RAM全地址测试方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种RAM全地址测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：获取RAM全地址测试请求；根据所述RAM全地址测试请求下载测试程序到Flash中，所述测试程序包括第一段程序和第二段程序；在进行测试时先从Flash上加载所述第一段程序到RAM前半部分地址上运行，以测试RAM后半部分地址；待RAM后半部分地址测试完成后，通过主机下发特定命令给到所述第一段程序；当所述第一段程序收到所述特定命令后，从Flash中加载第二段程序到RAM后半部分地址上运行，以测试RAM前半部分地址。本发明专利技术简化了RAM全地址测试的流程，提高了测试效率，从而缩短了量产测试时间。从而缩短了量产测试时间。从而缩短了量产测试时间。

【技术实现步骤摘要】
RAM全地址测试方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机测
，特别是涉及一种RAM全地址测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)是与CPU直接交换数据的存储器，它可以随时读写，而且速度很快。RAM存储器的正常与否直接关系到系统的正常工作，因此需要在产品的量产测试阶段对RAM进行测试。由于量产测试程序存储在Flash中，运行在RAM上，因此测试时不能破坏RAM上正在运行的程序。
[0003]目前，若想对RAM的全部地址范围进行测试，传统的方法是先下载一个程序到Flash上，然后加载到RAM的前半部分地址范围上运行，以测试RAM后半部分地址范围，测试完成后，再下载另一个程序到FLASH上，加载到RAM的后半部分地址范围上运行，以测试前半部分地址范围，这种测试方法需下载两次程序，并且在下载两个程序中间需要进行FLASH擦除以及芯片启动代码复位等操作，导致了RAM测试时间较长。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种可以缩短测试时间的RAM全地址测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
[0005]一种RAM全地址测试方法，所述方法包括：
[0006]获取RAM全地址测试请求；
[0007]根据所述RAM全地址测试请求下载测试程序到Flash中，所述测试程序包括第一段程序和第二段程序；
[0008]在进行测试时先从Flash上加载所述第一段程序到RAM前半部分地址上运行，以测试RAM后半部分地址；
[0009]待RAM后半部分地址测试完成后，通过主机下发特定命令给到所述第一段程序；
[0010]当所述第一段程序收到所述特定命令后，从Flash中加载第二段程序到RAM后半部分地址上运行，以测试RAM前半部分地址。
[0011]在其中一个实施例中，所述在进行测试时先从Flash上加载所述第一段程序到RAM前半部分地址上运行，以测试RAM后半部分地址的步骤还包括：
[0012]所述第一段程序在RAM上运行后，对RAM地址的后半部分使用March
‑
C算法进行测试。
[0013]在其中一个实施例中，所述当所述第一段程序收到所述特定命令后，从Flash中加载第二段程序到RAM后半部分地址上运行，以测试RAM前半部分地址的步骤还包括：
[0014]所述第二段程序在RAM上运行后，对RAM地址的前半部分使用March
‑
C算法进行测试。
[0015]在其中一个实施例中，在所述待RAM后半部分地址测试完成后，通过主机下发特定
命令给到所述第一段程序的步骤之前还包括：
[0016]判断测试是否通过，若测试通过则主机下发特定命令给到所述第一段程序，若测试未通过则直接判断测试失败。
[0017]一种RAM全地址测试装置，所述RAM全地址测试装置包括：
[0018]获取模块，所述获取模块用于获取RAM全地址测试请求；
[0019]下载模块，所述下载模块用于根据所述RAM全地址测试请求下载测试程序到Flash中，所述测试程序包括第一段程序和第二段程序；
[0020]第一测试模块，所述第一测试模块用于在进行测试时先从Flash上加载所述第一段程序到RAM前半部分地址上运行，以测试RAM后半部分地址；
[0021]命令模块，所述命令模块用于待RAM后半部分地址测试完成后，通过主机下发特定命令给到所述第一段程序；
[0022]第二测试模块，所述第二测试模块用于当所述第一段程序收到所述特定命令后，从Flash中加载第二段程序到RAM后半部分地址上运行，以测试RAM前半部分地址。
[0023]在其中一个实施例中，所述第一测试模块还用于：
[0024]所述第一段程序在RAM上运行后，对RAM地址的后半部分使用March
‑
C算法进行测试。
[0025]在其中一个实施例中，所述第二测试模块还用于：
[0026]所述第二段程序在RAM上运行后，对RAM地址的前半部分使用March
‑
C算法进行测试。
[0027]在其中一个实施例中，所述装置还包括判断模块，所述判断模块用于：
[0028]判断测试是否通过，若测试通过则主机下发特定命令给到所述第一段程序，若测试未通过则直接判断测试失败。
[0029]一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。
[0030]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
[0031]上述RAM全地址测试方法、装置、计算机设备和存储介质通过获取RAM全地址测试请求；根据所述RAM全地址测试请求下载测试程序到Flash中，所述测试程序包括第一段程序和第二段程序；在进行测试时先从Flash上加载所述第一段程序到RAM前半部分地址上运行，以测试RAM后半部分地址；待RAM后半部分地址测试完成后，通过主机下发特定命令给到所述第一段程序；当所述第一段程序收到所述特定命令后，从Flash中加载第二段程序到RAM后半部分地址上运行，以测试RAM前半部分地址。本专利技术将原本需下载两个程序的过程变为只需下载一个程序，简化了RAM全地址测试的流程，提高了测试效率，从而缩短了量产测试时间。
附图说明
[0032]图1为现有技术中RAM全地址测试的示意图；
[0033]图2为本专利技术中RAM全地址测试的示意图；
[0034]图3为一个实施例中RAM全地址测试方法的流程示意图；
[0035]图4为另一个实施例中RAM全地址测试方法的流程示意图；
[0036]图5为一个实施例中RAM全地址测试装置的结构框图；
[0037]图6为另一个实施例中RAM全地址测试装置的结构框图；
[0038]图7为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0039]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0040]参考图1所示的现有技术中进行RAM全地址测试的示意图，具体地分为以下几个步骤：
[0041]步骤1：下载第1个程序到Flash上，BootRom(启动代码)加载第一个程序到RAM前半部分地址上运行。
[0042]步骤2：第一个程序负责测试RAM后半部分地址范围，测试完成后，擦除Flash上的第一个程序，并复位BootRom。
[0043]步骤3：下载第2个程序到Flash上。
[0044]步骤4：BootRom加载第二个程序到RAM后半部分地址上运行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种RAM全地址测试方法，所述方法包括：获取RAM全地址测试请求；根据所述RAM全地址测试请求下载测试程序到Flash中，所述测试程序包括第一段程序和第二段程序；在进行测试时先从Flash上加载所述第一段程序到RAM前半部分地址上运行，以测试RAM后半部分地址；待RAM后半部分地址测试完成后，通过主机下发特定命令给到所述第一段程序；当所述第一段程序收到所述特定命令后，从Flash中加载第二段程序到RAM后半部分地址上运行，以测试RAM前半部分地址。2.根据权利要求1所述的RAM全地址测试方法，其特征在于，所述在进行测试时先从Flash上加载所述第一段程序到RAM前半部分地址上运行，以测试RAM后半部分地址的步骤还包括：所述第一段程序在RAM上运行后，对RAM地址的后半部分使用March
‑
C算法进行测试。3.根据权利要求2所述的RAM全地址测试方法，其特征在于，所述当所述第一段程序收到所述特定命令后，从Flash中加载第二段程序到RAM后半部分地址上运行，以测试RAM前半部分地址的步骤还包括：所述第二段程序在RAM上运行后，对RAM地址的前半部分使用March
‑
C算法进行测试。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的RAM全地址测试方法，其特征在于，在所述待RAM后半部分地址测试完成后，通过主机下发特定命令给到所述第一段程序的步骤之前还包括：判断测试是否通过，若测试通过则主机下发特定命令给到所述第一段程序，若测试未通过则直接判断测试失败。5.一种RAM全地址测试装置，其特征在于，所述RAM全地址测试装置包括：获取模块，所述获取模块用于获取RAM全地址测试请求；下...

【专利技术属性】
技术研发人员：李华赛，程曼，杨洋，
申请(专利权)人：苏州忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：