具有临时缺陷管理区域的盘及其盘缺陷管理方法和设备技术

技术编号:3058598 阅读:133 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种具有至少一个记录层的一次写入盘,包括:临时缺陷管理区域,在其中关于仅仅在相应的记录操作期间检测到缺陷的临时缺陷信息和用于管理临时缺陷信息的临时缺陷管理信息被记录;和缺陷管理区域,在其中记录在临时缺陷管理区域中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息分别作为缺陷信息和缺陷管理信息被记录。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及盘缺陷管理,更具体地讲,涉及一种具有临时缺陷管理区域(TDMA)的盘及其盘缺陷管理方法和设备。
技术介绍
盘缺陷管理是将存储在在其中存在缺陷的盘的用户数据区域中的数据重写到盘的数据区域的新部分从而补偿否则由缺陷导致的数据损失的过程。通常,使用线性替换方法或滑动替换方法来执行盘缺陷管理。在线性替换方法中,在其中存在缺陷的用户数据区域由没有缺陷的备用数据区域替换。在滑动替换方法中,具有缺陷的用户数据区域被滑过,没有缺陷的下一个用户数据区域被使用。然而,线性替换和滑动替换方法仅仅可应用到如DVD-RAW/RW的盘,在该盘上,数据可以被重复地记录,并且可以使用随机访问方法来执行记录。换言之,很难将线性替换和滑动替换方法应用到在其上仅仅允许一次记录的一次写入盘。通常,通过将数据记录在盘上并且确认是否数据已经被正确地记录在盘上来检测盘中的缺陷的存在。然而,一旦数据被记录在一次写入盘上,则不可能盖写新数据并且管理其中的缺陷。在CD-R和DVD-R的开发之后,具有几十GB记录容量的高密度一次写入盘被引入。由于这种类型的盘不贵并且允许实现快速读操作的随机访问,所以其可以被用作备份盘。然而,对于一次写入盘不可用盘缺陷管理。因此,在备份操作期间,当缺陷区域(即,其中存在缺陷的区域)被检测到时,备份操作可被中断。通常,当系统不被频繁地使用时(如,在当系统管理员不操作系统的夜间),执行备份操作。在这种情形下,由于检测到一次写入盘的缺陷区域,所以备份操作很可能将被中断。
技术实现思路
本专利技术的一方面提供了一种一次写入盘、一种可应用到该一次写入盘的盘缺陷管理方法和设备。本专利技术的一方面还提供了一种盘,在其中,即使当在记录操作期间检测到盘缺陷时也可执行盘缺陷管理,因此允许记录操作无中断地执行,及其一种盘缺陷管理方法和设备。本专利技术的一方面还提供一种盘,在其中可有效地记录缺陷信息,及其一种盘缺陷管理方法和设备。将在接下来的描述中部分阐述本专利技术另外的方面和/或优点,还有一部分通过描述将是清楚的,或者可以经过本专利技术的实施而得知。根据本专利技术的一方面,提供了一种具有至少一个记录层的一次写入盘,该盘包括临时缺陷管理区域,在其中记录关于仅仅在相应的记录操作期间检测到的缺陷的临时缺陷信息和用于管理该临时缺陷信息的临时缺陷管理信息;和缺陷管理区域,在其中记录在临时缺陷管理区域中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息分别作为缺陷信息和缺陷管理信息被记录。根据本专利技术的另一方面,提供了一种一次写入盘,该盘包括临时缺陷管理区域,在其中记录关于仅仅在相应的记录操作期间检测到的缺陷的临时缺陷信息和用于管理该临时缺陷信息的临时缺陷管理信息;临时完成缺陷管理区域,在其中包括记录在临时缺陷管理区域中的临时缺陷信息的至少一部分的临时完成缺陷信息和用于管理该临时完成缺陷信息的临时完成缺陷管理信息被记录;以及缺陷管理区域,在其中在盘完成期间临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为一对信息被记录在临时缺陷管理区域中时,所有记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息分别作为缺陷信息和缺陷管理信息被记录。根据本专利技术的另一方面,提供了一种管理盘缺陷的方法,包括将仅仅关于在在具有标记i的记录操作期间记录在盘的数据区域中的数据中检测到的缺陷的信息作为第i临时缺陷信息记录在盘的临时缺陷管理区域中,其中,i是整数;将用于管理第i临时缺陷信息的管理信息作为第i临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区域中;将记录第i临时缺陷信息和记录第i临时缺陷管理信息重复至少一次同时将给到相应的记录操作、临时缺陷信息、和临时缺陷管理信息的标记加1;和读取所有记录的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息并且将其写在缺陷管理区域中。根据本专利技术的另一方面,提供了一种管理盘缺陷的方法,包括以预定数目的块为单位将临时管理信息作为第i临时管理信息记录在临时缺陷管理区域中,所述的临时管理信息包括关于根据具有i标记的记录操作记录在盘的数据区域中的数据的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息,其中i是整数;将记录该临时管理信息重复至少一次同时将给到相应的记录操作和临时管理信息的标记i加1;每当第i临时管理信息被记录k次时,将临时完成缺陷管理信息记录在临时完成缺陷管理区域中,其中,k是大于或等于2的整数,所述的临时完成缺陷管理信息是基于所有记录的临时管理信息而获得的;将记录第i临时管理信息重复,将该记录和记录临时完成缺陷管理信息重复至少一次;以及读取所有记录的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息,并将该临时缺陷管理信息和临时缺陷信息记录在缺陷管理区域中。根据本专利技术的另一方面,提供了一种记录和再现设备,包括记录/读单元,将数据记录在盘上和/或从盘上读取数据;和控制器,控制记录/读单元以将关于从在记录操作单位中记录在盘的数据区域中的数据检测到的缺陷的信息作为临时缺陷信息记录在临时缺陷管理区域中,和将用于管理临时缺陷信息的管理信息记录在临时缺陷管理区域中。根据本专利技术的另一方面,提供了一种记录和/或再现设备,包括记录/读单元,将数据记录在盘上和/或从盘读取数据;和控制器,控制记录/读单元以将关于从根据第一记录操作记录在盘的数据区域中的记录的数据检测到的缺陷的信息作为第一临时缺陷信息记录在临时缺陷管理区域中;将用于管理第一临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第一临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区域中;将数据记录在数据区域中,同时将给到相应的记录操作、临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的标记i加1;以及在盘完成期间将在缺陷管理区域中的所有记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息读取。根据本专利技术的另一方面,提供了一种记录和/或再现设备,包括记录/读单元,将数据记录在盘上和/或从盘上读取数据;和控制器,控制记录/读单元以预定数目的块为单位将临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区域中;以及每当临时缺陷管理信息被记录k次时,将基于所有记录在临时缺陷管理信息中的临时缺陷管理信息获得的临时完成缺陷管理信息记录在临时完成缺陷管理区域中,该管理信息包括关于根据记录操作记录在盘的数据区域中的数据的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息。附图说明通过结合附图对实施例进行详细的描述,本专利技术这些和其他方面和/或优点将会变得更加清楚和更易于理解,其中图1是根据本专利技术实施例的记录设备的方框图;图2A和2B示出根据本专利技术实施例的盘的结构;图3A示出根据本专利技术实施例的盘的数据结构;图3B示出具有图3A所示的缺陷管理区域(DMA)和临时DMA(TDMA)的盘的数据结构;图4A到4C示出根据本专利技术实施例的TDMA的数据结构;图5A和5B分别示出根据本专利技术实施例的临时缺陷管理信息TDDS#i及其副本的数据结构;图6示出根据本专利技术的另一个实施例的临时缺陷信息TDFL#i的数据结构;图7示出解释根据本专利技术实施例的数据在用户数据区域A和备用区域B中的记录的图;图8A和8B示出如图7所示的临时缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的数据结构;图9示出关于缺陷#i的信息的数据结构;图10是示出根据本专利技术实施例的盘缺陷管理方法的流程图;图11是示出根据本专利技术的另一个实施例的盘缺陷管理方法的流程图;图12A示出根据本专利技术的另一个实施例的盘的数据结构;图12B示出具有图12A所示的DMA、TDMA、和临时完成DMA(TFDMA)的盘的数据结本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种一次写入盘,包括:至少一个记录层,在其上记录数据;临时缺陷管理区域,具有关于仅仅在非在先记录操作的相应的第一记录操作期间检测的记录的数据中的缺陷的第一临时缺陷信息、和用于管理该第一临时缺陷信息的第一临时缺陷管理信息;和   至少一个缺陷管理区域,在其中记录在临时缺陷管理区域中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息分别作为缺陷信息和缺陷管理信息被记录,其中,该缺陷信息和缺陷管理信息和/或该临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录和/或再现设备使用以对记录在该 至少一个记录层上的数据执行缺陷管理。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】KR 2003-1-13 10-2003-0002091;KR 2003-1-13 10-2003-1.一种一次写入盘,包括至少一个记录层,在其上记录数据;临时缺陷管理区域,具有关于仅仅在非在先记录操作的相应的第一记录操作期间检测的记录的数据中的缺陷的第一临时缺陷信息、和用于管理该第一临时缺陷信息的第一临时缺陷管理信息;和至少一个缺陷管理区域,在其中记录在临时缺陷管理区域中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息分别作为缺陷信息和缺陷管理信息被记录,其中,该缺陷信息和缺陷管理信息和/或该临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录和/或再现设备使用以对记录在该至少一个记录层上的数据执行缺陷管理。2.如权利要求1所述的一次写入盘,其中,该至少一个缺陷管理区域包括至少两个缺陷管理区域。3.如权利要求1所述的一次写入盘,其中,该临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为一对互相相邻的信息被记录在临时缺陷管理区域中。4.如权利要求3所述的一次写入盘,其中,该临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录几次,该临时缺陷管理信息包括关于相应的临时缺陷信息的位置的信息。5.如权利要求3所述的一次写入盘,其中,该临时缺陷管理信息包括关于在在第一临时缺陷信息之前的在先记录操作中记录的先前临时缺陷信息的位置的信息。6.如权利要求1所述的一次写入盘,还包括在其中替换被记录以替换记录的数据中的缺陷替换区域,其中,该临时缺陷信息包括指向该缺陷的位置的指针和指向用于该缺陷的替换的位置的指针。7.如权利要求6所述的一次写入盘,其中,该临时缺陷信息还包括指定并区分该缺陷是产生于连续缺陷块还是单一缺陷块中的状态信息。8.如权利要求7所述的一次写入盘,其中,该状态信息指定该缺陷产生于连续缺陷块中并且该缺陷的指针和该替换的指针分别指示该缺陷和替换的起始位置。9.如权利要求7所述的一次写入盘,其中,该状态信息指定该缺陷产生于连续缺陷块中并且该缺陷的指针和该替换的指针分别指示该缺陷和替换的结束位置。10.一种管理盘缺陷的方法,包括将仅仅关于在在具有标记i的记录操作期间记录在盘的数据区域中的数据中检测到的缺陷的信息作为第i临时缺陷信息记录在盘的临时缺陷管理区域中,其中,i是整数;将用于管理第i临时缺陷信息的管理信息作为第i临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区域中;将记录临时缺陷信息和记录临时缺陷管理信息重复至少一次同时将给到记录操作、临时缺陷信息、和临时缺陷管理信息的标记加1,从而记录仅仅具有用于记录操作中的相应一个的缺陷信息的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息;和读取所有记录的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息并且将其写在盘的缺陷管理区域中。11.如权利要求10所述的方法,其中,该读取并写入在根据最后记录操作将数据记录在数据区域中以后被执行。12.如权利要求10所述的方法,其中,记录临时缺陷信息和记录临时缺陷管理信息包括从临时缺陷管理区域的结尾开始顺序地将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为一对互相相邻的信息记录。13.如权利要求12所述的方法,其中,记录临时缺陷信息和记录临时缺陷管理信息包括将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录几次。14.如权利要求12所述的方法,其中,记录临时缺陷管理信息包括记录关于与临时缺陷管理信息相应的临时缺陷信息的位置的信息、和关于在具有至少i-1标记的另一个记录操作期间记录的临时缺陷信息的位置的信息。15.如权利要求10所述的方法,其中,记录临时缺陷信息和记录临时缺陷管理信息包括从临时缺陷管理区域的结尾开始顺序地将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为一对互相相邻的信息记录。16.如权利要求15所述的方法,其中,记录临时缺陷信息和记录临时缺陷管理信息包括将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录几次。17.如权利要求15所述的方法,其中,记录临时缺陷管理信息包括记录关于与临时缺陷管理信息相应的临时缺陷信息的位置的信息和关于在另一个具有至少i-1标记的记录操作期间记录的临时缺陷信息的位置的信息。18.如权利要求10所述的方法,其中,记录临时缺陷信息包括在第i记录操作期间以预定单位记录数据;校验记录的数据以检测盘的存在缺陷的缺陷区域;将关于缺陷区域的信息和关于用于该缺陷区域的替换区域的信息作为第i临时缺陷信息记录在记录设备的存储器中;将以预定单位记录数据和校验记录的数据重复至少一次;和当记录操作结束时,读取存储在存储器中的信息并将该读取的信息作为第i临时缺陷信息存储在临时缺陷管理区域中。19.一种记录和/或再现设备,包括记录/读单元,将数据记录在盘上和/或从盘上读取数据;和控制器,控制记录/读单元以将关于从在记录操作单位中的相应一个中记录在盘的数据区域中的数据的一部分检测到的缺陷的临时缺陷信息记录在临时缺陷管理区域中,和将在临时缺陷管理区域中的用于管理临时缺陷信息的临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区域中,其中,临时缺陷信息不包括关于另一个在在先记录操作单位期间检测到的缺陷的信息。20.如权利要求19所述的记录设备,其中,控制器控制记录/读单元以将相应的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为一对互相相邻的信息记录。21.如权利要求19所述的记录设备,其中,对每个记录操作单位控制器控制记录/读单元将相应的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区域中,在盘完成期间,读取所有记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息并将读取的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在缺陷管理区域中。22.一种记录和/或再现设备,包括记录/读单元,将数据记录在盘上和/或从盘读取数据;控制器,控制记录/读单元以将关于从根据具有i标记的记录操作记录在盘的数据区域中的数据检测到的缺陷的信息作为第i临时缺陷信息记录在临时缺陷管理区域中,其中,i是整数;将用于管理第i临时缺陷信息的缺陷管理信息记录在临时缺陷管理区域中;将数据记录在数据区域中,同时将给到相应的记录操作、相应的临时缺陷信息和相应的临时缺陷管理信息的标记i加1;以及在盘完成期间将所有记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在缺陷管理区域中。23.如权利要求22所述的记录设备,其中,控制器控制记录/读单元以根据最后记录操作将数据记录在数据区域中,以及将所有记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息分别作为最终缺陷信息和缺陷管理信息记录在缺陷管理区域中。24.如权利要求22所述的记录设备,其中,控制器控制记录/读单元以从临时缺陷管理区域的起始开始顺序地将相应的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为一对信息记录。25.如权利要求22所述的记录设备,其中,控制器控制记录/读单元以从临时缺陷管理区域的结尾开始顺序地将相应的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息作为一对信息记录。26.如权利要求24所述的记录设备,其中,控制器控制记录/读单元以将关于与临时缺陷管理信息相应的临时缺陷信息的位置的信息和关于在另一个具有至少i-1标记的记录操作期间记录的临时缺陷信息的位置的信息记录。27.如权利要求22所述的记录设备,还包括存储单元,其中,控制器控制记录/读单元以根据具有公共标记的预定记录操作以预定...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄盛凞高祯完李坰根
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

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