本实用新型专利技术公开了一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,包含活动板与固定板,所述的固定板上设置有多个限位槽,所述的多个限位槽间隔均匀的形成整齐的一排,所述的限位槽用于放置及规整存储芯片，所述的活动板上设置有与所述限位槽一一对应的校正块,当需要规整存储芯片时,所述的校正块滑动至对应的所述限位槽,并把所述限位槽中的存储芯片推压至目标规整位，本实用新型专利技术为实现规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，可以实现自动化规整存储芯片的目的，本实用新型专利技术有效减少了人力的投入，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本。大量的成本。大量的成本。
【技术实现步骤摘要】
一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置
[0001]本技术涉及一种芯片测试
，特别是涉及一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置。
技术介绍
[0002]IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。但是芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。
[0003]现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高,存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向。
[0004]在存储芯片的自动化测试中往往是多存储芯片同时测试，在存储芯片的抓取到定位放置到测试工位过程中需要对存储芯片进行规整对齐，这样存储芯片才能高准确率的放置到测试工位中。
[0005]所以存储芯片对齐技术是实现存储芯片自动化测试的关键技术, 存储芯片对齐技术可以有效的减少人力的投入，不但能实现芯片测试的效率还可为企业节约大量的成本。
技术实现思路
[0006]针对以上现有技术的不足，本技术公开了一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置，本技术方案应用于存储芯片自动测试设备，机械手从芯片料盘中抓取存储芯片后会在本技术方案中把存储芯片进行规整，之后再送入测试机构进行测试。本技术方案可以实现规整存储芯片的目的，提高存储芯片定位装入测试工位的准确率，从而提高存储芯片的自动化测试效率。本技术方案具体如下：
[0007]一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,包含活动板与固定板,所述的固定板上设置有多个限位槽,所述的多个限位槽间隔均匀的形成整齐的一排,所述的限位槽用于放置及规整存储芯片。
[0008]所述的活动板上设置有与所述限位槽一一对应的校正块,当需要规整存储芯片时,所述的校正块滑动至对应的所述限位槽,并把所述限位槽中的存储芯片推压至目标规整位。
[0009]进一步地,所述的芯片对齐装置还包含设置在所述固定板两端下面的支撑板，所述的支撑板用于支撑所述的固定板。
[0010]进一步地, 所述的芯片对齐装置还包含底板，所述的活动板滑动设置在所述的底板之上。
[0011]进一步地,所述的活动板通过滑动件设置在所述的底板之上。
[0012]所述的底板上还设置有气缸，所述气缸的伸缩部固定在所述的活动板上，所述的气缸驱动伸缩部的伸缩来实现所述活动板的滑动。
[0013]进一步地,所述的滑动件为导轨或滑槽。
[0014]进一步地,所述的校正块包含固定部与校正部,所述的固定部与校正部都设置在所述的活动板上,所述校正部的一端还通过弹性元件连接所述的固定部。
[0015]进一步地, 所述的校正部包含两个校正面。
[0016]进一步地,所述的校正面上还设置有缓冲层。
[0017]进一步地,所述的缓冲层为硅胶层、橡胶层、EVA海绵层中的一种或两种。
[0018]进一步地,所述的芯片对齐装置还包含传感器，所述的传感器设置在所述固定板的两端，用于感应所述限位槽中放置存储芯片的动作。
[0019]本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置，为实现规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，本技术方案应用于自动化存储芯片测试机台，机械手从芯片料盘中抓取存储芯片后会在本技术方案中把存储芯片进行规整，之后再送入测试机构进行测试，本技术方案可以实现自动化规整存储芯片的目的，有效减少了人力的投入，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本。
附图说明
[0020]图1本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置的一种实施例整体结构示意图。
[0021]图2本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置的一种实施例的俯视图。
[0022]图3本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置中校正块把存储芯片推压至目标规整位的示意图。
[0023]图4本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置的一种实施例的的正视图。
[0024]图5本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置中校正部的结构示意图。
具体实施方式
[0025]下面结合附图对本技术做进一步详细的说明。
[0026]为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相同或相似的标号对应相同或相似的部件。
[0027]现有技术中对存储芯片（比如内存芯片）的测试还是以手动测试为主的，不管在哪个领域手动的操作就意味着效率低、成本高（比如需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高）。而在存储芯片测试领域手动测试的上述问题尤其凸出。所以如何开发一种效率高的存储芯片自动化测试设备，尤其是自动化测试设备里面应用的各功能模块设备，是本领域技术人员重点关注与需要解决的问题。
[0028]本技术主要公开了一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置，这个芯片
对齐装置是存储芯片自动测试设备中的一个关键机构，主要用于在测试活动中规整存储芯片，进一步保证待测存储芯片准确的定位装入测试工位，本芯片对齐装置可以保证存储芯片的规模化生产与提高企业的核心竞争力。
[0029]本芯片对齐装置为规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，本技术方案应用于自动化存储芯片测试机台，机械手从芯片料盘中抓取存储芯片后会在本技术方案中把存储芯片进行规整，之后再送入测试机构进行测试，本技术方案可以实现规整存储芯片的目的，有效减少了人力的投入，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本,最终达到提高企业的核心竞争力的目的。
[0030]本技术的具体实施例如下：
[0031]本实施例如图1所示，一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,包含活动板10与固定板20,所述的固定板20上设置有多个限位槽21,所述的多个限位槽21间隔均匀的形成整齐的一排,所述的限位槽21用于放置及规整存储芯片。
[0032]在本实施例中，限位槽21的数量优选为8个，8个限位槽21间隔均匀的排成一排，8个限位槽21中规整对齐存储芯片的位置处在一条直线上，如图2与图3所示。
[0033]本实施例中，所述的活动板10上设置有与所述限位槽21一一对应的校正块40。当需要规整存储芯片时,所述的校正块40滑动至对应的所述限位槽21,并把所述限位槽21中的存储芯片推压至目标规整位。
[0034]需要指出的是，本技术方案中的目标规整位就是规整对齐芯片的最终位置，本实施例中就是图2与图3中显示的存储芯片位置，即限位槽21的左上角位置，工作时校正块40把存储芯片推压至限位槽21的左上角位本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,包含活动板与固定板,其特征在于:所述的固定板上设置有多个限位槽,所述的多个限位槽间隔均匀的形成整齐的一排,所述的限位槽用于放置及规整存储芯片;所述的活动板上设置有与所述限位槽一一对应的校正块,当需要规整存储芯片时,所述的校正块滑动至对应的所述限位槽,并把所述限位槽中的存储芯片推压至目标规整位。2.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于,所述的芯片对齐装置还包含设置在所述固定板两端下面的支撑板，所述的支撑板用于支撑所述的固定板。3.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于, 所述的芯片对齐装置还包含底板，所述的活动板滑动设置在所述的底板之上。4.如权利要求3所述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于,所述的活动板通过滑动件设置在所述的底板之上；所述的底板上还设置有气缸，所述气缸的伸缩部固定在所述的活动板上，所述的气缸驱动伸缩部的...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨密凯，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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