一种E-fuse熔断特性的测试电路、方法和系统技术方案

本申请涉及一种E‑fuse熔断特性的测试电路、方法和系统，该测试电路包括选择电路、开关电路和多个焊盘；开关电路包括多个E‑fuse块和多个第一开关；E‑fuse块包括多个E‑fuse单元；选择电路的输入端连接地址信号和测试类型信号，选择电路根据地址信号和测试类型信号，控制开关电路选中目标E‑fuse单元，以及选择目标E‑fuse单元的工作模式；多个焊盘包括第三焊盘、第四焊盘、多个第一焊盘和多个第二焊盘；每个E‑fuse单元分别连接到第一焊盘和第二焊盘；同一个E‑fuse块中的E‑fuse单元都连接到相同的一对第一焊盘和第二焊盘，相邻两个E‑fuse块中的E‑fuse单元共享第一焊盘或者第二焊盘；E‑fuse单元包括E‑fuse，E‑fuse的一端通过第一开关连接到第三焊盘，另一端通过第一开关连接到第四焊盘。提高了电路的面积利用率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片测试，特别是涉及一种e-fuse熔断特性的测试电路、方法和系统。

技术介绍

1、e-fuse（electrically programmable fuse）电子熔断或电子可编程熔断是一种特殊类型的非易失性存储器，广泛应用在集成电路中，在电路单元初始状态并不完美时，采用e-fuse可为测试或设计提供子电路的替换。

2、目前对e-fuse的熔断特性的测试，是通过e-fuse单元的两端直连至焊盘的方式来进行熔断特性的测试，每个e-fuse单元的fs端、fl端、熔断控制端、信号测试端均需要连接至相应的焊盘，进行大量的e-fuse单元的熔断特性的测试时，需要大量的焊盘，而焊盘的面积通常较大，大量的焊盘导致电路的面积利用率较低。

技术实现思路

1、在本实施例中提供了一种e-fuse熔断特性的测试电路、方法和系统，以解决现有技术中大量的焊盘导致电路的面积利用率较低的问题。

2、第一个方面，在本实施例中提供了一种e-fuse熔断特性的测试电路，所述测试电路包括选择电路、开关电路和多个焊盘本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种E-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括选择电路、开关电路和多个焊盘；

2.根据权利要求1所述的E-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述选择电路还包括第一译码器、第二译码器和多个三输入与门；

3.根据权利要求2所述的E-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述第二译码器输出列地址信号，用于选中所述目标E-fuse块中的目标E-fuse单元，包括：

4.根据权利要求1所述的E-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述每个所述E-fuse单元分别连接到所述第一焊盘和所述第二焊盘，包括：

5.根据权利要...

【技术特征摘要】

1.一种e-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括选择电路、开关电路和多个焊盘；

2.根据权利要求1所述的e-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述选择电路还包括第一译码器、第二译码器和多个三输入与门；

3.根据权利要求2所述的e-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述第二译码器输出列地址信号，用于选中所述目标e-fuse块中的目标e-fuse单元，包括：

4.根据权利要求1所述的e-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述每个所述e-fuse单元分别连接到所述第一焊盘和所述第二焊盘，包括：

5.根据权利要求4所述的e-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述选择电路的输出端与所述开关电路的控制端连接，包括：

6.根据权利要求1所述的e-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述第一开关和第二开关采用nmos晶体管，所述nmos晶体管的两端分别指源极和漏极，所述nmos晶体管的控制端是指栅极。

7.根据权利要求1所述的e-fuse熔断特性的测试电路，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨璐丹，尤炎，施姣，
申请(专利权)人：杭州广立微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：

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