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数据盘系统中的缺陷检测器包括缺陷估计单元和缺陷长度计数器。缺陷检测器输入来自拾取单元的ＲＦ信号，以便生成缺陷信号。缺陷长度计数器利用摆动信号和首标位置（ＥＳＦＳ）信号解释缺陷信号以生成缺陷长度信息。系统控制器从缺陷长度信息中确定数据盘的哪个...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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