本实用新型专利技术公开了一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置，包含抓取机构与龙门架，所述的抓取机构设置在所述的龙门架上并能够在所述的龙门架上移动，所述的抓取机构包含安装板、设置在所述安装板下端的多个吸头、以及设置在所述安装板上端的滑动机构，本实用新型专利技术为实现规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，本实用新型专利技术包含抓取机构与龙门架，二者的结合可以实现覆盖范围内的任意坐标下存储芯片的自动化抓取与移动，本实用新型专利技术可以有效的减少人力的投入，不但提高芯片测试效率还会为企业节约大量的成本。为企业节约大量的成本。为企业节约大量的成本。
【技术实现步骤摘要】
一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置
[0001]本技术涉及一种芯片测试
，特别是涉及一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置。
技术介绍
[0002]IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。
[0003]现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高,存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向。
[0004]而存储芯片自动化抓取技术是实现存储芯片自动化测试的关键技术, 存储芯片自动化抓取技术可以有效的减少人力的投入，不但能实现芯片测试的效率还可为企业节约大量的成本。存储芯片只有采用自动化的测试才能实现规模化生产、才能有效的控制生产成本、以及提高企业的核心竞争力。
技术实现思路
[0005]针对以上现有技术的不足，本技术公开了一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置，本技术方案包含抓取机构与龙门架，二者的结合可以实现覆盖范围内的任意坐标下存储芯片的自动化抓取与移动，本技术方案具体如下：
[0006]一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置，包含抓取机构与龙门架，所述的抓取机构设置在所述的龙门架上，并能够在所述的龙门架上移动。
[0007]所述的抓取机构包含安装板、设置在所述安装板下端的多个吸头、以及设置在所述安装板上端的滑动机构。
[0008]进一步地，所述的抓取机构与所述的多个吸头还设置有可以调整间距的滑台。
[0009]进一步地，所述的滑动机构包含第一驱动电机、被所述第一驱动电机驱动的第一丝杆滑轨、滑动件以及滑动座。
[0010]所述的滑动件为两个，分别竖直设置在所述安装板上，所述的第一丝杆滑轨竖直设置在所述滑动件中间。
[0011]所述的滑动座中间部分螺纹连接所述的丝杆滑轨，所述的滑动座的两端分别滑动连接两个所述的滑动件。
[0012]进一步地，所述的抓取机构还包含固定部，所述的固定部底端固定在所述的龙门架上，所述的固定部的侧面固定安装所述的滑动座，所述的固定部顶端固定所述的第一驱动电机。
[0013]进一步地，所述的龙门架包含第二驱动电机与第二丝杆滑轨：
[0014]所述的第二驱动电机包含X轴驱动电机与Y轴驱动电机，所述的第二丝杆滑轨包含X轴丝杆滑轨与Y轴丝杆滑轨。
[0015]所述的X轴驱动电机设置在所述的X轴丝杆滑轨的一端，并驱动所述的X轴丝杆滑轨转动；所述的Y轴驱动电机设置在所述的Y轴丝杆滑轨的一端，并驱动所述的Y轴丝杆滑轨转动。
[0016]进一步地，所述的X轴丝杆滑轨与Y轴丝杆滑轨水平设置。
[0017]所述的X轴丝杆滑轨为两个并平行设置，所述的Y轴丝杆滑轨设置在所述的X轴丝杆滑轨上并在X轴方向往复运动，或所述的Y轴轴丝杆滑轨为两个并平行设置，所述的X轴丝杆滑轨设置在所述的Y轴丝杆滑轨上并在Y轴方向往复运动。
[0018]进一步地，所述的固定部包含第一固定部与第二固定部，所述的第二固定部设置在所述的第一固定部之上，所述的第一固定部固定在所述龙门架上，所述的第二固定部固定所述的第一驱动电机。
[0019]进一步地，所述的第二固定部侧面还设置有与所述的吸头数量对应的真空表。
[0020]进一步地，所述的第一固定部与所述的第二固定部为中空的箱体。
[0021]进一步地，所述的第一固定部的后侧面下端还设置有承托板，用与承托所述龙门架的拖链。
[0022]本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置，为实现规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，本技术方案包含抓取机构与龙门架，二者的结合可以实现覆盖范围内的任意坐标下存储芯片的自动化抓取与移动，本技术方案有效的减少了人力的投入，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本。
附图说明
[0023]图1本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置的结构示意图。
[0024]图2本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置的整体结构示意图。
[0025]图3本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置中抓取机构的侧视图。
[0026]图4本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置中抓取机构的正视图。
[0027]图5本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置中抓取机构的一种工作过程中侧视图。
[0028]图6本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置内部示意图。
[0029]图7本技术一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置中抓取机构的立体图。
具体实施方式
[0030]下面结合附图对本技术做进一步详细的说明。
[0031]为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相
同或相似的标号对应相同或相似的部件。
[0032]现有技术中对存储芯片（比如内存芯片）的测试还是以手动测试为主的，不管在哪个领域手动的操作就意味着效率低、成本高（比如需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高）。而在存储芯片测试领域手动测试的上述问题尤其凸出。所以如何开发一种效率高的存储芯片自动化上下料装置，是本领域技术人员重点关注与需要解决的问题。
[0033]本技术主要公开了一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置，这个芯片抓取装置是存储芯片自动测试设备中的一个关键机构，主要用于在测试活动中自动化装载或卸载存储芯片，可以实现规模化生产与提高企业的核心竞争力。
[0034]本芯片抓取装置为规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，本技术方案包含抓取机构与龙门架，二者的结合可以实现覆盖范围内的任意坐标下存储芯片的自动化抓取与移动，有效的减少了人力的投入，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本,最终达到提高企业的核心竞争力的目的。
[0035]本技术的具体实施例如下:
[0036]本实施例如图1与图2所示，一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置1，包含抓取机构10与龙门架20，所述的抓取机构10设置在所述的龙门架20上，并能够在所述的龙门架20上移动。需要指出的是，龙门架20可以实现水平方向上的任意位置的定位。
[0037]本实施例中如图3、图4、图5与图7所示，所述的抓取机构10包含安装板11、设置在所述安装板11下端的多个吸头12、以及设置在所述安装板11上端的滑动机构13。本实施例在最佳的技术方案中，多个吸头12的数量设置为4本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置，其特征在于，包含抓取机构与龙门架，所述的抓取机构设置在所述的龙门架上，并能够在所述的龙门架上移动；所述的抓取机构包含安装板、设置在所述安装板下端的多个吸头、以及设置在所述安装板上端的滑动机构。2.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置，其特征在于，所述的抓取机构与所述的多个吸头还设置有可以调整间距的滑台。3.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置，其特征在于，所述的滑动机构包含第一驱动电机、被所述第一驱动电机驱动的第一丝杆滑轨、滑动件以及滑动座；所述的滑动件为两个，分别竖直设置在所述安装板上，所述的第一丝杆滑轨竖直设置在所述滑动件中间；所述的滑动座中间部分螺纹连接所述的丝杆滑轨，所述的滑动座的两端分别滑动连接两个所述的滑动件。4.如权利要求3所述的用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置，其特征在于，所述的抓取机构还包含固定部，所述的固定部底端固定在所述的龙门架上，所述的固定部的侧面固定安装所述的滑动座，所述的固定部顶端固定所述的第一驱动电机。5.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的芯片抓取装置，其特征在于，所述的龙门架包含第二驱动电机与第二丝杆滑轨：所述的第二驱动电机包含X轴驱动电机与Y轴驱动电机，所述的第二丝杆滑轨包含X轴丝杆滑轨与Y...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨密凯，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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