良率多维度互动系统、方法、计算机设备和存储介质技术方案

本申请涉及一种良率多维度互动系统、方法、计算机设备和存储介质。其中，该系统包括：处理引擎，用于接收关于描述芯片良率问题的输入，并基于输入进行分析处理后反馈输出；处理引擎基于输入进行分析处理后反馈输出，包括：利用输入的关于描述芯片良率问题的若干个数据维度的信息，基于处理引擎耦合的知识数据库模块和/或芯片良率分析模块，生成芯片良率问题的结果用于输出；知识数据库模块，用于基于知识数据库中预存储的数据生成芯片良率问题的结果；芯片良率分析模块，用于实时分析输入的若干个数据维度的信息生成芯片良率问题的结果。采用本系统进行芯片良率分析，能够根据用户的个性化需求，准确、及时地提供针对性的良率分析结果。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及半导体，特别是涉及一种良率多维度互动系统、方法、计算机设备和存储介质。

技术介绍

1、集成电路产业正向低功耗、小尺寸、高度集成、智能化发展，对设计、制造、封装各环节要求严苛。提升集成电路良品率并有效应用于先进工艺，对产业发展至关重要。当前，通过制造测试芯片、使用测试设备监控良品率，并结合技术人员分析数据以改善良品率，是重要手段。

2、然而，集成电路产品设计制造过程中产生海量数据，如何有效分析这些数据以提升成品率和产品性能，成为竞争焦点。虽然机器学习等技术的发展为数据分析提供了新可能，但是现有的技术中尚未出现一种能够根据用户的询问信息，自动对芯片良率数据进行深入分析的交互式芯片良率数据分析系统。

3、用户的询问信息可能包含芯片性能、制造过程、测试数据等多个方面的问题，但现有的工具往往无法将这些询问与芯片良率数据进行有效的关联和匹配，以进行全面的自动分析，从而无法为用户提供准确、及时的反馈。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够根据询问信息和芯片良率数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种良率多维度互动系统，其特征在于，包括处理引擎、知识数据库模块和芯片良率分析模块；

2.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统，其特征在于，所述处理引擎包括分类模型；

3.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统，其特征在于，所述知识数据库模块包括第一输入输出合集以及芯片良率分析技术文件中的至少一种；所述第一输入输出合集包括所述处理引擎接收的关于描述芯片良率问题的历史输入，以及反馈的历史输出；所述芯片良率分析技术文件包括论文、专利文档、项目文件以及实务记录文件中的至少一种；

4.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统，其特征在于，所述处理引擎输出部...

【技术特征摘要】

1.一种良率多维度互动系统，其特征在于，包括处理引擎、知识数据库模块和芯片良率分析模块；

2.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统，其特征在于，所述处理引擎包括分类模型；

3.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统，其特征在于，所述知识数据库模块包括第一输入输出合集以及芯片良率分析技术文件中的至少一种；所述第一输入输出合集包括所述处理引擎接收的关于描述芯片良率问题的历史输入，以及反馈的历史输出；所述芯片良率分析技术文件包括论文、专利文档、项目文件以及实务记录文件中的至少一种；

4.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统，其特征在于，所述处理引擎输出部分或者全部的所述芯片良率问题的结果时，对所述结果添加至少一个标签后一并输出；

5.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统，其特征在于，所述良率多维度互动系统设置有权限管理模块，所述权限管理模块包括用户权限管理、数据权限管理和使用权限管理中的至少一项功能；

6.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统，其特征在于，所述利用所述输入的关于描述所述芯片良率问题的若干个数据维度的信息，基于所述处理引擎耦合的知识数据库模块和/或芯片良率分析模块，生成所述芯片良率问题的结果用于输出，包括：

7.根据权利要求6所述的良率多维度互动系统，其特征在于，所述根据预设的规则对各数据维度的信息进行排序和/或计算权重，并基于顺序和/或权重筛选若干个数据维度的信息进行使用，包括：

8.根据权利要求1所述的良率多维度互动系统，其特征在于，所述良率多维度互动系统还包括原始数据处理模块，用于对所述输入的关于描述所述芯片良率问题的至少一个数据维度信息进行预处理，得到预处理后的所述数据维度的信息；

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【专利技术属性】
技术研发人员：陈弼梅，陆梅君，张光超，刘人赫，
申请(专利权)人：杭州广立微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：