一种检测装置的底座及其加工方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种检测装置的底座，包括多个导电段以及多个绝缘段，且每两个导电段之间连接一个绝缘段；还包括显示灯，多个导电段通过控制电路控制显示灯；控制电路包括与门、电源以及两个光耦，两个光耦的两个输入端分别与电源的正极以及端部的导电段连接，电源的负极与中部的导电段连接，两个光耦的第一输出端与相互连接后接地，两个光耦的第二输出端与与门的两个输入端连接，与门的输出端与显示灯连接后接地；还提供了一种加工方法，用于加工上述底座，包括轴线分割、底座加工、电导通检测以及形位公差检测等步骤。本发明专利技术不仅提高了工作效率，且仅凭借人工判断可能会判断失误，因此本方案还减小了后续测量过程中的误差。方案还减小了后续测量过程中的误差。方案还减小了后续测量过程中的误差。

【技术实现步骤摘要】
一种检测装置的底座及其加工方法


[0001]本专利技术涉及检测装置
，具体涉及一种检测装置的底座及其加工方法。

技术介绍

[0002]飞机制造流程中，涉及到部分大孔(一般直径≥150mm)的孔径测量，目前采用的测量方式一般为单体内径千分尺，在使用单体内径千分尺测量的过程中，需要人工反复测量，对读数进行记录，测量时需要人为判断测量工具是否已处于轴向最小、径向最大状态。依靠人工判断直径方向，使测量效率较低且误差较大。特别是在飞机大部件对接交点孔精加工后的测量，还存在测量环境复杂等特点，导致现有测量工具难以体现测量效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术针对现有的测量装置在人为判断测量工具是否已处于轴向最小、径向最大状态时效率较低的问题，提出了一种检测装置的底座及其加工方法，以减少人为判断过程，具体技术方案如下：
[0004]一种检测装置的底座，包括n+1个导电段以及n个绝缘段，且每两个所述导电段之间连接一个绝缘段，所述导电段为圆柱体，n≥2，且n为偶数；
[0005]还包括显示装置，所述显示装置包括显示灯，n+1个所述导电段通过控制电路控制所述显示灯的状态；
[0006]所述控制电路包括与门、电源以及两个光耦，两个所述光耦的两个输入端分别与所述电源的正极以及端部的导电段连接，所述电源的负极与中部的导电段连接，两个所述光耦的第一输出端与相互连接后接地，两个所述光耦的第二输出端与所述与门的两个输入端连接，与门的输出端与所述显示灯连接后接地；当所述底座的侧壁与被测孔的内壁相切时，所述与门的两个输入端的输出均为1，显示灯亮。
[0007]可选的，所述导电段侧壁用于抵接被测孔内壁的第一测量点，所述测量前端远离导电段的一端设置有测量触头，所述测量触头用于抵接被测孔内壁的第二测量点，所述第一测量点和所述第二测量点关于所述被测孔的轴线中心对称；
[0008]其中一个所述导电段上设置有支撑杆，所述支撑杆远离所述导电段的端部连接有伸缩杆所述伸缩杆内设置有用于测量伸缩杆伸缩量的传感模块；
[0009]所述显示装置还包括显示屏以及数据处理模块，所述数据处理模块用于将接收到的信号转化为数字信号；
[0010]所述传感模块将采集到的信号传递给所述数据处理模块，所述数据处理模块将接收到的信号转化为数字信号，并将所述数字信号传递给所述显示屏，所述显示屏用于显示数字信息。
[0011]可选的，所述导电段的数量为3个，所述支撑杆与位于中部的所述导电段的侧壁可拆卸连接。
[0012]可选的，所述绝缘段的轴向长度大于2mm。
[0013]一种加工方法，用于加工上述检测装置的底座，包括以下步骤：
[0014]轴线分割：根据被测孔的轴向长度将检测装置的底座的轴线分割为多个导电段以及多个绝缘段；
[0015]底座加工：连接n+1个所述导电段以及n个所述绝缘段，加工成所述底座，n≥2；
[0016]电导通检测：使用导电检测装置对加工后的所述底座进行导电检测实验；
[0017]形位公差检测：检测加工后所述底座的形位公差，包括所述底座的表面粗糙度、外圆圆柱度同轴度以及外圆两端面与轴线的垂直度；
[0018]电导通检测和形位公差检测的结果均符合要求后，底座加工完成。
[0019]可选的，所述轴线分割包括：
[0020]测量被测孔的轴向长度L；选择所述底座的总长度H，所述H小于L；将所述底座分成N个导电段以及N
‑
1个绝缘段。
[0021]可选的，所述导电段为3个；
[0022]所述导电检测装置包括第一灯泡、电源以及第二灯泡，左端所述导电段与所述第一灯泡正极连接，所述第一灯泡的负极与所述电源的负电极连接，所述电源的正电极与中部所述导电段连接；右端所述导电段与所述第二灯泡的正极连接，所述第二灯泡的负极与所述电源的负电极连接。
[0023]可选的，所述绝缘段的直径与导电段的直径之比不大于0.9。
[0024]可选的，所述导电段的长径比的范围为1～2；所述绝缘段的长径比的范围为0.1～0.2；所述底座的长径比的范围为0.5～1.6。
[0025]可选的，所述形位公差具体为：表面粗糙度≤Ra0.20，外圆圆柱度≤0.01mm，同轴度≤0.002mm，外圆两端面与轴线的垂直度≤0.02mm。
[0026]本专利技术具有以下有益效果：
[0027]1.本申请的实施例1提供了一种检测装置的底座，包括多n+1个导电段以及多n个绝缘段，n≥2控制电路包括与门、电源以及两个光耦，两个光耦的两个输入端分别与电源的正极以及端部的导电段连接，电源的负极与中部的导电段连接，两个光耦的第一输出端与相互连接后接地，两个光耦的第二输出端与与门的两个输入端连接，与门的输出端与显示灯连接后接地；当与门的两个输入端的输出为1时，显示灯亮。在对测量装置的位置进行校正至显示灯显示绿色后，才能使用整个测量装置测量被测孔的内径，仅底座与被测孔的内壁相切才能保证后续测量结果是被测孔的直径，否则测量前端相对于被测孔的轴线为倾斜状态，测量出的结果偏小。本方案中无需人为判断测量工具是否已处于轴向最小、径向最大状态，而依靠电子设备对底座外侧与被测孔内壁是否相切进行判断，不仅提高了工作效率，且仅凭借人工判断可能会判断失误，因此本方案还减小了后续测量过程中的误差。
[0028]2.本申请的实施例2中提供了一种加工方法，用于加工上述检测装置的底座，包括轴线分割、底座加工、电导通检测以及形位公差检测等步骤，轴线分割是为了选择出最适合被测孔的轴向长度的底座方案；底座加工具体包括导电段半精加工、绝缘段精加工、粘接导电段和绝缘段以及粘接后底座精加工这几个步骤，使底座的粗糙度、同轴度、垂直度以及底座长度符合实际使用需求；电导通检测时为了保证底座加工完成后能正常使用，形位公差检测是为了进一步保证底座的精度是否符合要求。通过上述加工方法保证了底座的精度，进而减小了测量时的误差。
附图说明
[0029]图1为本申请中一种检测装置的底座的结构示意图；
[0030]图2为本申请中一种检测装置的底座(包含测量前端)的结构示意图；
[0031]图3为本申请中一种加工方法的流程图；
[0032]图4为本申请中一种检测装置的底座中显示灯的控制电路的原理图；
[0033]附图标记：1、底座；11、导电段；12、绝缘段；2、测量前端；21、第一连接杆；211、测量触头；22、显示装置；221、显示灯；222、测量开关；23、第二连接杆；24、支撑杆。
具体实施方式
[0034]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术的说明书附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计，在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。所举实例只用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置的底座，其特征在于，包括n+1个导电段以及n个绝缘段，且每两个所述导电段之间连接一个绝缘段，所述导电段为圆柱体，n≥2，且n为偶数；还包括显示装置，所述显示装置包括显示灯，n+1个所述导电段通过控制电路控制所述显示灯的状态；所述控制电路包括与门、电源以及两个光耦，两个所述光耦的第一输入端均与所述电源的正极连接，两个所述光耦的第二输入端分别与两端的导电段连接，所述电源的负极与中部的导电段连接，两个所述光耦的第一输出端与相互连接后接地，两个所述光耦的第二输出端与所述与门的两个输入端连接，所述与门的输出端与所述显示灯连接后接地；当所述底座的侧壁与被测孔的内壁相切时，所述与门的两个输入端的输出均为1，显示灯亮。2.根据权利要求1所述的一种检测装置的底座，其特征在于，其中一个所述导电段上设置有支撑杆，所述支撑杆远离所述导电段的端部连接有伸缩杆，所述伸缩杆内设置有用于测量伸缩杆伸缩量的传感模块；所述显示装置还包括显示屏以及数据处理模块，所述数据处理模块用于将接收到的信号转化为数字信号；所述传感模块将采集到的信号传递给所述数据处理模块，所述数据处理模块将接收到的信号转化为数字信号，并将所述数字信号传递给所述显示屏，所述显示屏用于显示数字信息。3.根据权利要求2所述的一种检测装置的底座，其特征在于，所述导电段的数量为3个，所述支撑杆与位于中部的所述导电段的侧壁可拆卸连接。4.根据权利要求1所述的一种检测装置的底座，其特征在于，所述绝缘段的轴向长度大于2mm。5.一种加工方法，其特征在于，用于加工权利要求1
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4中任意一项所述的检测装置的...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈代鑫，周力，韩利亚，缑建杰，
申请(专利权)人：成都飞机工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：