一种自动化存储芯片测试机台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种自动化存储芯片测试机台,包含测试机台壳体、设置在所述测试机台壳体内的芯片测试装置、设置在所述测试机台壳体内的动作机构、设置在所述测试机台壳体内的芯片转向装置、设置在所述测试机台壳体内的工控器以及设置在所述测试机台壳体内或所述测试机台壳体上的控制端，本实用新型专利技术包含芯片测试装置、动作机构、工控器及控制端，不但可以响应自动化动作指令以及对存储芯片开展自动化测试，还还包含芯片转向装置，可调整存储芯片的朝向，增加本实用新型专利技术兼容性,本实用新型专利技术不但大大提高了存储芯片的测试效率与兼容性而且还大大节约了人工成本。而且还大大节约了人工成本。而且还大大节约了人工成本。

【技术实现步骤摘要】
一种自动化存储芯片测试机台


[0001]本技术涉及一种存储芯片自动化测试
，特别是涉及一种自动化存储芯片测试机台。

技术介绍

[0002]IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。所以存储芯片在出厂前要经过严格的检测。
[0003]现有技术中多采用人工的操作方式对存储芯片进行测试，比如人工把存储芯片装载入特定的夹具内，人工再把装好存储芯片的夹具插入测试设备中，之后进行测试，测试完后再由人工手动拔下夹具。这种人工的操作方式效率很低，而投入的人工成本巨大。鉴于此，如何开发一种性价比高的自动化的存储芯片测试系统，以低成本的自动测试替代纯人工测试是本领域内技术人员普遍关注的问题。

技术实现思路

[0004]针对以上现有技术的不足，本技术公开了一种自动化存储芯片测试机台，本技术方案包含芯片测试装置、动作机构、工控器及控制端，本技术方案可以响应自动化动作指令以及对存储芯片开展自动化测试，大大节约了人工成本以及提高了测试效率。在更优的技术方案中,
[0005]在更进一步的技术方案中，本技术还包含芯片转向装置，芯片转向装置用于调整存储芯片的朝向，可增加本技术兼容性。
[0006]本技术的具体技术方案如下：
[0007]一种自动化存储芯片测试机台,包含测试机台壳体、设置在所述测试机台壳体内的芯片测试装置、设置在所述测试机台壳体内的动作机构、设置在所述测试机台壳体内的芯片转向装置、设置在所述测试机台壳体内的工控器、以及设置在所述测试机台壳体内或所述测试机台壳体上的控制端。
[0008]在更优的技术方案中，所述的芯片测试装置数量至少为1个。
[0009]所述的工控器连接所述的芯片测试装置、动作机构与芯片转向装置，所述的工控器至少包含电机驱动器与电磁阀。
[0010]本技术方案中，所述的控制端为工控电脑、PC电脑、笔记本电脑或平板电脑中的一种，并连接所述的工控器。
[0011]进一步地,所述的芯片测试装置包含测试板与存储芯片测试台，所述的测试板与所述的存储芯片测试台连接并进行数据通信。
[0012]所述的存储芯片测试台上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片。
[0013]本技术方案中,所述的动作机构包含第一自动上下料机构与第一抓取机构。
[0014]所述的第一自动上下料机构用于自动搬运芯片料盘至目标位置，所述的芯片料盘用于置放存储芯片。
[0015]所述的第一抓取机构用于抓取存储芯片，以及移动存储芯片至目标位置。
[0016]本技术方案中，所述的第一自动上下料机构与第一抓取机构分别连接所述的工控器。
[0017]进一步地,所述的第一自动上下料机构包含第一驱动电机、被所述第一驱动电机驱动的第一丝杆滑轨、以及与所述第一丝杆滑轨螺纹连接的第一托盘，所述的第一托盘之上置放所述的芯片料盘。
[0018]进一步地,所述的第一驱动电机为伺服电机，并连接所述的电机驱动器。
[0019]在更优的技术方案中,所述的动作机构还包含第二自动上下料机构。
[0020]所述的第二自动上下料机构用于置放空的芯片料盘以及自动搬运空的芯片料盘至目标位置。
[0021]具体地，所述的第二自动上下料机构包含第二驱动电机、被所述第二驱动电机驱动的第二丝杆滑轨、以及与所述第二丝杆滑轨螺纹连接的第二托盘，所述的第二托盘之上置放空的芯片料盘。
[0022]进一步地,所述的第二驱动电机为伺服电机，并连接所述的电机驱动器。
[0023]本技术方案中,所述的第一抓取机构由X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨与第一机械手组成。
[0024]所述的X轴滑轨与Y轴滑轨水平设置，所述的Z轴滑轨竖直设置，所述的第一机械手设置在所述的Z轴滑轨上。
[0025]所述的X轴滑轨为两根，平行设置；所述的Y轴滑轨为一根，架设在所述的两根所述的X轴滑轨之上；所述的Z轴滑轨设置在所述的Y轴滑轨之上。
[0026]在更优的技术方案中，所述的X轴滑轨为直线电机。
[0027]在更优的技术方案中，所述的Y轴滑轨由第三驱动电机、与所述的第三驱动电机驱动的第三丝杆滑轨组成。
[0028]在更优的技术方案中，所述的Z轴滑轨由第四驱动电机、与所述的第四驱动电机驱动的第四丝杆滑轨组成。
[0029]所述的第三驱动电机与所述的第四驱动电机均为伺服电机，并分别连接所述的电机驱动器。
[0030]进一步地,所述的第一机械手包含变距滑台、以及设置在所述变距滑台上的吸盘，所述的变距滑台与吸盘连接所述的工控器。
[0031]所述的吸盘数量至少为两个，所述的吸盘之间的间距以及水平高度可调节。
[0032]进一步地,所述的芯片转向装置包含芯片转向台与气缸，所述的气缸连接所述的电磁阀。
[0033]所述的芯片转向台上设置有容置存储芯片的转向位，所述的气缸推动所述的转向位转向。
[0034]本技术一种自动化存储芯片测试机台，本技术方案包含芯片测试装置、动作机构、工控器及控制端，不但可以响应自动化动作指令以及对存储芯片开展自动化测试，还
还包含芯片转向装置，可调整存储芯片的朝向，增加本技术兼容性。所以本技术不但大大提高了存储芯片的测试效率与兼容性而且还大大节约了人工成本。
附图说明
[0035]图1本技术一种自动化存储芯片测试机台的一种实施例结构示意图。
[0036]图2本技术一种自动化存储芯片测试机台中芯片测试装置的结构示意图。
[0037]图3本技术一种自动化存储芯片测试机台中动作机构的结构示意图。
[0038]图4本技术一种自动化存储芯片测试机台中芯片转向装置的结构示意图。
具体实施方式
[0039]下面结合附图对本技术做进一步详细的说明。
[0040]为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相同或相似的标号对应相同或相似的部件。
[0041]现有技术中多采用人工的操作方式对存储芯片进行测试，人工把存储芯片装载入特定的夹具内，人工再把装好存储芯片的夹具插入测试设备中，之后进行测试，测试完后再由人工手动拔下夹具。这种人工的操作方式效率很低还容易影响测试精度，而且投入的人工成本也是巨大的。
[0042]现有技术中也有自动化的存储芯片测试系统或测试机台，但是因为其测试性成本过高而且测试效率不高，从而得不到普及。所以如何开发一种性价比高的自动化存储芯片测试系统，以自动测试替代纯人工测试是本领域内技术人员普遍关注并需要解决的问题。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动化存储芯片测试机台,包含测试机台壳体, 其特征在于,还包含:芯片测试装置, 设置在所述测试机台壳体内，数量至少为1个；动作机构, 设置在所述测试机台壳体内；芯片转向装置, 设置在所述测试机台壳体内;工控器,设置在所述测试机台壳体内,连接所述的芯片测试装置、动作机构与芯片转向装置，所述的工控器至少包含电机驱动器与电磁阀；控制端, 设置在所述测试机台壳体内或所述测试机台壳体上,连接所述的工控器。2.如权利要求1所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的芯片测试装置包含测试板与存储芯片测试台，所述的测试板与所述的存储芯片测试台连接并进行数据通信；所述的存储芯片测试台上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片。3.如权利要求1所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的动作机构包含：第一自动上下料机构，用于自动搬运芯片料盘至目标位置，所述的芯片料盘用于置放存储芯片；第一抓取机构，用于抓取存储芯片，以及移动存储芯片至目标位置；所述的第一自动上下料机构与第一抓取机构分别连接所述的工控器。4.如权利要求3所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的第一自动上下料机构包含第一驱动电机、被所述第一驱动电机驱动的第一丝杆滑轨、以及与所述第一丝杆滑轨螺纹连接的第一托盘，所述的第一托盘之上置放所述的芯片料盘；所述的第一驱动电机为伺服电机，并连接所述的电机驱动器。5.如权利要求3所述的自动化存储芯片测试机台,其特征在于,所述的动作机构还包含第二自动上下料机构,用于置放空的芯片料盘以及自动搬运空的芯片料盘至目标位置;所述的第二自动上下料机构包含第二驱动电机、被所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨密凯，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：