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运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路制造技术
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文档序号:30439733
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本申请提供了一种运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路,运用于芯片测试技术领域,通过单片机主控电路与PC端连接;电源模块分别与单片机主控电路、ADC模块、恒流恒压源模块、第一开关切换电路和第二开关切换电路电连接;恒流恒压源模块与单片机主...
该专利属于深圳市宏旺微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市宏旺微电子有限公司授权不得商用。
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