一种基于二端测试的引脚资源分配方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于二端测试的引脚资源分配方法及系统，利用图论的相关理论来解决多引脚的待测器件进行二端测试时的引脚资源分配问题。可以在自动化测试中减少testbench上测试引脚资源的浪费，另一方面，可以降低空间复杂度，减少对计算机内存的消耗，并减小时间复杂度，从而进一步减少测试时间。

【技术实现步骤摘要】
一种基于二端测试的引脚资源分配方法及系统
本专利技术涉及半导体设计和生产领域，特别涉及一种基于二端测试的引脚资源分配方法及系统。
技术介绍
在芯片测试中，常采用的是二端测试，即只需要将DUT（待测器件）中的两个pin（引脚）进行导通，测试得到相关结果的方法。在实际的测试操作中，需要将DUT上用于两端测试连接的一对引脚连接到外部testbench（测试台）的一对逻辑地址相邻的测试引脚上。图1为一个多引脚的待测器件的电路测试引脚分配示例，Z1、Z2、Z3为分别需要进行两端测试的具体元件，其两端端口分别为A和B、A和C、C和D，Z1、Z2、Z3组成一个DUT，即A、B、C、D为该DUT进行二端测试时需要进行分配的引脚。因此，该DUT总共可以定义三组待分配的引脚连接组PinConnection，分别为：{A；B}、{A；C}、{C；D}。因该DUT待分配的引脚数量较少，通过穷举即可获得该DUT进行二端测试时的最优引脚分配方式，即如图1所示的引脚分配方式{A；B}、{A；C}、{C；D}，该种引脚分配方式使DUT只需占用testbench上4个测试引脚。但是，随着引脚分配场景的复杂度提升，以及应用场景对引脚资源分配的时间要求和引脚分配算法的精度要求，提供一种高效精确的基于二端测试的待测器件引脚资源分配可行算法，用以高效地利用testbench上的测试引脚，是一个关键性的问题。因此，有必要提供一种高效精确的基于二端测试的待测器件引脚资源分配可行算法。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的不足，本专利技术的目的在于：提供一种利用图论的相关理论来解决多引脚的待测器件进行二端测试时的引脚资源分配方法及其系统。为实现上述专利技术目的，本专利技术提供以下技术方案：本专利技术涉及一种基于二端测试的引脚资源分配方法，包括：获取待测器件上所有待分配的引脚连接组，每个待分配的引脚连接组包括两个引脚集合，分配时从这两个引脚集合中各确定一个引脚用于连接到测试引脚，完成所有引脚连接组的分配后，得到该待测器件的引脚分配方式；根据引脚连接组中不同的引脚分配，得到若干种引脚分配方式；根据所述引脚分配方式建立邻接图，邻接图中的结点对应待测器件的引脚，邻接图中的边代表引脚关系，即某条边的两个结点对应一个引脚连接组中的两个引脚；并利用邻接图计算每个引脚分配方式的资源数，所述资源数是指该引脚分配方式所需占用测试引脚的数量；资源数最小的引脚分配方式，即为该待测器件进行二端测试时的最优引脚分配方式。在本专利技术中，所述利用邻接图计算每个引脚分配方式的资源数是指：计算邻接图被完整画出所需的最少笔画数，再将该最少笔画数与引脚连接组的数量相加，得到的值即为该引脚分配方式的资源数；其中，邻接图被完整画出所需的最少笔画数S为：S=；所述K是邻接图中所包含的连通图个数，所述Sk是第k个连通图被完整画出所需的最少笔画数。在本专利技术中，所述引脚连接组为无向引脚连接组（2pinconnection），无向引脚连接组中分配的两个引脚对于要连接的测试引脚的逻辑地址没有前后顺序要求；分配无向引脚连接组形成的引脚分配方式所构建的邻接图为无向邻接图；当邻接图为无向邻接图时，Sk的计算方式为：遍历第k个连通图中所有结点，得到该连通图中奇度结点的个数N，则：1）N为0或者2，则Sk=1；2）N>2（N必然为偶数），则Sk=N/2。在本专利技术中，所述引脚连接组为有向引脚连接组（2pinwithdirection），有向引脚连接组中的两个引脚对于要连接的测试引脚的逻辑地址有前后顺序要求；有向引脚连接组形成的引脚分配方式所构建的邻接图为有向邻接图；当邻接图为有向邻接图时，Sk的计算方式为：遍历第k个连通图中所有结点，则：1）每个结点的出度和入度都相等，则Sk=1；2）若出入度之差为正数的所有结点，其出入度之差的和为X，其余所有结点的出入度之差的和为-X，X>1，则Sk=X。在本专利技术中，当计算某邻接图被完整画出所需的最少笔画数为1时，则直接将该邻接图对应的引脚分配方式作为待测器件进行二端测试时的最优引脚分配方式，即能最少占用测试引脚的引脚分配方式。在本专利技术中，每个测试引脚只能连接待测器件上的一个引脚。本专利技术的还涉及一种基于二端测试的引脚资源分配系统，包括整体控制模块、邻接表建立模块、计算资源数模块和更新资源数模块，所述整体控制模块获取待测器件上所有待分配的引脚连接组，每个待分配的引脚连接组包括两个引脚集合，分配时整体控制模块从这两个引脚集合中各确定一个引脚用于连接到测试引脚，完成所有引脚连接组的分配后，得到该待测器件的引脚分配方式；根据引脚连接组中不同的引脚分配，得到若干种引脚分配方式；所述邻接图建立模块根据所述引脚分配方式建立邻接图；其中，邻接图中的结点对应待测器件的引脚，邻接图中的边代表引脚关系；所述计算资源数模块根据引脚分配方式对应的邻接图计算引脚分配方式的资源数；所述资源数是指该引脚分配方式所需占用测试引脚的数量；所述更新资源数模块比较计算资源数模块计算得出的引脚分配方式的资源数，并将资源数最小的引脚分配方式确定为该待测器件进行二端测试时的最优引脚分配方式。在本专利技术中，所述计算资源数模块利用邻接图计算每个引脚分配方式的资源数是指：计算邻接图被完整画出所需的最少笔画数，再将该最少笔画数与引脚连接组的数量相加，得到的值即为该引脚分配方式的资源数；其中，邻接图被完整画出所需的最少笔画数S为：S=；所述K是邻接图中所包含的连通图个数，所述Sk是第k个连通图被完整画出所需的最少笔画数。在本专利技术中，所述引脚连接组为无向引脚连接组，无向引脚连接组中分配的两个引脚对于要连接的测试引脚的逻辑地址没有前后顺序要求；分配无向引脚连接组形成的引脚分配方式所构建的邻接图为无向邻接图；当邻接图为无向邻接图时，Sk的计算方式为：遍历第k个连通图中所有结点，得到该连通图中奇度结点的个数N，则：1）N为0或者2，则Sk=1；2）N>2（N必然为偶数），则Sk=N/2。在本专利技术中，所述引脚连接组为有向引脚连接组，有向引脚连接组中的两个引脚对于要连接的测试引脚的逻辑地址有前后顺序要求；有向引脚连接组形成的引脚分配方式所构建的邻接图为有向邻接图；当邻接图为有向邻接图时，Sk的计算方式为：遍历第k个连通图中所有结点，则：1）每个结点的出度和入度都相等，则Sk=1；2）若出入度之差为正数的所有结点，其出入度之差的和为X，其余所有结点的出入度之差的和为-X，X>1，则Sk=X。在本专利技术中，当计算资源数模块计算某邻接图被完整画出所需的最少笔画数为1时，则直接将该邻接图对应的引脚分配方式作为待测器件进行二端测试时的最优引脚分配方式，即能最少占用测试引脚的引脚分配方式。与现有技术相比，本专利技术的有益效果：1、本专利技术的基于二端测试的引脚资源分配方法，采取了图论的相关理论，可以降低问题的复杂度，建立邻接图之后，几乎只需要遍历邻接图中的结点，不需要复杂的深度搜索、广度搜索，普遍循环遍历即可，这样本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于二端测试的引脚资源分配方法，包括：/n获取待测器件上所有待分配的引脚连接组，每个待分配的引脚连接组包括两个引脚集合，分配时从这两个引脚集合中各确定一个引脚用于连接到测试引脚，完成所有引脚连接组的分配后，得到该待测器件的引脚分配方式；根据引脚连接组中不同的引脚分配，得到若干种引脚分配方式；/n根据所述引脚分配方式建立邻接图，邻接图中的结点对应待测器件的引脚，邻接图中的边代表引脚关系；并利用邻接图计算每个引脚分配方式的资源数，所述资源数是指该引脚分配方式所需占用测试引脚的数量；/n资源数最小的引脚分配方式，即为该待测器件进行二端测试时的最优引脚分配方式。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于二端测试的引脚资源分配方法，包括：
获取待测器件上所有待分配的引脚连接组，每个待分配的引脚连接组包括两个引脚集合，分配时从这两个引脚集合中各确定一个引脚用于连接到测试引脚，完成所有引脚连接组的分配后，得到该待测器件的引脚分配方式；根据引脚连接组中不同的引脚分配，得到若干种引脚分配方式；
根据所述引脚分配方式建立邻接图，邻接图中的结点对应待测器件的引脚，邻接图中的边代表引脚关系；并利用邻接图计算每个引脚分配方式的资源数，所述资源数是指该引脚分配方式所需占用测试引脚的数量；
资源数最小的引脚分配方式，即为该待测器件进行二端测试时的最优引脚分配方式。


2.根据权利要求1所述的基于二端测试的引脚资源分配方法，其特征在于,所述利用邻接图计算每个引脚分配方式的资源数是指：计算邻接图被完整画出所需的最少笔画数，再将该最少笔画数与引脚连接组的数量相加，得到的值即为该引脚分配方式的资源数；
其中，邻接图被完整画出所需的最少笔画数S为：S=；所述K是邻接图中所包含的连通图个数，所述Sk是第k个连通图被完整画出所需的最少笔画数。


3.根据权利要求2所述的基于二端测试的引脚资源分配方法，其特征在于,所述引脚连接组为无向引脚连接组，无向引脚连接组中分配的两个引脚对于要连接的测试引脚的逻辑地址没有前后顺序要求；分配无向引脚连接组形成的引脚分配方式所构建的邻接图为无向邻接图；
当邻接图为无向邻接图时，Sk的计算方式为：遍历第k个连通图中所有结点，得到该连通图中奇度结点的个数N，则：1）N为0或者2，则Sk=1；2）N>2（N必然为偶数），则Sk=N/2。


4.根据权利要求2所述的基于二端测试的引脚资源分配方法，其特征在于,所述引脚连接组为有向引脚连接组，有向引脚连接组中的两个引脚对于要连接的测试引脚的逻辑地址有前后顺序要求；有向引脚连接组形成的引脚分配方式所构建的邻接图为有向邻接图；
当邻接图为有向邻接图时，Sk的计算方式为：遍历第k个连通图中所有结点，则：1）每个结点的出度和入度都相等，则Sk=1；2）若出入度之差为正数的所有结点，其出入度之差的和为X，其余所有结点的出入度之差的和为-X，X>1，则Sk=X。


5.根据权利要求2所述的一种基于二端测试的引脚资源分配方法，其特征在于,当计算某邻接图被完整画出所需的最少笔画数为1时，则直接将该邻接图对应的引脚分配方式作为待测器件进行二端测试时的最优引脚分配方式，即能最少占用测试引脚的引脚分配方式。


6.一种基于二端测试的引脚资源分配系统，包括整体控制模块、邻接表建立模块、计算资源数模块和更新资源数模块；
所述整...

【专利技术属性】
技术研发人员：任桂锋，邵康鹏，郑勇军，
申请(专利权)人：杭州广立微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33