号段后，该号段标记为已使用的。6.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵嘉阳，凌俭波，王华，王辉，
申请(专利权)人：上海华岭集成电路技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：