非晶硅平板探测器及其图像处理方法、DR设备技术

本发明专利技术提供一种非晶硅平板探测器及其图像处理方法、DR设备，所述非晶硅平板探测器应用于自动曝光探测模式下，其图像处理方法至少包括：获取曝光响应延迟时的曝光丢失信息；采集完成曝光后的原始亮场图像；利用所述曝光丢失信息对所述原始亮场图像进行丢失信息补偿。本发明专利技术在曝光感应延迟时，通过补偿初始曝光行和/或过渡带上被清空的数据信息，保证完整的曝光信息落入曝光窗口内，实现全信息的采集。另外，本发明专利技术在完成曝光后，通过拼图的方式采集原始亮场图像时，保证采集的每一行数据线上的像素点的曝光窗口一致，不会出现曝光行上下分界的阴阳现象，使得采集到的图像可以正确、有效地进行后续校正处理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及探测器
，特别是涉及一种非晶硅平板探测器及其图像处理方法、DR设备。
技术介绍
数字化X射线摄影(Digital Radiography，简称DR)，是上世纪90年代发展起来的X射线摄影新技术，以其更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等显著优点，成为数字X射线摄影技术的主导方向，并得到世界各国的临床机构和影像学专家认可。DR的技术核心是平板探测器，平板探测器是一种精密且贵重的设备，对成像质量起着决定性的作用。平板探测器是DR系统中X射线的接收装置。在DR系统中，高压发生器和球管控制X射线的输出，X射线穿过物体并发生衰减，衰减后的X射线经过平板探测器后转变为可见光后，并经过光电转换变为电信号，再经模拟/数字转换器(Analog/Digital Converter，ADC)转为数字信号，输入到计算机处理。平板探测器根据能量转换的方式可以分为两种：间接转换平板探测器(indirect FPD)和直接转换平板探测器(direct FPD)。非晶硅平板探测器为间接转换平板探测器，其基本结构为表面是一层闪烁体材料(碘化铯或硫氧化)，再下一层是以非晶体硅为材料的光电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非晶硅平板探测器的图像处理方法，所述非晶硅平板探测器应用于自动曝光探测模式下，其特征在于，所述非晶硅平板探测器的图像处理方法至少包括：获取曝光响应延迟时的曝光丢失信息；采集完成曝光后的原始亮场图像；利用所述曝光丢失信息对所述原始亮场图像进行丢失信息补偿。

【技术特征摘要】
1.一种非晶硅平板探测器的图像处理方法，所述非晶硅平板探测器应用于自动曝光探测模式下，其特征在于，所述非晶硅平板探测器的图像处理方法至少包括：获取曝光响应延迟时的曝光丢失信息；采集完成曝光后的原始亮场图像；利用所述曝光丢失信息对所述原始亮场图像进行丢失信息补偿。2.根据权利要求1所述的非晶硅平板探测器的图像处理方法，其特征在于，所述的获取曝光响应延迟时的曝光丢失信息的方法为：提供一原始本底暗场图像；在所述非晶硅平板探测器完成曝光前的清空动作时，缓存部分本底暗场图像，通过将所述缓存的部分本底暗场图像与所述原始本底暗场图形之间进行本底暗场图像作差，以提取曝光响应延迟时初始曝光行和/或过渡带上被清空的数据信息，从而获取曝光响应延迟时的曝光丢失信息。3.根据权利要求2所述的非晶硅平板探测器的图像处理方法，其特征在于，所述的提供一原始本底暗场图像的方法为：在所述非晶硅平板探测器或辅助传感器探测到曝光信号之前，采集一帧完整的距离当前曝光最近的暗场图像，作为所述原始暗场本底图像；或者，在所述非晶硅平板探测器持续平稳进行清空动作时，预先采集一本底暗场图像，在需要提供所述原始本底暗场图像时，直接调用所述预先采集的本底暗场图像。4.根据权利要求2所述的非晶硅平板探测器的图像处理方法，其特征在于，所述缓存的部分本底暗场图像包括从第一行数据线到当前曝光行的暗场信息，或者从当前曝光行前的预设行数的数据线到当前曝光行的暗场信息。5.根据权利要求2所述的非晶硅平板探测器的图像处理方法，其特征在于，将所述缓存的部分本底暗场图像与所述原始本底暗场图形之间进行本底暗场图像作差，具体方法为：根据所述缓存的部分本底暗场图像的尺寸大小，选取与其尺寸相同的所述原始本底暗场图像的相应部分；将所述缓存的部分本底暗场图像减去所述原始本底暗场图像的相应部分，以得到曝光响应延迟时初始曝光行和/或过渡带上被清空的数据信息...

【专利技术属性】
技术研发人员：王锋，张楠，金利波，
申请(专利权)人：上海奕瑞光电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31