数据记录评价方法以及光盘记录再生装置制造方法及图纸

技术编号:3050139 阅读:188 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术可以导入新评价指标,对数据记录进行综合评价,并且也可以对个别检测图形进行评价。本发明专利技术的数据记录评价方法包括下述步骤:再生对光盘的数据记录结果,指定再生信号中预定的检测图形之步骤;检测和预定的检测图形相对应的再生信号的信号状态之步骤;以及第1计算步骤,根据经检测的所述信号状态以及由预定检测图形指定的基准状态,计算第1评价指标值。而且,此数据记录评价方法还包括第2计算步骤,在以上所述预定检测图形为多个的情况下,使用对各个预定检测图形的第1评价指标值,计算第2记录状态评价指标值。可以根据第1以及第2记录状态评价指标值,适当地评价数据记录。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用来评价对光盘的数据记录的技术。技术背景可录蓝光光盘(称作BD-R)或可录HD-DVD光盘(High Definition-DVD,高清晰 度DVD)(称作HD-DVD-R)等光盘(称作光盘)具有在透光性盘状基板的其中一面上 形成有记录层、反射层、以及视需要形成保护层的结构。而且,在形成有记录层以及反 射层的所述基板的其中一面上,形成有称作沟槽(groove)的螺旋状或同心圆状凹槽, 相邻接沟槽之间形成为被称作岸台(land)的凸部。此种光盘中,利用光盘记录再生装 置,使记录用激光沿着凹槽进行循轨,并且照射于沟槽上的记录层,形成凹坑(pit), 由此进行记录。通过照射再生用激光,并使反射光转换为再生信号,而以此凹坑的长度 nT (将基准通道时钟间的比特长度设为T, n整数倍的长度为nT)、凹坑和凹坑之间的 一部分(以下称作间隔)长度nT、及它们的排列进行再生。进行此种记录以及再生的光盘的记录再生装置,例如设计为能够适用于因驱动器、 光盘(也称作媒体)、记录速度等而使每次记录于个别光盘时均不同的记录条件。为了 均能对应所述记录条件,所述记录再生装置中,采用最佳设定激光强度(以下,称作记 录功率)的方法。作为此方法,采用有将OPC (Optimal Power Calibration,最优功率校 准)作为一个选择方法的装置。此OPC在数据记录之前,于记录光盘内的测试区(Power Calibration Area,功率校准区)内使记录功率变化进行测试记录。其次,和预先记录的 初始条件进行比较,选择设定此测试记录结果中记录品质良好的最佳记录功率。使用经 设定的最佳记录功率的记录用激光对光盘的数据记录区域进行记录。接着,采用如下处 理,根据再生有记录波形的波形而计算出各种评价指标,并以此评价指标值能够达到目 标值或接近目标值的方式,决定最佳记录功率后,进行最佳记录修正,作为根据改变记 录功率条件后记录再生信号的变化表示记录状态的参数。此类方法存在有多种形式,而进行简单说明中,包括使用PRML (Partial Response Maximum Likelihood,局部响应最大似然)信号处理方式技术的示例。此PRML信号处 理方式,对相对于用来实现无失真条件频率响应残留有代码间干扰的不完全频率响应进 行处理,并和最大似然解码技术相组合,消除代码间干扰,防止信号品质下降。例如,日本专利特开2004—335079号公报中,揭示了设定最适合最大似然解码法 的记录参数的技术。具体而言,对每一预定的标志长和其前方的间隔长的组合、以及标 志长和其后方的间隔长的组合,分别进行相当于记录标志边缘的始末端部分,且在最大 似然解码法中误差产生概率高的部分的最大似然解码结果的可靠性值I Pa — Pb I —Pstd 的运算,再根据其运算结果,求出使边缘移位位置最优化的记录参数,并对反映出所求 记录参数的内容进行记录。而且,日木专利特开2003 — 303417号公报中揭示如下技术,即便高密度记录中也 不受噪音影响,而是高精度地使记录策略优化。具体而言,设定脉冲响应,以使下述再 生波形和将记录数据和脉冲响应进行巻积运算所得的波形之差最小,由此优化记录策 略,所述再生波形是在光记录媒体卜.记录再生记录数据中叠加有高频脉冲的记录脉冲信 号而获得的再生波形。此时,在光记录媒体的同一轨道上记录同一记录脉冲波形3次以 上,再将按照每一取样顺序使经再生的再生波形的取样值平均化的值用作再生波形的数 据。由于使用平均化数据,因此可以除去随机噪音对再生波形的影响。另外,日本专利特开2003 — 151219号公报中揭示了再生信号的品质评价的相关技 术。具体而言,使用经预定的再生信号、和此再生信号的信号波形图形相对应的第1图 形、以及此第1图形以外且和再生信号的信号波形图形相对应的任意图形(第2或第3 图形)。首先,求出再生信号和第1图形间的距离Eo与再生信号和任意图形间的距离 Ee间的距离差D-Ee — Eo。其次,对多个再生信号的样本求出距离差D的分布。接着, 根据所求出的距离差D的平均M和所求出的距离差D的分布标准偏差o之比,设定再 生信号的品质评价参数(M/0)。继而,根据由品质评价参数表示的评价指标值(Mgn) 来判断再生信号的品质。而且,日本专利特开2003—141823号公报中揭示过如下技术,目卩,根据可适当地 预测使用最大似然解码所得的二值化结果的误差率的指标,评价信号品质。具体而言, 于时刻k (k为任意整数)中具有多个状态,且自时刻k一j (j为2以上的整数)状态开 始至时刻k状态为止具有可取得n (n为2以上的整数)种状态过渡排列的状态过渡项, 并推测n种状态过渡排列中最或然状态过渡排列的最大似然解码方式中,将n种状态过 渡排列过渡排列中最或然状态过渡排列过渡排列中自时刻k一j状态开始至时刻k状态为 止的状态过渡或然值设为PA,将第二或然状态过渡排列中自时刻k一;j状态开始至时刻 k状态为止的状态过渡或然值设为PB,将时刻k一j开始至时刻k为止的解码结果可靠 性设为I PA — PB I时,以预定时间或预定次数求出I PA — PB I的值,并求出其偏差, 以此获得表示和最大似然解码的二值化结果的误差率相关的信号品质的指标。 另外,日本专利特开2002—197660号公报中曾揭示下述记录状态检测技术,艮卩, 在使用维特比检测器使经高密度记录的信息再生时,可以检测出和通道匹配的记录状 态。具体而言,自光盘装置读出的再生信号经带限滤波器以及均衡器修正为特定的通道 特性后,以PLL (Phase-Locked Loop,锁相环)电路产生的同步时钟的时序,并通过 A/D (Analog to Digital,模拟/数字)转换器读入为数字信号Xi。将x,输入至维特比检测 器而获得维特比检测输出信号。将维特比检测输出输入至基准等级判定器以及误差计算 电路中。误差计算电路计算数字信号x,和维特比检测输出的差Ei,再输出至记录状态检 测电路。记录状态检测电路使用基准等级判定器的输出,检测振幅或振幅准位以及不对 称性,输出检测信息。[专利文献l]日本专利特开20(M—335079号公报[专利文献2]日本专利特开2003 — 303417号公报[专利文献3]日本专利特开2003 — 151219号公报[专利文献4]日本专利特开2003—141823号公报[专利文献5]日本专利特开2002_ 197660号公报
技术实现思路
如上所述,对数据记录进行评价的技术存在多样化,但却并非将对数据记录整体的 评价和对个别记录图形的数据记录的评价适当地联系起来。因此,本专利技术的目的在于,提供一种导入新评价指标对数据记录进行综合评价的技术。而且,本专利技术的其他目的在于,提供一种导入新评价指标对个别记录图形适当进行 评价的技术。另外,本专利技术的其他目的在于,提供一种将数据记录的综合评价和个别记录图形数 据记录的评价适当联系起来的技术。另外,本专利技术的其他目的在于,提供一种根据数据记录的评价对记录条件或记录参 数进行适当调整的技术。本专利技术的数据记录评价方法包括下述步骤再生对光盘进行数据记录后的结果的特 定期间,并基于所述再生检测再生信号之步骤;根本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种数据记录评价方法,其特征在于,包括下述步骤:再生对光盘进行数据记录后的结果的特定期间,并检测基于所述再生之再生信号之步骤;根据经检测出的所述再生信号,指定含有预定代码的检测图形之步骤;检测和所述检测图形相对应的所述再生信号的信号状态之步骤;以及第1计算步骤,根据经检测的所述信号状态、以及由所述检测图形指定的基准状态,计算第1评价指标值。

【技术特征摘要】
JP 2006-12-27 2006-3523701.一种数据记录评价方法,其特征在于,包括下述步骤再生对光盘进行数据记录后的结果的特定期间,并检测基于所述再生之再生信号之步骤;根据经检测出的所述再生信号,指定含有预定代码的检测图形之步骤;检测和所述检测图形相对应的所述再生信号的信号状态之步骤;以及第1计算步骤,根据经检测的所述信号状态、以及由所述检测图形指定的基准状态,计算第1评价指标值。2. 根据权利要求1所述的数据记录评价方法,其特征在于,还包括第2计算步骤,在 所述检测图形为多个时,使用根据各个所述多个检测图形计算出的所述第l评价指 标值,计算第2评价指标值。3. 根据权利要求2所述的数据记录评价方法,其特征在于,还包括第l更改步骤,根 据所述第2评价指标值,更改数据记录的记录条件。4. 根据权利要求2所述的数据记录评价方法,其特征在于,所述第2计算步骤还包含 下述步骤,累加计算所述检测图形的出现概率和同所述出现概率一致的每一检测图 形的所述第1评价指标值之多个乘积。5. 根据权利要求2所述的数据记录评价方法,其特征在于,还包括下述步骤-判断所述第2评价指标值是否超过预定阈值;以及当所述第2评价指标值超过所述预定阈值时,根据相应的所述第1记录状态评 价指标值,指定对所述第2评价指标值造成一定程度以上影响的所述检测图形。6. 根据权利要求5所述的数据记录评价方法,其特征在于,还包括第2更改步骤,根 据经指定的所述检测图形的有关所述第l评价指标值,更改用于数据记录的记录参 数。7. 根据权利要求1所述的数据记录评价方法,其特征在于,所述检测图形至少由一个 标志以及间隔构成。8. 根据权利要求1所述的数据记录评价方法,其特征在于,所述检测图形是出现频率 为固定值以上的检测图形。9. 根据权利要求3所述的数据记录评价方法,其特征在于,所述第1更改步骤还包含 下述步骤,根据表示记录条件、和通过再生所述记录条件下的数据记录结果所得的 数据计算出的所述第2评价指标值之关系的数据,指定所述第2评价指标值为固定 值以下范围的所述记录条件。10. 根据权利要求3所述的数据记录评价方法,其特征在于,所述第l更改步骤包含下 述步骤,使用表示记录条件、和由再生所述记录条件下的数据记录结果的特定期间所得 的数据计算出的所述第2评价指标值的关系的数据以及当前所述第2评价指标值, 计算当前记录条件的修正量。11. 根据权利要求9所述的数据记录评价方法,其特征在于,表示所述记录条件、和由 再生所述记录条件下的数据记录结果的特定期间所得的数据计算出的所述第2评价 指标值的关系的数据是测试记录时获得的数据。12. 根据权利要求6所述的数据记录评价方法,其特征在于,所述第2更改步骤包含下 述步骤,根据表示记录参数、和由再生使用有所述记录参数的数据记录结果的特定 期间所得的数据计算出的所述第1评价指标值的关系的数据,指定所述第1评价指 标值为最佳值时的所述记录参数。13. 根据权利要求6所述的数据记录评价方法,其特征在于,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:垣本博哉宫泽冬树关口慎生小山胜弘
申请(专利权)人:太阳诱电株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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