【技术实现步骤摘要】
本专利技术是一种芯片测试装置，特别是一种利用反馈信号判断 测试结果的芯片测试装置。
技术介绍
当芯片制造完成后，会对芯片进行测试，用以判断芯片的运 作是否正确。然而如果要对芯片进行完整的测试，则需要的时间 非常多，因此芯片测试部分通常是对芯片输入一测试信号，并从 脚位的输出信号判断是否正确。图1为 一 现有的芯片测试装置的方块示意图。芯片测试装置ll内具有多个测试单元15，每一测试单 元15包括一触发器(flip-flop) 12以及一与门13。举例来说触发 器12接收芯片中一脚位的输出信号，其输出端耦接一显示装置14 以及一与门13,其中与门13的一输入端接收一控制信号S1，与门 13的输出端耦接至一次级的与门的一输入端。当芯片测试装置ll 运作时，芯片的脚位被设定输出一逻辑高电平的信号，因此触发 器12输出的信号亦为逻辑高电平的信号。此时控制信号S1亦被设 定为逻辑高电平信号，因此与门13的输出信号亦为逻辑高电平信 号。利用这样的测试电路，若信号S2不为逻辑高电平信号，则表 示芯片中至少有一个脚位的输出信号错误，由于无法得知哪个脚 位的输出信号发生错误，因此...
【技术保护点】
一种芯片测试装置，其特征在于，具有多个测试单元，所述芯片测试装置包括：一选择器，受控于一控制信号，具有一第一输入端、一反馈输入端以及一第一输出端；一触发器，耦接于该选择器，具有一第二输入端，一时脉输入端以及一第二输出端，其中该第二输入端耦接该第一输出端，该时脉输入端接收一时脉信号，该触发器是用以于该第二输出端输出一输出数据；一第一缓冲器，耦接于该触发器，用以将该输出数据转换为一高电压数据并加以输出；以及一第二缓冲器，耦接该第一缓冲器，用以将该高电压数据转换为一低电压数据，并传送至该反馈输入端。
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，具有多个测试单元，所述芯片测试装置包括一选择器，受控于一控制信号，具有一第一输入端、一反馈输入端以及一第一输出端；一触发器，耦接于该选择器，具有一第二输入端，一时脉输入端以及一第二输出端，其中该第二输入端耦接该第一输出端，该时脉输入端接收一时脉信号，该触发器是用以于该第二输出端输出一输出数据；一第一缓冲器，耦接于该触发器，用以将该输出数据转换为一高电压数据并加以输出；以及一第二缓冲器，耦接该第一缓冲器，用以将该高电压数据转换为一低电压数据，并传送至该反馈输入端。2. 根据权利要求l所述的芯片测试装置，其特征在于，更包 括一闩锁器，耦接于该触发器及该第一緩冲器，用以暂存该输出 数据。3. 根据权利要求l所述的芯片测试装置，其特征在于，该控 制信号用以控制该第一输出端输出该第一输入端的信号或该反々赍 输入端的信号。4. 根据权利要求l所述的芯片测试装置，其特征在于，该第 一緩冲器与该第二緩冲器由两个反相器组成。5. 根据权利要求l所述的芯片测试装置，其特征在于，该触 发器为D型触发器，RS型触发器，或JK型触发器。6. 根据权利要求l所述的芯片测试装置，其特征在于，另包 含一显示装置，耦接该第一緩冲器，用以显示该高电压数据。7. 根据权利要求6所述的芯片测试装置，其特征在于，当该 高电压数据为逻辑高电平时，该显示装置导通，当该高电压数据 为逻辑低电平时，该显示装置不导通。8. —种芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统包括 一测试装置，具有多个测试单元，所述测试单元包括 一选择器，受控于一控制信号，具有一第一输入端、 一反馈输入端以及一第一输出端；一触发器，耦接于该...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈彦文，周彦云，
申请(专利权)人：普诚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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