【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及，特别是精确和自动地检验集成电路(IC)引线的设备和方法。当IC引线之间的间隔和其排列不均匀时，焊接引线时会从其装配台上松驰，而这会损坏其中的电连接。这样，在IC装配到PCB之前，要经过检验，从而提出过各种检验IC引线状态的方法。图6是专利号为5,162,866的美国专利披露的，用于检验IC引线的设备的局部示意透视图。如图所示，用于检验IC引线的普通设备61包括固定台57,IC51被放置在其上；支撑件63，用于支撑该固定台57；光学图像识别单元65，被配置在支撑件63的上方；和图像处理器(未示出)，用于在光学图像识别单元65的输出信号基础上，实现检验区域的图像。光学图像识别单元65检验放置在固定台57上的IC51的引线53的状态。光学图像识别单元65具有激光束源67和光敏元件69。激光束源67向在固定台57上的IC51射出扫描束，光敏元件69接收从IC5的引线53的反射光。光学图像识别单元65固定到臂71，该臂71通过未示出的驱动装置能在水平和垂直方向移动。具有这样结构的普通检验设备61中，当在其上放置有IC51的固定台57由支撑件63支撑，光...
【技术保护点】
一种用于检验放置在一固定台上的ＩＣ引线的设备，所述设备包括：一配置在所述固定台上方的光学图像识别单元，所述光学图像识别单元用于向所述固定台投射一扫描束和接收从其中的反射光；用于相对于所述固定台移动所述光学图像识别单元的驱动装置；用于根据所述光学图像识别单元的输出信号，检测所述光学图像识别单元的位置的位置检测单元；和用于根据所述位置检测单元的检测信号控制所述驱动装置的控制单元，使得所述光学图像识别单元被定位在所述固定台上方的最佳位置。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】KR 1997-8-30 44867/971．一种用于检验放置在一固定台上的IC引线的设备，所述设备包括一配置在所述固定台上方的光学图像识别单元，所述光学图像识别单元用于向所述固定台投射一扫描束和接收从其中的反射光；用于相对于所述固定台移动所述光学图像识别单元的驱动装置；用于根据所述光学图像识别单元的输出信号，检测所述光学图像识别单元的位置的位置检测单元；和用于根据所述位置检测单元的检测信号控制所述驱动装置的控制单元，使得所述光学图像识别单元被定位在所述固定台上方的最佳位置。2．根据权利要求1所述的用于检验IC引线的设备，其特征在于，所述光学图像识别单元包括一激光束源，用于投射扫描束；和一光敏元件，用于接收从所述IC来的反射光。3．根据权利要求1所述的用于检验IC引线的设备，其特征在于，进一步包括一图像处理器，用于实现由所述光学图像识别单元识别的图像。4．一种用于检验放置在所述固定台上方的IC引线的方法，所述方法包括的步骤有准备配置在所述固定台上方的一光学图像识别单元，所述光学图像识别单元能够相对于所述固定台移动，所述光学图像识别单元用于向所述固定台投射一扫描束和接收从其中来的反射光；当相对于所述固定台移动所述光学图像识别单元时，用所述光学图像识别单元扫描所述固定台；在所述扫描步骤期间，根据所述光学图像识别单元的输出信号，确...
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