【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及对于磁记录特别合适的磁性合金粒子的集合体。
技术介绍
高密度磁记录介质中,为了提高记录密度,需要降低记录单位的噪音,但是由于热衰减、和晶体粒子大小的微细化以及不均等地问题,使用现有的溅射薄膜的介质正接近高记录密度化的上限。从这些情况出发,最近,作为高密度磁记录介质,没有热衰减问题、具有高异向性且显示较大矫顽力的FePt系的磁性金属纳米粒子正受到关注。关于这样的磁性金属纳米粒子,在专利文献1和非专利文献1中记载了通过同时进行五羰铁的热分解反应和利用多元醇的乙酰丙酮酸铂(II)的还原作用,生成单分散状态的FePt合金粒子的方法。通过这些方法获得的FePt粒子的晶体构造是不规则相的fcc(面心立方晶)构造,所以纳米级别的粒子在常温下显示超常磁性。因此,作为强磁性粒子使用的场合需要通过对该不规则相进行热处理使转变成L10规则相(fct(面心正方晶)构造)的晶体构造。该热处理需要在从不规则相到规则相的晶体构造转变温度(Tt)或更高进行处理,一般在500℃或更高的高温进行。该场合,如果引起由于热导致粒子之间合并而带来的巨大化,粒度分布的分布幅度宽,粒子形成在单 ...
【技术保护点】
磁性合金粒子的集合体,在以T为Fe和Co的一种或两种、以M为Pt和Pd的一种或两种时,该集合体以式[T↓[x]M↓[1-x]]中X在0.3-0.7范围的组成比含有T和M,含有相对于(T+M)的原子百分比在30at.%或更低(包括0at.%)的除T和M以外的金属元素,残余部分为制造上不可避免的杂质,其特征在于,A.面心正方晶的比例为10-100%,B.利用TEM观察测定的平均粒径(D↓[TEM])在5-30nm的范围,C.由X射线衍射导出的X射线结晶粒径 (Dx)为4nm或更大,D.前述D↓[TEM]的各粒子为相互空有间隔而分散的 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2003-7-30 282657/20031.磁性合金粒子的集合体,在以T为Fe和Co的一种或两种、以M为Pt和Pd的一种或两种时,该集合体以式[TxM1-x]中X在0.3-0.7范围的组成比含有T和M,含有相对于(T+M)的原子百分比在30a t.%或更低(包括0at.%)的除T和M以外的金属元素,残余部分为制造上不可避免的杂质,其特征在于,A.面心正方晶的比例为10-100%,B.利用TEM观察测定的平均粒径(DTEM)在5-30nm的范围,C.由X射线衍射导出的X射线结晶粒径(Dx)为4nm或更大,D.前述DTEM的各粒子为相互空有间隔而分散的状态,且E.100个粒子中满足下式(1)的粒子为95个或更多,且满足下式(2),0.90Xav≤X1,X2,...X100≤1.10Xav...(1)X1,X2,...X100的标准偏差σ≤20% ...(2)这里,Xav表示前述组成式[TxM1-x]的X值的、作为粒子集合体实际测定的值(粒子集合体的平均组成中的X的值),X1,X2,...X100表示在该集合体的TEM--EDX测定中在粒...
【专利技术属性】
技术研发人员:佐藤王高,
申请(专利权)人:同和电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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