System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 良率多维度互动系统、方法、计算机设备和存储介质技术方案_技高网

良率多维度互动系统、方法、计算机设备和存储介质技术方案

技术编号:41183043 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-07 22:16
本申请涉及一种良率多维度互动系统、方法、计算机设备和存储介质。其中,该系统包括:处理引擎,用于接收关于描述芯片良率问题的输入,并基于输入进行分析处理后反馈输出;处理引擎基于输入进行分析处理后反馈输出,包括:利用输入的关于描述芯片良率问题的若干个数据维度的信息,基于处理引擎耦合的知识数据库模块和/或芯片良率分析模块,生成芯片良率问题的结果用于输出;知识数据库模块,用于基于知识数据库中预存储的数据生成芯片良率问题的结果;芯片良率分析模块,用于实时分析输入的若干个数据维度的信息生成芯片良率问题的结果。采用本系统进行芯片良率分析,能够根据用户的个性化需求,准确、及时地提供针对性的良率分析结果。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及半导体,特别是涉及一种良率多维度互动系统、方法、计算机设备和存储介质


技术介绍

1、集成电路产业正向低功耗、小尺寸、高度集成、智能化发展,对设计、制造、封装各环节要求严苛。提升集成电路良品率并有效应用于先进工艺,对产业发展至关重要。当前,通过制造测试芯片、使用测试设备监控良品率,并结合技术人员分析数据以改善良品率,是重要手段。

2、然而,集成电路产品设计制造过程中产生海量数据,如何有效分析这些数据以提升成品率和产品性能,成为竞争焦点。虽然机器学习等技术的发展为数据分析提供了新可能,但是现有的技术中尚未出现一种能够根据用户的询问信息,自动对芯片良率数据进行深入分析的交互式芯片良率数据分析系统。

3、用户的询问信息可能包含芯片性能、制造过程、测试数据等多个方面的问题,但现有的工具往往无法将这些询问与芯片良率数据进行有效的关联和匹配,以进行全面的自动分析,从而无法为用户提供准确、及时的反馈。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够根据询问信息和芯片良率数据自动进行芯片良率问题分析,以及时应答反馈关于芯片良率问题分析结果的良率多维度互动系统、方法、计算机设备和存储介质。本专利技术为解决现有技术问题,已实施这一套良率多维度互动系统,即“chatyes系统”(chat良率提升系统 yield enhancement system)。

2、第一方面,在本实施例中提供了一种良率多维度互动系统,包括处理引擎、知识数据库模块和芯片良率分析模块;

3、所述处理引擎,用于接收关于描述芯片良率问题的输入,并基于所述输入进行分析处理后反馈输出;其中,所述输入包括关于描述所述芯片良率问题的至少一个数据维度的信息;

4、所述处理引擎基于所述输入进行分析处理后反馈输出,包括:利用所述输入的关于描述所述芯片良率问题的若干个数据维度的信息,基于所述处理引擎耦合的知识数据库模块和/或芯片良率分析模块,生成所述芯片良率问题的结果用于输出;

5、所述知识数据库模块,用于基于所述知识数据库中的数据生成所述芯片良率问题的结果;

6、所述芯片良率分析模块,用于分析所述输入的若干个数据维度的信息生成所述芯片良率问题的结果。

7、在其中一个实施例中,所述数据维度根据信息的性质进行分类,包括但不限于:格式维度、时间维度、地理维度、产品维度、客户维度、行为维度、特征维度。比如语音格式、文字格式、图片格式、文档格式等是根据格式维度来进行分类的;颜色、尺寸等维度是根据特征维度来进行分类的。

8、在其中一个实施例中,所述处理引擎包括分类模型;

9、所述分类模型根据所述输入的关于描述所述芯片良率问题的若干个数据维度的信息,对所述芯片良率问题进行分类;

10、所述处理引擎对分属不同类型的芯片良率问题采用不同的分析处理方式;

11、其中,所述分析处理方式包括:基于所述知识数据库模块进行分析处理,基于所述芯片良率分析模块进行分析处理,以及基于所述知识数据库模块和芯片良率分析模块进行分析处理。

12、在其中一个实施例中,所述知识数据库模块包括第一输入输出合集以及芯片良率分析技术文件中的至少一种;所述第一输入输出合集包括所述处理引擎接收的关于描述芯片良率问题的历史输入,以及反馈的历史输出;所述芯片良率分析技术文件包括论文、专利文档、项目文件以及实务记录文件中的至少一种;

13、所述知识数据库模块,用于基于所述第一输入输出合集和/或芯片良率分析技术文件,预生成多组芯片良率问题的问答集,并基于所述输入的关于描述所述芯片良率问题的若干个数据维度的信息,在所述问答集中进行问题匹配,匹配完成后生成所述芯片良率问题的结果;

14、所述知识数据库模块还用于实时学习新获取的第一输入输出合集以及芯片良率分析技术文件,对预生成的问答集进行更新。

15、在其中一个实施例中,所述处理引擎输出部分或者全部的所述芯片良率问题的结果时,对所述结果添加至少一个标签后一并输出;

16、所述标签包括:该结果中的至少一个数据维度的信息的最后更新时间、更新用户、更新地点、更新来源中的至少一个。

17、在其中一个实施例中,所述良率多维度互动系统设置有权限管理模块,所述权限管理模块包括用户权限管理、数据权限管理和使用权限管理中的至少一项功能;

18、所述用户权限管理,包括对用户的权限根据用户所属的机构、组织架构和项目中的至少一种进行赋权,并根据用户的权限来分析处理其输入;

19、所述数据权限管理,包括对所述知识数据库模块中预存储的数据进行分级管理,根据用户权限使用对应级别的数据生成结果输出给所述用户;

20、所述使用权限管理,包括对所述芯片良率分析模块中的功能进行分级管理,根据用户权限使用对应级别的功能生成结果输出给所述用户。

21、在其中一个实施例中,所述利用所述输入的关于描述所述芯片良率问题的若干个数据维度的信息,基于所述处理引擎耦合的知识数据库模块和/或芯片良率分析模块,生成所述芯片良率问题的结果用于输出,包括:

22、当达到预设条件后,获取所述输入的关于描述所述芯片良率问题的所有数据维度的信息,并根据预设的规则对各数据维度的信息进行排序和/或计算权重,并基于顺序和/或权重筛选若干个数据维度的信息进行使用;

23、其中,所述预设条件包括:不同数据维度的信息之间存在矛盾,相同数据维度的信息存在矛盾,全部数据维度的信息叠加后所述知识数据库模块的问答集中无法成功进行问题匹配,和/或全部数据维度的信息叠加后无法选择调用所述芯片良率分析模块中的功能。

24、在其中一个实施例中,所述根据预设的规则对各数据维度的信息进行排序和/或计算权重,并基于顺序和/或权重筛选若干个数据维度的信息进行使用,包括:

25、利用贝叶斯统计学,对基于顺序和/或权重筛选出来的所述若干个数据维度的信息进行处理,实现对所述芯片良率问题的描述和/或分析处理。

26、在其中一个实施例中,所述良率多维度互动系统还包括原始数据处理模块,用于对所述输入的关于描述所述芯片良率问题的至少一个数据维度信息进行预处理,得到预处理后的所述数据维度的信息;

27、其中,所述预处理包括数据压缩、数据预统计、数据格式转换和缺陷类型标注中的至少一种。

28、在其中一个实施例中,所述良率多维度互动系统还包括要素判定模块,用于基于所述输入的关于描述所述芯片良率问题的数据维度的信息,以及预设判定规则,确定所述芯片良率问题的解决要素是否完整:

29、若完整,则进行分析处理后反馈输出;

30、若不完整,则向所述处理引擎输出询问信息,以使所述处理引擎根据询问信息,向用户输出要求补充关于描述所述芯片良率问题的至少一个数据维度的信息。

31、在其中一个实施例中,所述良率多维度互动系统还包括语言处本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种良率多维度互动系统,其特征在于,包括处理引擎、知识数据库模块和芯片良率分析模块;

2.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述处理引擎包括分类模型;

3.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述知识数据库模块包括第一输入输出合集以及芯片良率分析技术文件中的至少一种;所述第一输入输出合集包括所述处理引擎接收的关于描述芯片良率问题的历史输入,以及反馈的历史输出;所述芯片良率分析技术文件包括论文、专利文档、项目文件以及实务记录文件中的至少一种;

4.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述处理引擎输出部分或者全部的所述芯片良率问题的结果时,对所述结果添加至少一个标签后一并输出;

5.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述良率多维度互动系统设置有权限管理模块,所述权限管理模块包括用户权限管理、数据权限管理和使用权限管理中的至少一项功能;

6.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述利用所述输入的关于描述所述芯片良率问题的若干个数据维度的信息,基于所述处理引擎耦合的知识数据库模块和/或芯片良率分析模块,生成所述芯片良率问题的结果用于输出,包括:

7.根据权利要求6所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述根据预设的规则对各数据维度的信息进行排序和/或计算权重,并基于顺序和/或权重筛选若干个数据维度的信息进行使用,包括:

8.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述良率多维度互动系统还包括原始数据处理模块,用于对所述输入的关于描述所述芯片良率问题的至少一个数据维度信息进行预处理,得到预处理后的所述数据维度的信息;

9.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述良率多维度互动系统还包括要素判定模块,用于基于所述输入的关于描述所述芯片良率问题的数据维度的信息,以及预设判定规则,确定所述芯片良率问题的解决要素是否完整:

10.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述良率多维度互动系统还包括语言处理模块,用于基于预设的词典和自然语言处理方式,对所述输入进行处理,形成以最小词性为单位且包含语义的词项单元,提取所述输入的至少一个数据维度的信息给所述处理引擎进行分析处理;

11.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述良率多维度互动系统基于机器学习模型、深度机器学习模型、强化学习模型、非强化学习模型和自然语言处理模型中的至少一种构建。

12.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述处理引擎,为对待训练的芯片良率分析模型进行训练得到的;对待训练的芯片良率分析模型进行训练,包括:

13.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述芯片良率分析模块中包括测试机控制模块;

14.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述良率多维度互动系统还包括结果模板模块;

15.一种芯片良率分析方法,其特征在于,所述方法应用于如权利要求1至权利要求14中任一项所述的良率多维度互动系统,所述方法包括:

16.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求15所述的方法的步骤。

17.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求15所述的方法的步骤。

...

【技术特征摘要】

1.一种良率多维度互动系统,其特征在于,包括处理引擎、知识数据库模块和芯片良率分析模块;

2.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述处理引擎包括分类模型;

3.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述知识数据库模块包括第一输入输出合集以及芯片良率分析技术文件中的至少一种;所述第一输入输出合集包括所述处理引擎接收的关于描述芯片良率问题的历史输入,以及反馈的历史输出;所述芯片良率分析技术文件包括论文、专利文档、项目文件以及实务记录文件中的至少一种;

4.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述处理引擎输出部分或者全部的所述芯片良率问题的结果时,对所述结果添加至少一个标签后一并输出;

5.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述良率多维度互动系统设置有权限管理模块,所述权限管理模块包括用户权限管理、数据权限管理和使用权限管理中的至少一项功能;

6.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述利用所述输入的关于描述所述芯片良率问题的若干个数据维度的信息,基于所述处理引擎耦合的知识数据库模块和/或芯片良率分析模块,生成所述芯片良率问题的结果用于输出,包括:

7.根据权利要求6所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述根据预设的规则对各数据维度的信息进行排序和/或计算权重,并基于顺序和/或权重筛选若干个数据维度的信息进行使用,包括:

8.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统,其特征在于,所述良率多维度互动系统还包括原始数据处理模块,用于对所述输入的关于描述所述芯片良率问题的至少一个数据维度信息进行预处理,得到预处理后的所述数据维度的信息;

9...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈弼梅陆梅君张光超刘人赫
申请(专利权)人:杭州广立微电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1