本实用新型专利技术公开了一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，包含壳体、以及设置在所述壳体内的多个芯片测试机构，所述的存储芯片测试装置还包含数据接口与存储设备，所述的数据接口的数量与所述的芯片测试机构的数量相同并一一对应的电性连接，所述的数据接口设置在所述的壳体上或所述壳体的内部；所述的存储设备的数量与所述的数据接口的数量相同并一一对应的可插拔连接,本实用新型专利技术以外置烧录测试程序的存储设备方式替代内置的方式，从而达到易于更换测试程序的目的，本实用新型专利技术的兼容性强，一台存储芯片测试装置可测试多种存储芯片，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本。大量的成本。大量的成本。
【技术实现步骤摘要】
一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置
[0001]本技术涉及一种芯片测试
，特别是涉及一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置。
技术介绍
[0002]IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。但是芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。
[0003]现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高,存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向。
[0004]存储芯片测试机台(或叫存储芯片测试装置)的核心是测试模块，测试模块的核心是测试板,测试板上内置有烧录好测试程序的存储设备。一台存储芯片测试机台内部一般设置有多个测试模块，这样就可以同时测试多个存储芯片。
[0005]现有技术中测试模块的测试程序更换非常的不便捷，存储设备中的测试程序烧录好后就一直沿用，那么，往往表现就是一种存储芯片测试机台只能测试一种存储芯片，兼容性差。
技术实现思路
[0006]本技术是对现有技术不足的改进，公开了一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，本技术方案以外置烧录测试程序的存储设备的方式替代内置的方式，达到易于更换测试程序的目的，本技术方案的兼容性强，本技术方案具体如下：
[0007]一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，包含壳体、以及设置在所述壳体内的多个芯片测试机构，所述的存储芯片测试装置还包含：
[0008]数据接口，所述的数据接口的数量与所述的芯片测试机构的数量相同并一一对应的电性连接，所述的数据接口设置在所述的壳体上或所述壳体的内部。
[0009]存储设备，所述的存储设备的数量与与所述的数据接口的数量相同并一一对应的可插拔连接。
[0010]进一步地，所述的数据接口为USB接口、mini
ꢀ‑
USB接口、micro
‑
USB接口、Type
‑
C接口、Lightning接口、PCIe接口或SATA接口中的一种或多种。
[0011]进一步地，所述的存储设备为U盘、SD卡、硬盘中的一种或多种。
[0012]进一步地，所述的芯片测试机构包含用于测试存储芯片的测试板、以及用于定位置放存储芯片的存储芯片测试台。
[0013]所述的存储芯片测试台用于装载并固定存储芯片，包含芯片座与芯片压件。
[0014]所述的芯片压件与所述的芯片座分离设置，所述的芯片座用于容置存储芯片，所
述的芯片压件用于压紧容置于所述的芯片座中的存储芯片。
[0015]所述的测试板与所述的芯片座中的存储芯片电性连接并进行数据通信。
[0016]所述的数据接口电性连接所述的测试板，所述的测试板通过所述的数据接口与所述的存储设备进行数据通信。
[0017]进一步地，所述的芯片座上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片.
[0018]所述的芯片压件为多层结构，包含第一压件层、设置在所述第一压件层下部的凸出部与设置在所述第一压件层上部的第二压件层。
[0019]所述的凸出部的数量与所述的测试位的数量相同并一一对应，当所述的芯片压件压紧所述的芯片座时，所述的凸出部压入对应的所述测试位中。
[0020]进一步地，所述的存储芯片测试台包含气缸，所述的气缸用于驱动所述存储芯片测试台的开合以便装载或卸载存储芯片，以及压紧存储芯片。
[0021]进一步地，所述的存储芯片测试装置还包含工控模块，所述的工控模块设置在所述的壳体之内，连接所述的存储芯片测试台，用于控制所述的存储芯片测试台的开合以及所述的测试板开展测试活动。
[0022]进一步地，所述的存储芯片测试装置还包含智能控制端，所述的智能控制端连接所述的工控模块，用于给所述的工控模块下达测试指令和/或动作指令。
[0023]进一步地，所述的智能控制端为工控电脑、PC电脑、笔记本电脑或平板电脑中的一种。
[0024]本技术为一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，本技术方案以外置烧录测试程序的存储设备的方式替代内置的方式，达到易于更换测试程序的目的，本技术方案的兼容性强，一台存储芯片测试装置(或存储芯片测试机台)可测试多种存储芯片，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本。
附图说明
[0025]图1本技术一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置的一种实施例的结构示意图。
[0026]图2本技术一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置中芯片测试机构的结构示意图。
[0027]图3本技术一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置中存储芯片测试台的结构示意图。
[0028]图4本技术一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置中芯片压件与芯片座的一种实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0029]下面结合附图对本技术做进一步详细的说明。
[0030]为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相同或相似的标号对应相同或相似的部件。
[0031]现有技术中对存储芯片（比如内存芯片）的测试还是以手动测试为主的，不管在哪个领域手动的操作就意味着效率低、成本高（比如需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高）。而在存储芯片测试领域手动测试的上述问题尤其凸出。所以如何开发一种效率高的存储芯片自动化测试设备，是本领域技术人员重点关注与需要解决的问题。
[0032]存储芯片测试机台(或叫存储芯片测试装置)的核心是测试模块，测试模块的核心是测试板,测试板上内置有烧录好测试程序的存储设备。一台存储芯片测试机台内部一般设置有多个测试模块，这样就可以同时测试多个存储芯片。然现有技术中测试模块的测试程序更换非常的不便捷，存储设备中的测试程序烧录好后就一直沿用，那么，往往表现就是一种存储芯片测试机台只能测试一种存储芯片，兼容性差。
[0033]本技术主要公开了一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，本存储芯片测试装置以外置烧录测试程序的存储设备的方式替代内置的方式，达到易于更换测试程序的目的，可兼容多种存储芯片，为存储芯片的规模化生产奠定了基础，以及提高了企业的核心竞争力。
[0034]本技术的具体实施例如下：
[0035]本实施例如图1所示，一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，包含壳体1、以及设置在所述壳体1内的多个芯片测试机构2。本实施例中，所述的芯片测试机构2的数量优选地设置为16个，下面将不再赘述。
[0036]本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，包含壳体、以及设置在所述壳体内的多个芯片测试机构，其特征在于，所述的存储芯片测试装置还包含：数据接口，所述的数据接口的数量与所述的芯片测试机构的数量相同并一一对应的电性连接，所述的数据接口设置在所述的壳体上或所述壳体的内部；存储设备，所述的存储设备的数量与所述的数据接口的数量相同并一一对应的可插拔连接。2.如权利要求1所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的数据接口为USB接口、mini
ꢀ‑
USB接口、micro
‑
USB接口、Type
‑
C接口、Lightning接口、PCIe接口或SATA接口中的一种或多种。3.如权利要求1所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的存储设备为U盘、SD卡、硬盘中的一种或多种。4.如权利要求1所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的芯片测试机构包含用于测试存储芯片的测试板、以及用于定位置放存储芯片的存储芯片测试台；所述的存储芯片测试台用于装载并固定存储芯片，包含芯片座与芯片压件；所述的芯片压件与所述的芯片座分离设置，所述的芯片座用于容置存储芯片，所述的芯片压件用于压紧容置于所述的芯片座中的存储芯片；所述的测试板与所述的芯片座中的存储芯片电性连接并进行数据通信；所述的数据接口电性连接所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨密凯，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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