存储器测试卡具制造技术

一种存储器测试卡具，应用在具有电性连接端的存储器的电性测量，该存储器测试卡具包括：第一连接部，具有与该电性连接端电性连接的第一导电结构；第二连接部，具有与外部装置电性连接的第二导电结构；以及测量部，与该第一连接部以及该第二连接部结合，且与该第一导电结构及第二导电结构电性连接并局部外露出该存储器测试卡具；与现有技术相比，本发明专利技术可快速、准确地对存储器电性进行测量，由于不对存储器进行操作，因此是一种安全方便的存储器测试卡具，省略了多次开机、关机以及插、拔等动作，提高测量效率，测量过程中引线极短，可将外界的干扰降到最低，本发明专利技术的测试卡具能够多次重复使用，降低了测量成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种测试卡具，特别是关于一种用于存储器电性测量的测试卡具。
技术介绍
高速电路和电路板的布线密度已成为今日数字产品的基准，更快的芯片组和多层电路板设计可以解决处理能力和空间问题，但是也更容易受到电路异常的影响。因此，随着电路工作频率的提高，不管信号周期如何，几乎所有设计都遇到了信号完整性(signal integrity；SI)的问题。一般是使用示波器观察电路设计并评估信号的完整性。当使用者利用示波器对例如双重内嵌式内存模块(Dual In-LineMemory Modules；DIMM)的存储器进行存储器信号完整性测量时，通常是先参照原理图找到待测信号线，然后再对照线路图，找出该待测信号线对应该存储器的电性连接端上的导电片(俗称“金手指”)，在存储器上找出所找导电片直接电性连接的且便于焊接的元器件一端或通孔(Via)，将引线焊上。最后，利用示波器的测量探头接触该引线，对该存储器中待测信号线的信号完整性进行测量。完成测量后，则除去该引线并重复上述步骤，对下一条信号线进行测量。这种做法存在诸多缺失，首先，将引线焊接到电路板上十分困难，尤其是若焊接点为一通孔(via)本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储器测试卡具，应用在具有电性连接端的存储器的电性测量，其特征在于，该存储器测试卡具包括：第一连接部，具有与该电性连接端电性连接的第一导电结构，在该存储器与该第一连接部连接时，该存储器与该存储器测试卡具形成电性连接关系； 第二连接部，具有与外部装置电性连接的第二导电结构，借由该第二连接部，该存储器测试卡具与外部装置电性连接；以及测量部，与该第一连接部以及该第二连接部结合，且与该第一导电结构及第二导电结构电性连接并局部外露出该存储器测试卡具。

【技术特征摘要】
1.一种存储器测试卡具，应用在具有电性连接端的存储器的电性测量，其特征在于，该存储器测试卡具包括第一连接部，具有与该电性连接端电性连接的第一导电结构，在该存储器与该第一连接部连接时，该存储器与该存储器测试卡具形成电性连接关系；第二连接部，具有与外部装置电性连接的第二导电结构，借由该第二连接部，该存储器测试卡具与外部装置电性连接；以及测量部，与该第一连接部以及该第二连接部结合，且与该第一导电结构及第二导电结构电性连接并局部外露出该存储器测试卡具。2.如权利要求1所述的存储器测试卡具，其特征在于，该第一连接部是一具有插槽的结构。3.如权利要求1所述的存储器测试卡具，其特征在于，该第...

【专利技术属性】
技术研发人员：季平，陈志丰，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]