非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法技术方案

本发明专利技术公开一种非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法。测试系统包括上位机、系统控制主板和多个待测芯片子板；上位机用于发送测试指令和测试算法数据到系统控制主板，以及接收系统控制主板转发的测试结果；系统控制主板用于接收并解析上位机发送的测试指令和测试算法数据，分发测试指令和测试算法数据到多个待测芯片子板，以及转发待测芯片子板生成的测试结果到上位机；待测芯片子板包括zynq主控单元和非易失性存储芯片，zynq主控单元用于接收并解析测试指令，通过测试图形算法完成对非易失性存储芯片的测试，以及获取并分析非易失性存储芯片的测试数据，以生成并转发测试结果到系统控制主板。上述方案，可以提高芯片测试效率。提高芯片测试效率。提高芯片测试效率。

【技术实现步骤摘要】
非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法


[0001]本专利技术涉及芯片检测
，特别是涉及一种非易失性存储芯片测试系统及非易失性存储芯片测试方法。

技术介绍

[0002]随着存储器产业的发展，非易失性存储芯片的测试占据着越来越重要的地位，它是一款存储芯片流向市场不可缺少的步骤，确保了一款存储芯片工作的稳定性和可靠性。非易失性存储芯片的测试模式一般包括scan、BIST(Built
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in Self Test，内建自测试技术)、以及IO(input/output输入输出)等测试模式，每种模式都有不同的测试目的。当前芯片的测试大多依赖大型ATE(automatic test equipment)测试机，通过对一款芯片IO管脚施加特定激励，观测芯片IO管脚的返回值，将其与期望值相比较即可知道芯片功能是否正常。但是ATE测试机台动辄上百万的价格，使得普通实验室很难具备ATE测试环境。同时，在芯片测试模式下，ATE测试机无法使用传统的软件调试手段，使得ATE测试机的灵活性受到了很大限制。所以，提供一套低成本、灵活性高、可本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非易失性存储芯片测试系统，其特征在于，所述非易失性存储芯片测试系统包括上位机、系统控制主板和多个待测芯片子板；所述上位机通过网络通讯协议与所述系统控制主板连接；所述上位机用于发送测试指令和测试算法数据到所述系统控制主板，以及接收所述系统控制主板转发的测试结果，并生成测试报告；所述系统控制主板通过工业总线与所述多个待测芯片子板连接；所述系统控制主板用于接收并解析所述上位机发送的所述测试指令和所述测试算法数据，分发所述测试指令和所述测试算法数据到所述多个待测芯片子板，以及转发所述待测芯片子板生成的所述测试结果到所述上位机；所述待测芯片子板包括zynq主控单元和非易失性存储芯片，所述zynq主控单元与所述非易失性存储芯片连接；所述zynq主控单元用于接收并解析所述测试指令，通过所述测试算法数据对应的测试图形算法完成对所述非易失性存储芯片的测试，以及获取并分析所述非易失性存储芯片的测试数据，以生成并转发所述测试结果到所述系统控制主板。2.根据权利要求1所述的非易失性存储芯片测试系统，其特征在于，所述网络通讯协议包括MODBUS
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TCP协议，所述上位机还用于发送底层软件升级指令到所述系统控制主板；所述工业总线包括EtherCAT总线、RS485总线以及CAN总线，所述系统控制主板用于根据所述底层软件升级指令，对所述多个待测芯片子板的IP核程序进行更新。3.根据权利要求1所述的非易失性存储芯片测试系统，其特征在于，所述系统控制主板包括闪存单元、内存单元和SD卡，所述闪存单元用于存储BOOT程序和FPGA程序，所述内存单元用于存储运行程序和缓存数据，所述SD卡用于存储设备日志信息以及生产调试烧写所述BOOT程序；和/或，所述待测芯片子板还包括高速缓存单元，所述高速缓存单元与所述zynq主控单元连接，所述高速缓存单元用于做数据的大容量缓存。4.根据权利要求1所述的非易失性存储芯片测试系统，其特征在于，所述zynq主控单元包括处理系统模块和可编程逻辑模块，所述处理系统模块和所述可编程逻辑模块之间通过AXI总线进行数据交换；所述处理系统模块与所述系统控制主板连接，所述处理系统模块用于接收并解析所述测试指令，利用所述测试图形算法对所述非易失性存储芯片进行测试，以及接收并分析所述可编程逻辑模块返回的所述非易失性存储芯片的测试数据，以生成并转发所述测试结果到所述系统控制主板；所述可编程逻辑模块与所述非易失性存储芯片连接，所述可编程逻辑模块用于根据所述测试图形算法对应的读写请求完成所述非易失性存储芯片的时序控制和所述非易失性存储芯片的逻辑管脚高低电平，从而完成对所述非易失性存储芯片的读写功能测试。5.根据权利要求1所述的非易失性存储芯片测试系统，其特征在于，所述非易失性存储芯片为NAND Flash存储芯片。6.一种非易失性存储芯片测试方法，其特征在于，所述非易失性存储芯片测试方法应用于非易失性存储芯片测试系统，所述非易失性存储芯片测试系统包括上位机、系统控制主板和多个待测芯片子板，所述上位机通过网络通讯协议与所述系统控制主板连接，所述系统控制主板通过工业总线与所述多个待测芯片子板连接，所述待测芯片子板包括zynq主
控单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏鹏，何海平，曾泉，江京，刘建辉，
申请(专利权)人：天芯互联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：