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与深亚微米射频工艺兼容的硅光电探测器制造技术

技术编号:3206002 阅读:230 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种与深亚微米射频工艺兼容的硅光电探测器,包括一个p↑[-]型半导体衬底,其特征在于,所述p↑[-]型半导体衬底内设置有一个深n型阱,n型阱设置于所述衬底上,浅沟槽隔离区设置于n型阱中,四条叉指状的P↑[+]型扩散区设置在n型阱上;所述四条叉指状的P↑[+]型扩散区上设置有增透膜层由叉指状的P↑[+]型扩散区与n型阱构成光电二级管的pn结,由n型阱与P↑[+]型保护环构成屏蔽二极管。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光电探测器的结构及制作方法,特别涉及一种与深亚微米射频标准互补金属氧化物半导体(RF_CMOS)工艺完全兼容的硅基光电探测器结构。
技术介绍
目前主流接收机均为化合物光电探测器,它与硅基接收机专用集成电路之间用金属线键合(WIRE BONDING)混合集成。混合集成使探测器附近的表面有凸出的压焊线,限制了光纤耦合的活动范围,并且通常一个压焊盘的面积为100×100μm2,产生了较大的寄生电容。本专利技术不仅可以实现光接收机全硅化的单片集成,而且可以和高速CMOS电路,如射频集成电路(RFIC)实现全兼容。这使得光接收机的功能将更加灵活,接收模块的器件成本和封装成本会大幅降低,去掉压焊线后在光纤耦合时耦合会更容易,能降低耦合成本,容易工业化。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服现有技术中存在的不足,提供一种高速且与深亚微米射频_互补金属氧化物半导体(RF_CMOS)工艺兼容的硅光电探测器。本专利技术与深亚微米射频工艺兼容的硅光电探测器,包括一个p-型半导体衬底,其特征在于,所述p-型半导体衬底内设置有一个深n型阱,n型阱设置于所述衬底上,浅沟槽隔离区设置于n型阱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种与深亚微米射频工艺兼容的硅光电探测器,包括一个p-型半导体衬底,其特征在于,所述p-型半导体衬底内设置有一个深n型阱,n型阱设置于所述衬底上,浅沟槽隔离区设置于n型阱中,四条叉指状的P+型扩散区设置在n型阱上;所述四条叉指状的P+型扩散区上设置有增透膜层由叉指状的P+型扩散区与n型阱构成光电二级管的pn结,由n型阱与P+型保护环构成...

【专利技术属性】
技术研发人员:毛陆虹李炜陈弘达陈永权张晓潇
申请(专利权)人:天津大学
类型:发明
国别省市:

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