【技术实现步骤摘要】
可安装多种探针卡的测试探针台
[0001]本申请涉及晶圆检测的领域,尤其是涉及一种可安装多种探针卡的测试探针台。
技术介绍
[0002]探针台是一种晶圆探针测试设备,探针测试在半导体器件制造流程具有重要的地位,通过探针测试,可及时发现晶圆中性能异常的晶粒,减少后续工序的加工耗费。通常,在晶圆制程完成后,对晶圆进行晶片允收测试。通过探针卡上的探针与晶圆芯片上的焊垫或凸块直接接触,引出芯片讯号,再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的。探针卡通常需要固定在探针台上,因此探针卡的取放工作就显得非常重要。
[0003]公开号为CN205067532U的中国专利公开有一种探针台,包括探针台主体和探针卡放置台,其中,探针台主体上开设有圆槽,探针卡放置台设置在圆槽中,探针卡放置台中央和圆槽底部中央均开设有贯穿孔,探针卡放置台底部连接升降控制装置。
[0004]针对上述中的相关技术,专利技术人此装置只能应用于特定尺寸的探针卡,而不能调节使用,应用范围较为有限。
技术实现思路
[0005]为了使探针台可以安 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种可安装多种探针卡的测试探针台,包括探针台本体(1),所述探针台本体(1)上开有安装槽(2),其特征在于:所述安装槽(2)内设有升降台(3),所述升降台(3)与安装槽(2)的底壁之间设有升降组件(4),所述升降组件(4)用于控制升降台(3)上升或下降,所述升降台(3)上开有容纳槽(31),所述容纳槽(31)的底壁和探针台本体(1)共同开通有用于检测晶圆的通孔(5),所述容纳槽(31)内设有两个抵紧组件(6),两个所述抵紧组件(6)关于容纳槽(31)的长度方向对称,所述抵紧组件(6)包括抵紧板(61)和抵紧压簧(62),所述抵紧板(61)垂直于容纳槽(31)的底壁,所述抵紧板(61)沿容纳槽(31)的长度方向滑动连接在容纳槽(31)的底壁上,所述抵紧压簧(62)挤压在抵紧板(61)和容纳槽(31)的侧壁之间。2.根据权利要求1所述的可安装多种探针卡的测试探针台,其特征在于:所述抵紧压簧(62)内穿设有导向杆(621),所述导向杆(621)的一端固定连接于抵紧板(61),另一端滑动连接于容纳槽(31)的内侧壁。3.根据权利要求2所述的可安装多种探针卡的测试探针台,其特征在于:所述抵紧板(61)的底部固定连接有滑移块(611),所述容纳槽(31)的底...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙军,徐志源,
申请(专利权)人:无锡新微阳科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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