运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路制造技术

本申请提供了一种运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路，运用于芯片测试技术领域，通过单片机主控电路与PC端连接；电源模块分别与单片机主控电路、ADC模块、恒流恒压源模块、第一开关切换电路和第二开关切换电路电连接；恒流恒压源模块与单片机主控电路连接；ADC模块分别与恒流恒压源模块和单片机主控电路连接；第一开关切换电路分别与ADC模块连接和单片机主控电路连接；第二开关切换电路分别与第一开关切换电路、单片机主控电路与待测芯片插座连接，实现在同一电路设备中进行自动化的开短路测试与漏电流测试，通过无需移动芯片对芯片上的各引脚进行测试，提升了测试效率以及准确性。及准确性。及准确性。

【技术实现步骤摘要】
运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路


[0001]本申请涉及芯片测试
，特别涉及为一种运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路。

技术介绍

[0002]在芯片验证测试中，开短路测试是用来检测芯片的各个引脚与其它引脚、电源或地之间是否发生短路或者开路。现有做法是将所有任意讯号引脚连接芯片的VDD或VSS，通过逆向偏压的方式来测量，此方法可以确认芯片内部任意讯号MOS特性对VDD与VSS两端逆向二极管是否正常，可以确定它是否存在开路或短路。而漏电流测试是用来检测芯片基板与内核DIE是否存在漏电流异常，如果芯片的静态电流过大或大于正常范围，轻则是应用到手机、笔记本电脑等会增加芯片功耗降低续航力，重则可能会发生故障或烧毁等问题。
[0003]目前的现有技术中，检测设备单一，需结合多个测量仪器，从而导致测量准确率低，且稳定性不好，易受外部信号干扰的问题。而且近年来，随着集成电路的不断发展，集成芯片的管脚也越来越多。若采用以往技术，对测试芯片在检测完一个引脚后，人工移动芯片以测试其它引脚，测试效率难以把控。因此，如何自动化地实现芯片所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路，其特征在于，包括：单片机主控电路、电源模块、硬件设置电路、恒流恒压源模块、ADC模块、第一开关切换电路、第二开关切换电路和待测芯片插座，其中：所述单片机主控电路与PC端连接；所述电源模块分别与单片机主控电路、ADC模块、恒流恒压源模块、第一开关切换电路和第二开关切换电路电连接，以进行供电；所述恒流恒压源模块与单片机主控电路连接，以控制并调节输入的电压与电流；所述ADC模块分别与恒流恒压源模块和单片机主控电路连接，以读取电流与电压回传至所述单片机主控电路；所述第一开关切换电路分别与ADC模块连接和单片机主控电路连接，以通过第一开关切换电路对待测芯片进行正偏压测试与逆偏压测试；所述第二开关切换电路分别与第一开关切换电路、单片机主控电路以及待测芯片插座连接，以切换所述待测芯片插座中芯片的引脚位置。2.根据权利要求1所述的运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路，其特征在于，还包括LED电路，所述LED电路分别...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁淑怡，陈建光，陈宗廷，李斌，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：