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本发明提供一种芯片测试装置与系统，具有多个测试单元，包括一选择器、一触发器、一第一缓冲器、一显示装置以及一第二缓冲器。该选择器，受控于一控制信号，具有一第一输入端、一反馈输入端以及一第一输出端。该触发器，具有一第二输入端，耦接该第一输出端，...
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