【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种为了对电路进行电气性检查而将作为被检 查体的例如集成电路和进行该电气性检查的电路检验器电连接 所采用的探针卡这样的。
技术介绍
作为以往的此种电连接装置之一，提出了一种包括设有多 个探针的探针基板的电连接装置，该电连接装置可调整上述探 针基板的平坦性(参照专利文献1 )。采用该以往的电连接装置， 可以自支承探针基板的支承构件对探针基板的一部分施加推压 力或牵引力。通过调整该作用力，即使在探针基板中产生弯曲， 也可以修正探针基板的弯曲变形，维持该探针基板的平坦性。因此，在制造设有多个探针的探针基板时，即使在该探针 基板中产生弯曲变形，也可以在将该探针基板组装到上述支承 构件上之后，通过上述调整作业使探针基板保持平坦，因此， 可以将自该探针基板伸出的多个探针的前端保持在同 一平面上。由此，可以z使所有上述探针的前端可靠地^接触,皮^r查体电 路的与上述各探针相对应的电连接端子，因此，可以在这两者 之间获得良好的电接触。但是，釆用专利文件l所述的上述以往技术，每次将探针 基板组装到支承构件上时，都需要根据导入到各探针基板上的 弯曲变形而进行调整，使所...
【技术保护点】
一种电连接装置的装配方法，该电连接装置包括支承构件、探针基板和间隔套管；上述探针基板为平板状，与该支承构件之间空开间隔地配置，在该探针基板的与面对上述支承构件的一个面相反一侧的另一个面上设有多个探针，该探针与电路检验器电连接，并且探针前端抵接于利用上述电路检验器而接受电气性检查的被检查体的电连接端子；上述间隔套管为多个，以使其两端分别抵接于上述支承构件和上述探针基板的互相面对的面上的互相面对的两抵接部位的方式，配置于上述支承构件和上述探针基板之间，其中，该电连接装置的装配方法包括如下步骤：对上述支承构件的每个上述抵接部位及上述探针基板的每个上述抵接部位中的至少任一方抵接部位...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：长谷川义荣，
申请(专利权)人：日本麦可罗尼克斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[]
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