数据盘系统中的缺陷检测器包括缺陷估计单元和缺陷长度计数器。缺陷检测器输入来自拾取单元的ＲＦ信号，以便生成缺陷信号。缺陷长度计数器利用摆动信号和首标位置（ＥＳＦＳ）信号解释缺陷信号以生成缺陷长度信息。系统控制器从缺陷长度信息中确定数据盘的哪个扇区含有不可接受缺陷，以便将这样的扇区重新指定到数据盘上的另一个可用扇区。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术一般涉及盘再现/重写系统，尤其涉及其中对超出ECC(纠错码)能力之外的缺陷的缺陷管理。2.现有技术描述一般说来，从/向诸如可重写CD-RW、CD-MRW、DVD±R/W、DVD-RAM、和DVD+MRW等的光盘再现/写入信息的系统利用拾取单元来访问光盘的轨道。可重写光盘的制造规范保证了按预定次数在光盘上可重复写入信息。但是，当重复使用可重写光盘时，由于盘的退化或其它各种各样原因，可能在光盘上产生缺陷。如图1所示，这样的缺陷可能包括黑点、划痕、和指印等。如图2所示，在光盘的导入区、节目区、或导出区中都有可能产生这些缺陷。光盘上的缺陷可能是致命的，使得不能通过播放光盘时实现的纠错码(ECC)来管理缺陷。在那种情况下，由于盘不再是可重写的，在现有技术中不得不扔掉光盘。在诸如CD-MRW和DVD+MRW之类的可重写光盘的情况中，有关光盘开头的信息和有关缺陷管理的信息被记录在导入区中。另外，音频或视频数据被记录在节目区中，和有关光盘末端的信息被记录在导出区中。一般说来，在现有技术中，可重写光盘上的缺陷通过播放光盘时执行的ECC来管理。当光盘含有诸如黑点、划痕、或指印之类的轻微缺陷时，不进行拾取单元的伺服跟踪，和当解码从拾取单元输出的RF(射频)信号再现来自光盘的再现信息时，根据RS(里德-索洛蒙)算法等执行ECC。随着光盘记录密度的增加，疏忽地管理光盘可能更容易产生缺陷。但是，光盘上的严重缺陷不能仅仅依靠跟踪中止的ECC来修复，在那种情况下，光盘系统可能不正常工作。并且，在现有技术中，即使光盘存在不明显的缺陷，但当不能精确地进行伺服跟踪时，不得不扔掉光盘。因此，在不能精确地进行伺服跟踪时也能管理光盘上的严重缺陷的机制是众望所归。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是管理这样的严重缺陷或不恰当伺服跟踪。在数据盘系统中管理数据盘上的缺陷的方法中，缺陷检测器包括缺陷估计单元和缺陷长度计数器。缺陷检测器输入来自拾取单元的RF信号，以便将RF信号与缺陷阈值相比较生成缺陷信号。缺陷长度计数器利用摆动(wobble)信号和首标位置(ESFS)信号解释缺陷信号以生成缺陷长度信息。在本专利技术的一个实施例中，缺陷长度计数器生成与数据盘的每个扇区相对应的缺陷长度信息。另外，系统控制器输入缺陷长度信息，以便从缺陷长度信息中确定数据盘的哪个扇区含有不可接受缺陷。并且，系统控制器将存在不可接受缺陷的任何扇区重新指定(reassign)到数据盘上的另一个可用扇区。在本专利技术的另一个实施例中，缺陷长度信息包括缺陷长度计数、缺陷长度中断信号、和隐蔽缺陷长度计数。在本专利技术的示范性实施例中，缺陷长度计数取决于在扇区的首标中是否存在缺陷。在本专利技术的进一步实施例中，缺陷检测器进一步包括伺服保持缺陷检测单元和缺陷标志单元。伺服保持缺陷检测单元通过比较RFO信号和保持阈值生成伺服保持信号。缺陷标志单元从RFO信号中生成指示数据盘上缺陷的类型的至少一个标记信号。当数据盘系统是光盘再现/重写系统时，本专利技术可能特别有优势。但是，本专利技术也可应用于任何类型的数据盘系统。附图说明通过结合附图，对本专利技术的示范性实施例进行详细描述，本专利技术的上面和/或其它特征和优点将更加清楚，在附图中图1示出了一般可重写光盘上的示范性缺陷；图2示出了从图1中横穿光盘的直线A-A′所指的区域的数据结构； 图3是根据本专利技术一个实施例的包括缺陷检测器的光盘再现/重写系统的方块图；图4是根据本专利技术一个实施例的图3的缺陷检测器的方块图；图5是根据本专利技术一个实施例的图4的缺陷长度检测单元的方块图；图6示出了随缺陷类型而改变的反射光通量(duantity)的曲线图；图7是根据本专利技术一个实施例的生成图4中的PLWOBB信号的摆动信号发生器的方块图；图8是根据本专利技术一个实施例，当该当前扇区的首标没有缺陷时，图3的缺陷检测器操作期间的时序图；图9是根据本专利技术一个实施例、当该当前扇区的首标存在缺陷时，图3的缺陷检测器操作期间的时序图；图10是根据本专利技术一个实施例、当下一个扇区的首标存在缺陷时，图3的缺陷检测器操作期间的时序图；和图11是根据本专利技术一个实施例、图3的缺陷检测器操作期间步骤的流程图。这里涉及的图是为了清楚地举例说明而画出的，无需按比例画出。图1、2、3、4、5、6、7、8、9、10和11中标号相同的单元表示结构和/或功能相似的单元。本专利技术详述图3是根据本专利技术一个实施例的含有缺陷检测器360的光盘再现/重写系统300的方块图。光盘再现/重写系统300是示范性数据盘系统，本专利技术可应用于其它类型的数据盘系统。系统300还包括主轴电机310、滑架(sled)电机320、拾取单元330、伺服控制器340、再现和写入单元350、和系统控制器370。将光盘装在主轴电机310的旋转轴上使它旋转。滑架电机320使拾取单元330横过光盘作水平运动。这里，光盘是可重写盘。拾取单元330在伺服控制器340的控制下，读取记录在光盘上的信息或将编码数据写在光盘上。伺服控制器340驱动拾取单元330内的跟踪致动器和聚焦致动器。系统控制器370控制主轴电机310、滑架电机320、和用于光盘跟踪的伺服控制器340。音频或视频信息以坑的形式被写在光盘的螺旋形轨道上。包括在拾取单元330中的光学元件跟踪螺旋形轨道，从写在光盘上的信息中生成RF(射频)信号RFO。并且，拾取单元330从再现和写入单元350接收编码数据和处理编码数据，以便驱动激光二极管以坑的形式将编码数据写在光盘的轨道上。再现和写入单元350解码RF信号RFO以生成再现数据和将再现数据输出到系统控制器370。另外，再现和写入单元350从系统控制器370接收要写入的数据以生成编码数据。系统控制器370与主计算机交接将再现数据发送到主计算机或从主计算机接收要写入的数据。并且，系统控制器370确定光盘的扇区缺陷状态以进行跟踪控制和光盘扇区管理。当在再现或写入数据的同时，在光盘的扇区上发现超出ECC能力之外的严重缺陷时，本专利技术将有缺陷扇区重新指定到另一个可用扇区。缺陷检测器360处理拾取单元330生成的RF信号RFO，以生成用于伺服保持和与缺陷长度有关的信息的信号。系统控制器370利用来自缺陷检测器360的信号确定光盘的扇区缺陷状态以进行跟踪控制和光盘扇区管理。系统控制器370利用从RF信号RFO中提取的跟踪误差信号和镜像信号控制光盘再现/重写系统300的总体操作。另外，再现和写入单元350为ECC进行解码和编码操作。系统控制器370以及再现和写入单元350进行的这样操作是本领域的普通技术人员所熟知的，这里省略对这样操作的详细描述。这里，ECC的基本组成单元是光盘的一个扇区。图4示出了根据本专利技术一个实施例，从RF信号RFO中生成用于伺服保持和与缺陷长度有关的信息的信号的缺陷检测器360的方块图。参照图4，缺陷检测器360包括缺陷长度检测单元410、伺服保持缺陷检测单元420、和缺陷标志单元430。缺陷长度检测单元410从拾取单元33接收的RF信号RFO中生成缺陷信号DEFECT。并且，缺陷长度检测单元410利用摆动信号PLWOBB和ESFS(编码器子码帧同步)信号解释缺陷信号DEFECT，以便生成缺陷长度信息信号DLINTR、DLCNT、和SDLCNT。ESFS本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种管理数据盘上的缺陷的方法，包括： 从读取数据盘中生成ＲＦ信号； 通过将ＲＦ信号与缺陷阈值相比较生成缺陷信号；和 利用摆动信号和首标位置（ＥＳＦＳ）信号解释缺陷信号以生成缺陷长度信息。
【技术特征摘要】
KR 2004-8-10 62772/041.一种管理数据盘上的缺陷的方法，包括从读取数据盘中生成RF信号；通过将RF信号与缺陷阈值相比较生成缺陷信号；和利用摆动信号和首标位置(ESFS)信号解释缺陷信号以生成缺陷长度信息。2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括生成与数据盘的每个扇区相对应的缺陷长度信息；和从缺陷长度信息中确定数据盘的哪个扇区含有不可接受缺陷。3.根据权利要求2所述的方法，进一步包括将存在不可接受缺陷的任何扇区重新指定到数据盘上的另一个可用扇区。4.根据权利要求1所述的方法，其中，缺陷长度信息包括缺陷长度计数、缺陷长度中断信号、和隐蔽缺陷长度计数。5.根据权利要求4所述的方法，其中，缺陷长度计数取决于在扇区的首标中是否存在缺陷。6.根据权利要求1所述的方法，进一步包括通过比较RFO信号和保持阈值生成伺服保持信号；和从RFO信号中生成指示数据盘上缺陷的类型的至少一个标记信号。7.根据权利要求1所述的方法，其中，数据盘是光盘再现/重写系统的一部分。8.一种在数据盘系统中的缺陷长度检测器，包括输入RF信号的缺陷估计单元，用于通过将RF信号与缺陷阈值相比较生成缺陷信号；和缺陷长度计数器，用于利用摆动信号和首标位置(ESFS)信号解释缺陷信号以生成缺陷长度信息。9.根据权利要求8所述的缺陷长度检测器，其中，缺陷长度计数器生成与数据盘的每个扇区相对应的缺陷长度信息。10.根据权利要求9所述的缺陷长度检测器，其中，缺陷长度计数器将缺陷长度信息发送到系统控制器，系统控制器从缺陷长度信息中确定数据盘的哪个扇区含有不可接受缺陷。11.根据权利要求10所述的缺陷长度检测器，其中，系统控制器将存在不可接受...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴基焕，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]
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