像素缺陷的处理方法及处理系统技术方案

本发明专利技术提供了一种像素缺陷的处理方法，其包括：检测出显示面板上的缺陷可疑像素；对缺陷可疑像素进行点过滤处理。本发明专利技术还提供了一种像素缺陷的处理系统，其利用所述像素缺陷的处理方法对显示面板上的缺陷可疑像素进行处理。根据本发明专利技术的像素缺陷的处理方法及处理系统，当对显示面板上的像素进行缺陷检查时，既不会出现漏检、误检的情形，也不会出现检查溢出现象。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于显示
，具体地讲，涉及一种像素缺陷的处理方法及处理系统。
技术介绍
彩膜自动光学检查机(CFAOI)主要负责对彩色滤光片基板(CF基板)上的像素进行微观不良检查，即计算像素的微观缺陷的大小、数量、类型，从而判断彩色滤光片基板的质量是否符合要求。彩膜自动光学检查机的检查原理为：利用诸如电荷耦合元件CCD收集彩色滤光片基板曝光显影后的图像信息，将检查点位像素的图像信息与其它像素的图像信息进行比对，根据对比结果判断各个像素是否有缺陷。然而，现有的彩膜自动光学检查机在检查高分辨率彩色滤光片基板时，由于彩色滤光片基板上的黑色矩阵的线宽较窄，为了使彩色滤光片基板不泄露光线，制作像素的彩色光阻(即红色光阻、蓝色光阻、绿色光阻)的重叠现象不可避免。这样，在彩色光阻的重叠区域，彩膜自动光学检查机在检查时极易将正常像素确定为缺陷像素，从而导致彩膜自动光学检查机产生溢出(overflow)现象，即彩膜自动光学检查机将正常像素确定为缺陷像素之后，使检查出的缺陷像素的数量(其包含实际为正常像素的数量)超过彩膜自动光学检查机内设的上限缺陷像素数量的现象。
技术实现思路
为了解决上述现有技术存在的问题，本专利技术的目的在于提供一种像素缺陷的处理方法，其包括：检测出显示面板上的缺陷可疑像素；对缺陷可疑像素进行点过滤处理。进一步地，对缺陷可疑像素进行点过滤处理的具体方法包括：确定环绕包围缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素；判断环绕包围缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素中是否存在至少两个为缺陷可疑像素；其中，若不存在，则将被环绕包围的缺陷可疑像素过滤掉；若存在，则将被环绕包围的缺陷可疑像素保留。进一步地，对缺陷可疑像素进行点过滤处理之后，所述像素缺陷的处理方法还包括：对经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理。进一步地，对经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理的具体方法包括：判断经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素中是否存在至少两个缺陷可疑像素相邻；若不存在，则将未与其他缺陷可疑像素相邻的缺陷可疑像素过滤掉；若存在，则将相邻的缺陷可疑像素保留。进一步地，对经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理之后，所述像素缺陷的处理方法还包括：对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小收缩处理；对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小膨胀处理。进一步地，对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小收缩处理的具体方法包括：确定与对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素相邻的上像素、下像素、左像素和右像素；判断与对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素相邻的上像素、下像素、左像素和右像素是否都为缺陷可疑像素；若是，则保留对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素；若否，则将对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素过滤掉。进一步地，对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小膨胀处理的具体方法包括：将与对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素相邻的上像素、下像素、左像素和右像素均确定为缺陷像素，并保留。进一步地，对经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理之后，所述像素缺陷的处理方法还包括：对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行收缩处理；对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素进行膨胀处理。进一步地，对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行收缩处理的具体方法包括：确定环绕包围对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素；判断环绕包围对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素是否都为缺陷可疑像素；其中，若都是，则将环绕包围对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素保留；若至少一个不是，则将环绕包围对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素过滤掉。进一步地，对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素进行膨胀处理的具体方法包括：将环绕包围对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素和右下像素均确定为缺陷像素，并保留。本专利技术的另一目的还在于提供一种像素缺陷的处理系统，其利用上述的像素缺陷的处理方法对显示面板上的缺陷可疑像素进行处理。本专利技术的有益效果：当彩膜自动光学检查机(或称像素缺陷的处理系统)对显示面板上的像素进行缺陷检查时，既不会出现漏检、误检的情形，也不会出现检查溢出现象。附图说明通过结合附图进行的以下描述，本专利技术的实施例的上述和其它方面、特点和优点将变得更加清楚，附图中：图1是根据本专利技术的第一实施例的像素缺陷的处理方法的流程示意图；图2是根据本专利技术的第一实施例的对缺陷可疑像素进行点过滤处理的原理示意图；图3是根据本专利技术的第一实施例的彩膜自动光学检查机的模块图；图4是根据本专利技术的第二实施例的像素缺陷的处理方法的流程示意图；图5是根据本专利技术的第二实施例的对经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理的原理示意图；图6是根据本专利技术的第二实施例的彩膜自动光学检查机的模块图；图7是根据本专利技术的第三实施例的像素缺陷的处理方法的流程示意图；图8是根据本专利技术的第三实施例的对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小收缩处理的原理示意图；图9是根据本专利技术的第三实施例的对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小膨胀处理的原理示意图；图10是根据本专利技术的第三实施例的彩膜自动光学检查机的模块图；图11是根据本专利技术的第四实施例的像素缺陷的处理方法的流程示意图；图12是根据本专利技术的第四实施例的对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行收缩处理的原理示意图；图13是根据本专利技术的第四实施例的对经收缩处理后被保留的缺陷可疑像素进行膨胀处理的原理示意图；图14是根据本专利技术的第四实施例的彩膜自动光学检查机的模块图。具体实施方式以下，将参照附图来详细描述本专利技术的实施例。然而，可以以许多不同的形式来实施本专利技术，并且本专利技术不应该被解释为限制于这里阐述的具本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种像素缺陷的处理方法，其特征在于，包括：检测出显示面板上的缺陷可疑像素；对缺陷可疑像素进行点过滤处理。

【技术特征摘要】
1.一种像素缺陷的处理方法，其特征在于，包括：
检测出显示面板上的缺陷可疑像素；
对缺陷可疑像素进行点过滤处理。
2.根据权利要求1所述的像素缺陷的处理方法，其特征在于，对缺陷可疑
像素进行点过滤处理的具体方法包括：
确定环绕包围缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像
素、右上像素、左下像素、右下像素；
判断环绕包围缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像
素、右上像素、左下像素、右下像素中是否存在至少两个为缺陷可疑像素；
其中，若不存在，则将被环绕包围的缺陷可疑像素过滤掉；若存在，则将
被环绕包围的缺陷可疑像素保留。
3.根据权利要求1或2所述的像素缺陷的处理方法，其特征在于，对缺陷
可疑像素进行点过滤处理之后，所述像素缺陷的处理方法还包括：对经点过滤
处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理。
4.根据权利要求3所述的像素缺陷的处理方法，其特征在于，对经点过滤
处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理的具体方法包括：
判断经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素中是否存在至少两个缺陷可疑
像素相邻；
若不存在，则将未与其他缺陷可疑像素相邻的缺陷可疑像素过滤掉；若存
在，则将相邻的缺陷可疑像素保留。
5.根据权利要求3所述的像素缺陷的处理方法，其特征在于，对经点过滤
处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理之后，所述像素缺陷的处理方
法还包括：
对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小收缩处理；
对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小膨胀处理。
6.根据权利要求5所述的像素缺陷的处理方法，其特征在于，对经细线过
滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小收缩处理的具体方法包括：
确定与对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素相邻的上像素、下像素、
左像素和右像素；
判断与对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素相邻的上像素、下像素、
左像素和右像素是否都为缺陷可疑像素；
若是，则保留对经细线过滤处理后被保留的缺陷可...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡慧敏，陈中明，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42