【技术实现步骤摘要】
气压/液压式微力自调节RF探针卡装置及自调节方法
[0001]本专利技术气压/液压式微力自调节RF探针卡装置及自调节方法属于半导体芯片测试
技术介绍
[0002]在晶圆半导体生产过程中,裸晶圆在切割后封装前,需要测试其品质,检测其中的不良品,在封装前把坏的芯片筛选出来,节省封装成本,同时可更直接知道晶圆的良率。
[0003]随着芯片功能与性能的快速发展,芯片高频GHz的数据速率在数字通信中越来越普及,这就需要采用新的高频探针卡(RF探针卡)来满足半导体芯片测试要求。
[0004]传统RF探针卡存在以下技术问题:第一、对于不同的待测芯片,所需要探针卡对于待测芯片的下压微力是不同的,传统方法需要手段调试来确定微力,不仅调节困难,而且精度难以把控;第二、传统RF探针卡为一体式结构,如果探针损坏就需要整体更换探针卡,这就造成测试成本的增加;第三、传统RF探针卡进行高频通信测试过程中,会产生大量热,传统方法是增加散热片,但是散热片体积大,使用不方便。
技术实现思路
[0005]针对上述问题,本 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.气压/液压式微力自调节RF探针卡装置,其特征在于,从上到下依次设置有导杆(3),支撑座(4),探针台(7),压力传感器(8)和薄膜探针(9);所述导杆(3)为圆柱体在横截面上设置有环形凸起的结构;所述支撑座(4)轴线方向设置有纵向通孔,用于装配导杆(3),垂直轴线方向上下分别设置有上横向通孔和下横向通孔,所述上横向通孔和下横向通孔与纵向通孔连通;上横向通孔位于导杆(3)中环形凸起的上方,下横向通孔位于导杆(3)中环形凸起的下方;从上横向通孔和下横向通孔中输入气体或液体,驱动导杆(3)沿支撑座(4)纵向通孔运动;所述探针台(7)为弹性片结构,压力传感器(8)和薄膜探针(9)均安装在探针台(7)下方,自然状态下,压力传感器(8)与薄膜探针(9)相分离。2.根据权利要求1所述的气压/液压式微力自调节RF探针卡装置,其特征在于,还包括上盖板(1),上密封圈(2),下密封圈(5),底座(6)和外座(10);从上到下依次设置有上盖板(1),上密封圈(2),导杆(3),支撑座(4),下密封圈(5),底座(6),探针台(7),压力传感器(8),薄膜探针(9)和外座(10);所述上盖板(1)安装在支撑座(4)上方,通过上密封圈(2)实现上盖板(1)与支撑座(4)之间的密封;所述底座(6)安装在支撑座(4)下方,通过下密封圈(5)实现底座(6)与支撑座(4)之间的密封;所述探针台(7)安装在底座(6)下方;所述底座(6)安装在外座(10)上方。3.根据权利要求2所述的气压/液压式微力自调节RF探针卡装置,其特征在于,所述底座(6)上设置有截面为环...
【专利技术属性】
技术研发人员:于海超,徐兴光,赵梁玉,
申请(专利权)人:强一半导体苏州有限公司,
类型:发明
国别省市:
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