一种测量LDI内层对位精度的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种测量LDI内层对位精度的装置，包括基座，基座上设有XYZ移动台、由该XYZ移动台控制移动的吸盘台面和下对准组件，吸盘台面的一端设有能够移动的标定靶点，基座上还设有支架，支架的横梁上设有第一相机和能够水平移动的第二相机，吸盘台面的边缘间隔设有多个靶点光源；本实用新型专利技术采用双向对摄抓点的视觉对位方法，抓取内层板上下两面的图形点。图形点由LDI曝光在内层板AB面再经显影蚀刻而得，A面和B面的图形点理论同心。先确认好第二相机和下对准组件相对于LDI曝光系统坐标系的旋转矩阵，再让第二相机和下对准组读取同一靶点，获取上下相机的同轴位置。获取上下相机的同轴位置。获取上下相机的同轴位置。

【技术实现步骤摘要】
一种测量LDI内层对位精度的装置


[0001]本技术涉及直接成像设备对位技术，特别涉及一种测量LDI内层对位精度的装置。

技术介绍

[0002]目前印刷电路板(PCB)随着电子产品的兴起越来越精密，对多层线路板的需求也逐渐提升。多层线路板的良率大程度依赖于内层板的制作精度。在内层制造工艺中，最重要工艺之一是菲林曝光。该工艺存在菲林涨缩、对位精度难以再度提升、打样流程繁琐等众多缺点，已逐渐由激光直写曝光(LDI)工艺取代。
[0003]LDI在机构、软件、成本方面存在限制，目前还未能突破直接双面曝光，造成内层板需要翻面曝光。内层板双面没有孔和靶点，给双面对准带来挑战。在内层曝光时，先曝其中一面(A面)，在另一面(B面)边料上打上靶点；当翻板到B面曝光时，可用对位系统对靶点识别，实现双面对准。然而机构台面、打靶点、翻板等皆会引入误差，这些误差大多为系统误差，可采用补偿的方式对其减小。本技术提供了一种测量LDI内层对位精度的方法及其实现的装置，可以随时方便快捷地获取误差补偿值，减弱机构、靶点等对内层对位的影响。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是针对现有技术的上述缺陷，提供一种测量LDI内层对位精度的装置。
[0005]为解决现有技术的上述缺陷，本技术提供的技术方案是：一种测量LDI内层对位精度的装置，包括基座，所述基座上设有XYZ移动台、由该XYZ移动台控制移动的吸盘台面和下对准组件，所述吸盘台面的一端设有能够移动的标定靶点，所述基座上还设有支架，所述支架的横梁上设有第一相机和能够水平移动的第二相机，所述吸盘台面的边缘间隔设有多个靶点光源；
[0006]将内层板放置在所述吸盘台面上，内层板的第一面朝上，激光直接对内层板的第一面图形曝光的同时、所述吸盘台面上的靶点光源对内层板的第二面进行打靶；
[0007]内层板的第二面图形曝光时、内层板的第二面朝上放置在所述吸盘台面上，所述第一相机、第二相机和下对准组件对内层板进行对位后、再由所述激光直接对内层板的第二面图形曝光。
[0008]作为本技术测量LDI内层对位精度的装置的一种改进，所述下对准组件包括下CCD相机、透反棱镜、远心镜头和反射棱镜，所述下CCD相机与所述远心镜头之间设置所述透反棱镜，所述反射棱镜设置在所述远心镜头上。
[0009]作为本技术测量LDI内层对位精度的装置的一种改进，所述透反棱镜包括有反射面和透射面，所述透反棱镜倾斜45度置于一立方体斜镜座上，所述透反棱镜的表面镀有透反膜，所述透反膜对λ<450nm光波透射，对λ>450nm的光波反射，这里的λ为光波。
[0010]作为本技术测量LDI内层对位精度的装置的一种改进，所述吸盘台面的一端
设有两个对称设置的标定靶点安装板，所述标定靶点安装板通过直线滑轨和滑块连接所述标定靶点，所述标定靶点安装板的端部设有移动气缸，所述移动气缸能够推动所述标定靶点沿着所述直线滑轨移动，所述标定靶点移动寻找与所述下对准组件的同轴位置。
[0011]作为本技术测量LDI内层对位精度的装置的一种改进，内层板进行第一面和第二面曝光时、均需进行标定靶点的对位，所述标定靶点的对位是标定靶点对准所述第二相机和下对准组件的位置，先确认好第二相机和下对准组件相对于LDI曝光系统坐标系的旋转矩阵，再让第二相机和下对准组读取同一靶点，获取上下相机的同轴位置，当所述第二相机、标定靶点和下对准组件三者处于同轴状态下，激光才对内层板进行第一面和第二面曝光；
[0012]所述第二相机通过伺服电机带动同步轮同步带的方式驱动、使所述第二相机能够沿着直线滑轨上移动寻找不同位置的标定靶点。
[0013]作为本技术测量LDI内层对位精度的装置的一种改进，将已曝光好的内层板重新置于所述吸盘台面上，由第二相机和下对准组件获取视场内的靶点图形位置，经与内层板的第一面和第二面的预设位置进行比较，获取到内层对位误差。
[0014]作为本技术测量LDI内层对位精度的装置的一种改进，所述激光波段均为紫外波段，靶点光源所用的照明光源为红光、绿光或红外光。
[0015]作为本技术测量LDI内层对位精度的装置的一种改进，所述XYZ移动台包括X轴移动模组、Y轴移动模组和Z轴移动模组，所述Y轴移动模组由X轴移动模组控制X向移动，Z轴移动模组由Y轴移动模组控制Y向移动，Z轴移动模组控制整个吸盘台面的升降；
[0016]所述X轴移动模组、Y轴移动模组和Z轴移动模组均包括由伺服电机、传动丝杆和滑轨组件，X轴移动模组通过滑轨组件与Y轴移动模组连接，Y轴移动模组通过滑轨组件与Z轴移动模组连接。
[0017]与现有技术相比，本技术的优点是：本技术采用双向对摄抓点的视觉对位方法，抓取内层板上下两面的图形点。图形点由LDI曝光在内层板AB面再经显影蚀刻而得，A面和B面的图形点理论同心。先确认好第二相机和下对准组件相对于LDI曝光系统坐标系的旋转矩阵，再让第二相机和下对准组读取同一靶点，获取上下相机的同轴位置。将所述内层板重置于吸盘台面上测量，先由第二相机确认内层板上的阵列图形点相对于系统的旋转矩阵，即可将第二相机和下对准组件算出的距离偏差转换为内层对位在X、Y轴方向上的补偿值，解决了内层对位精度测量问题，同时提升了内层曝光双面对准度。
附图说明
[0018]下面就根据附图和具体实施方式对本技术及其有益的技术效果作进一步详细的描述，其中：
[0019]图1是本技术结构示意图。
[0020]图2是本技术吸盘台面结构示意图。
[0021]图3是本技术第二相机和下对准组件处于同轴位置的结构示意图。
[0022]图4是本技术旋转矩阵坐标示意图。
[0023]图5是本技术内层板两面同心后结构示意图。
[0024]附图标记名称：1、基座2、XYZ移动台3、吸盘台面4、下对准组件5、标定靶点6、支架
7、横梁8、第一相机9、第二相机10、靶点光源41、下CCD相机42、透反棱镜43、远心镜头44、反射棱镜31、标定靶点安装板32、移动气缸。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0027]另外，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量LDI内层对位精度的装置，包括基座，其特征在于，所述基座上设有XYZ移动台、由该XYZ移动台控制移动的吸盘台面和下对准组件，所述吸盘台面的一端设有能够移动的标定靶点，所述基座上还设有支架，所述支架的横梁上设有第一相机和能够水平移动的第二相机，所述吸盘台面的边缘间隔设有多个靶点光源；将内层板放置在所述吸盘台面上，内层板的第一面朝上，激光直接对内层板的第一面图形曝光的同时、所述吸盘台面上的靶点光源对内层板的第二面进行打靶；内层板的第二面图形曝光时、内层板的第二面朝上放置在所述吸盘台面上，所述第一相机、第二相机和下对准组件对内层板进行对位后、再由所述激光直接对内层板的第二面图形曝光。2.根据权利要求1所述的测量LDI内层对位精度的装置，其特征在于，所述下对准组件包括下CCD相机、透反棱镜、远心镜头和反射棱镜，所述下CCD相机与所述远心镜头之间设置所述透反棱镜，所述反射棱镜设置在所述远心镜头上。3.根据权利要求2所述的测量LDI内层对位精度的装置，其特征在于，所述透反棱镜包括有反射面和透射面，所述透反棱镜倾斜45度置于一立方体斜镜座上，所述透反棱镜的表面镀有透反膜，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡文涛，邱田生，詹泽军，
申请(专利权)人：东莞市多普光电设备有限公司，
类型：新型
国别省市：