半导体器件及其驱动方法技术

半导体器件，包括每一个都包括多个子像素的多个像素，电源线以及用于操作多个像素的多个信号线，用于将信号输出到多个信号线的驱动电路，用于控制驱动电路的信号输入电路，在检测的电流值显示异常值的情况下确定像素是否具有正常状态、缺损亮点或者点缺陷，从而将补偿信号输出到信号输入电路的补偿电路，以及检测当每个子像素点亮时流过电源线的电流值的电流值检测电路。这样，包括当点亮时显示异常电流值的子像素的像素由从驱动电路输出的信号补偿。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种具有以矩阵排列的多个像素的，半导体器件使用输入到多个像素的每个的视频信号(也称作图像信号或画面信号)显示图像。特别地，本专利技术涉及一种具有检测和补偿将在每列中引起的缺损像素的功能的。
技术介绍
提出了一种驱动方法，其中能够在显示屏上显示的灰度级通过在一个像素中提供多个子像素而增加(参考文献1日本专利公开Hei11-73158号)。例如，在参考文献1中，一个像素由多个子像素构成，从而可以仅使用一个子像素发光和不发光表示的灰度级(在下文也称作时间灰度级方法)可以与可以仅使用多个子像素的组合表示的灰度级组合(在下文也称作面积灰度级方法，并且这种组合在下文也称作面积/时间灰度级方法)。因此，在参考文献1中公开的像素可以增加使用面积/时间灰度级方法表示的灰度级。也提出了一种驱动方法，其中每个像素中发光元件的特性被检测以补偿发光元件的退化。例如，提出这种显示设备和驱动方法，如果作为每个像素中发光元件特性的检测结果存在任何退化的发光像素，发光元件的亮度使用输入到每个像素的视频信号补偿，从而补偿由发光元件特性的变化而引起的图像老化(幻影)等(参考文献2日本专利公开2003-195813号)。但是，在一个像素具有多个子像素的像素构造的常规驱动方法中，存在一个问题，即如果像素在发货之前具有缺陷，不能采取任何特殊措施，这导致较低的成品率。此外，甚至当显示设备开始使用之后像素具有缺陷，不能采取任何特殊措施。
技术实现思路
考虑到前述，本专利技术的目的在于提供一种，其中缺损像素可以与正常像素类似的方法驱动。本专利技术的半导体器件包括多个像素，每个具有多个子像素；电源线和用于操作多个像素的多个信号线；用于将信号输出到多个信号线的驱动电路；用于控制驱动电路的信号输入电路；在检测的电流值显示异常值的情况下确定像素是否具有正常状态、缺损亮点或者点缺陷(例如如果缺损亮点出现，电流值没有变化的情况，或者如果点缺陷等因发光元件的阳极和阴极之间的短路而出现，电流值增加的情况)，从而将补偿信号输出到信号输入电路的补偿电路；以及检测当每个子像素点亮时流过电源线的电流值的电流值检测电路。这样，包括当点亮时显示异常电流值的子像素的像素由从驱动电路输出的信号补偿。作为补偿视频信号的方法，假设一个子像素具有点缺陷，例如，补偿以这种方式执行，即灰度级用除了缺损子像素之外的子像素表示。因此，低灰度级和中灰度级可以表示，虽然高灰度级不能表示。同时，假设一个子像素具有缺损亮点，补偿以这种方式执行，即灰度级用除了缺损子像素之外的子像素表示。因此，中灰度级和高灰度级可以表示，虽然低灰度级不能表示。根据上述驱动方法，甚至当存在缺陷例如缺损亮点和点缺陷时，某一级别的灰度级可以表示并且缺损像素可以变得较不引人注意，只要有效矩阵显示设备提供有多个子像素，以及缺损像素的检测电路和补偿电路。根据本专利技术一方面的半导体器件包括多个像素，每个具有多个子像素；电源线和用于操作多个像素的多个信号线；用于将信号输出到多个信号线的驱动电路；用于控制驱动电路的信号输入电路；在检测的电流值显示异常值的情况下确定像素是否具有正常状态、缺损亮点或者点缺陷(例如如果缺损亮点出现，电流值没有变化的情况，或者如果点缺陷等因发光元件的阳极和阴极之间的短路而出现，电流值增加的情况)，从而将补偿信号输出到信号输入电路的补偿电路；以及检测当每个子像素点亮时流过电源线的电流值的电流值检测电路。这样，包括当点亮时显示异常电流值的子像素的像素由从驱动电路输出的信号补偿。作为补偿视频信号的方法，假设一个子像素具有点缺陷，例如，补偿以这种方式执行，即灰度级用除了缺损子像素之外的子像素表示。因此，低灰度级和中灰度级可以表示，虽然高灰度级不能表示。同时，假设一个子像素具有缺损亮点，补偿以这种方式执行，即灰度级用除了缺损子像素之外的子像素表示。因此，中灰度级和高灰度级可以表示，虽然低灰度级不能表示。根据上述驱动方法，甚至当存在缺陷例如缺损亮点和点缺陷时，某一级别的灰度级可以表示并且缺损像素可以变得较不引人注意，只要有效矩阵显示设备提供有多个子像素，以及缺损像素的检测电路和补偿电路。注意半导体器件意思是包括晶体管或非线性元件的器件。另外，并不是所有晶体管或非线性元件需要形成在SOI衬底、石英衬底、玻璃衬底、树脂衬底等上。根据本专利技术一方面的半导体器件包括源极驱动器；栅极驱动器；第一源极信号线；第二源极信号线；栅极信号线；电源线；像素；第一子像素；第二子像素；第一TFT；第二TFT；第三TFT；第四TFT；具有一对电极的第一电容器；具有一对电极的第二电容器；具有一对电极的第一发光元件；具有一对电极的第二发光元件；以及对应于具有该对电极的第一发光元件的另一个电极，也对应于具有该对电极的第二发光元件的另一个电极的反电极。源极驱动器将视频信号输出到第一源极信号线和第二源极信号线；栅极驱动器扫描栅极信号线；以及电源线电连接到第一TFT的源极或漏极的一个以及第二TFT的源极或漏极的一个；第一TFT的源极或漏极的另一个电连接到第一发光元件的一个电极；第二TFT的源极或漏极的另一个电连接到第二发光元件的一个电极；第一TFT的栅极电连接到第一电容器的一个电极以及第三TFT的源极或漏极的一个；第二TFT的栅极电连接到第二电容器的一个电极以及第四TFT的源极或漏极的一个；第一电容器的另一个电极和第二电容器的另一个电极电连接到电源线；第三TFT的源极或漏极的另一个电连接到第一源极信号线；第四TFT的源极或漏极的另一个电连接到第二源极信号线；以及第三TFT的栅极和第四TFT的栅极电连接到栅极信号线。因为第三TFT和第四TFT的每个用作开关元件，它可以用电气开关或机械开关代替只要它可以控制电流。作为开关元件，晶体管、二极管以及由它们构成的逻辑电路中任何一个可以使用。此外，第一TFT和第二TFT也可以用作开关元件。在这种情况下，如果第一TFT和第一发光元件的操作点以及第二TFT和第二发光元件的操作点被设置以允许第一TFT和第二TFT在线性区域内操作，第一TFT和第二TFT的阈电压的变化将不影响显示；因此，可以提供具有更高图像质量的显示设备。根据本专利技术一方面的半导体器件包括源极驱动器；栅极驱动器；第一源极信号线；第二源极信号线；栅极信号线；电源线；像素；第一子像素；第二子像素；第一TFT；第二TFT；第三TFT；第四TFT；具有一对电极的第一电容器；具有一对电极的第二电容器；具有一对电极的第一发光元件；具有一对电极的第二发光元件；以及对应于具有该对电极的第一发光元件的另一个电极，也对应于具有该对电极的第二发光元件的另一个电极的反电极。源极驱动器将视频信号输出到第一源极信号线和第二源极信号线；栅极驱动器扫描栅极信号线；电源线电连接到第一TFT的源极或漏极的一个以及第二TFT的源极或漏极的一个；第一TFT的源极或漏极的另一个电连接到第一发光元件的一个电极；第二TFT的源极或漏极的另一个电连接到第二发光元件的一个电极；第一TFT的栅极电连接到第一电容器的一个电极以及第三TFT的源极或漏极的一个；第二TFT的栅极电连接到第二电容器的一个电极以及第四TFT的源极或漏极的一个；第一电容器的另一个电极和第二电容器的另一个电极电连接到电源线；第三TFT的源极或漏本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体器件，包括：多个像素；以及驱动电路，其中多个像素的每个包括多个子像素，其中多个子像素的每个包括发光元件和发光元件的亮度确定电路，其中亮度确定电路由驱动电路控制，以及其中具有缺损子像素的像素由驱动电路以这种方式补偿，使得除缺损子像素之外的子像素用于表示灰度级。

【技术特征摘要】
JP 2005-7-4 2005-1946841.一种半导体器件，包括多个像素；以及驱动电路，其中多个像素的每个包括多个子像素，其中多个子像素的每个包括发光元件和发光元件的亮度确定电路，其中亮度确定电路由驱动电路控制，以及其中具有缺损子像素的像素由驱动电路以这种方式补偿，使得除缺损子像素之外的子像素用于表示灰度级。2.一种半导体器件，包括多个像素；驱动电路；检测电路；补偿电路；以及用于将信号输入到驱动电路的信号输入电路，其中多个像素的每个包括多个子像素，其中多个子像素的每个包括发光元件和发光元件的亮度确定电路，其中亮度确定电路由驱动电路控制；其中检测电路检测包含在缺损子像素中的发光元件中流动的电流的值，其中补偿电路基于由检测电路获得的结果产生补偿信号，以及其中具有缺损子像素的像素由驱动电路以这种方式补偿，使得除缺损子像素之外的子像素用于表示灰度级。3.根据权利要求2的半导体器件，其中检测电路是包括电阻器、开关元件和模拟-数字转换电路的电流值检测电路，其中电流值检测电路通过电源线电连接到发光元件的一个电极，其中电流值检测电路电连接在发光元件的一个电极和电源之间，其中电阻器的一个端子电连接到电源线和开关元件的一个端子，其中电阻器的另一个端子电连接到发光元件的另一个电极，开关元件的另一个端子，以及模拟-数字转换电路的输入，其中当检测到多个子像素中的缺损子像素时开关元件关闭，而在正常驱动时开关元件导通，以及其中当检测到多个子像素中的缺损子像素时，电压因流到电阻器中的发光元件的电流而降低的电源线的电势由电连接到电阻器另一个端子的模拟-数字转换电路转换成数字值。4.根据权利要求2的半导体器件，其中检测电路是包括电阻器、开关元件和模拟-数字转换电路的电流值检测电路，其中电流值检测电路通过电源线电连接到发光元件的一个电极，其中电流值检测电路电连接在发光元件的另一个电极和电源之间，其中电阻器的一个端子电连接到电源线和开关元件的一个端子，其中电阻器的另一个端子电连接到发光元件的另一个电极，开关元件的另一个端子，以及模拟-数字转换电路的输入，其中当检测到多个子像素中的缺损子像素时开关元件关闭，而在正常驱动时开关元件导通，以及其中当检测到多个子像素中的缺损子像素时，电压因流到电阻器中的发光元件的电流而降低的电源线的电势由电连接到电阻器另一个端子的模拟-数字转换电路转换成数字值。5.根据权利要求3的半导体器件，其中电阻器的另一个端子以及开关元件的另一个端子通过用于减少噪声的降噪电路电连接到模拟-数字转换电路。6.根据权利要求4的半导体器件，其中电阻器的另一个端子以及开关元件的另一个端子通过用于减少噪声的降噪电路电连接到模拟-数字转换电路。7.根据权利要求3的半导体器件，其中电阻器的另一个端子以及开关元件的另一个端子通过放大器电路电连接到模拟-数字转换电路。8.根据权利要求3的半导体器件，其中电阻器的另一个端子以及开关元件的另一个端子通过放大器电路电连接到模拟-数字转换电路。9.根据权利要求7的半导体器件，其中电阻器的另一个端子以及开关元件的另一个端子通过用于减少噪声的降噪电路电连接到放大器电路。10.根据权利要求8的半导体器件，其中电阻器的另一个端子以及开关元件的另一个端子通过用于减少噪声的降噪电路电连接到放大器电路。11.根据权利要求2的半导体器件，其中检测电路是包括选择器电路、恒流源和模...

【专利技术属性】
技术研发人员：梅崎敦司，木村肇，山崎舜平，
申请(专利权)人：株式会社半导体能源研究所，
类型：发明
国别省市：JP[日本]