一种放射摄影探测器光路系统测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种放射摄影探测器光路系统测试装置，包括光源、闪烁屏或毛玻璃、反射镜、相机，所述光源设置于所述闪烁屏或毛玻璃的上端，所述反射镜设置于所述闪烁屏或毛玻璃的下端，并与所述闪烁屏或毛玻璃呈４５度角，所述相机设置于所述反射镜镜面的对端。由于本发明专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置使用普通光源替代Ｘ射线，并且将放射摄影探测器光路系统的测试调整简化为对相机的位置调整，将放射摄影探测器光路系统的测试分离到测试装置上进行，因此避免了Ｘ射线对人员及设备的伤害，大大提高了放射摄影探测器光路系统的测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及放射摄影探测器
，具体涉及一种放射摄影探测器光路系统测试装置及测试方法。
技术介绍
如图1和图2所示，放射摄影探测器成像原理是：放射线穿透物体(人体、行李包、工业零件等)后，这种具有物体内部结构影像信息的射线投照在特殊材料制作的闪烁屏上，闪烁屏把X射线这种不可见光转换成可见光，然后这种可见光直接被相机接收或经反射镜反射后被相机接收，光信号经转接处理传输到影像工作站储存及显示出来。放射影像探测器在研制与生产过程中，其光路系统的测试是所有测试中最基本的也是最重要的测试，要反复地测试相机相对于闪烁屏的座标值，以取得最佳图像质量。在没有测试装置的情况下，则产品经过X射线反复投照，不断调整相机座标位置，直到调整到图像最佳状态为止。这样测试调整，要频繁地进行X射线投照，对人及设备损害较大，再就是产品内零部件较多，操作调整非常繁琐，效率低下。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种放射摄影探测器光路系统测试装置及测试方法，克服现有技术在进行放射摄影探测器光路系统测试时，必须利用放射摄影探测器实体进行测试，设备及人员容易受到X射-->线伤害，以及测试过程中的部件调整非常繁琐，测试效率低下的缺陷。本专利技术为解决上述技术问题所采用的技术方案为：一种放射摄影探测器光路系统测试装置，包括放置在一支架上的光源、闪烁屏或毛玻璃、反射镜、相机，所述光源设置于所述闪烁屏或毛玻璃的上端，所述反射镜设置于所述闪烁屏或毛玻璃的下端，并与所述闪烁屏或毛玻璃呈45度角，所述相机设置于所述反射镜镜面的对端。所述放射摄影探测器光路系统测试装置的进一步优化是：还包括灯箱罩，所述光源位于所述灯箱罩的内部，所述灯箱罩的敞口对接所述闪烁屏或毛玻璃。所述放射摄影探测器光路系统测试装置的进一步优化是：还包括光线转换箱，所述光线转换箱的敞口对接所述闪烁屏或毛玻璃，所述反射镜设置于所述光线转换箱内的对角线上，所述光线转换箱相对于所述相机的箱面上设置透光孔。所述放射摄影探测器光路系统测试装置的进一步优化是：还包括相机暗箱，所述相机位于所述相机暗箱内部，所述相机暗箱的敞口对接所述光线转换箱。所述放射摄影探测器光路系统测试装置的进一步优化是：还包括调整支架，所述相机放置于所述调整支架上，所述调整支架置于所述相机暗箱内部。所述放射摄影探测器光路系统测试装置的进一步优化是：所述光源设为日光灯。一种放射摄影探测器光路系统测试方法，设置如权利要求1至6任一所述的放射摄影探测器光路系统测试装置并执行如下步骤：-->A1、启动所述测试装置，使用所述光源照射所述反射镜；A2、调整相机镜头光轴与反射镜的交点到相机镜头的距离D，直到所述相机显示清晰的影像；A3、记录相机镜头光轴与反射镜的交点到相机镜头的距离D；A4、将所述相机安放到放射摄影探测器光路系统中以后，根据所述距离D调整相机位置。本专利技术的有益效果为：由于本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置使用普通光源替代X射线，并且将放射摄影探测器光路系统的测试调整简化为对相机的位置调整，将放射摄影探测器光路系统的测试分离到测试装置上进行，因此避免了X射线对人员及设备的伤害，大大提高了放射摄影探测器光路系统的测试效率，本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置还可以作为闪烁屏质量品质的检测工具，这同样节约了成本，提高了检测效率。附图说明图1为现有技术放射摄影探测器成像原理示意图之一；图2为现有技术放射摄影探测器成像原理示意图之二；图3为本专利技术放射摄影探测器光路系统示意图；图4为本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置示意图；图5为本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置灯箱示意图；图6为本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置光线转换箱示意图；图7为本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置调整支架示意图；图8为本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置相机暗箱示意图。具体实施方式-->下面根据附图和实施例对本专利技术作进一步详细说明：如图3所示，放射摄影探测器光路系统工作时X光线入射到探测区域，穿过被测物体后被闪烁体转换成可见光，可见光再被反射镜(45°倾斜)反射，经相机光学镜头聚焦在CCD芯片上成像，就可以得到人体部位的影像。其中：d：平面反射镜轴向尺寸，d1：镜头光轴到探测平面的垂直距离，d2：镜头光轴与反射镜的交点到镜头中心的距离，θ：镜头视场角，L：物距，L’：像距，参数计算：如果镜头焦距为f，探测区域尺寸为a×a mm，CCD芯片尺寸为b×b mm，则物距L＝d1+d2＝f(1+a/b)，像距L’＝f(1+b/a)。再通过镜头视场角θ和三角形几何知识可计算得到d，d1，d2。在放射摄影探测器中，探测平面和反射镜的位置关系是固定的，在实际光路调试中，可通过调整镜头光轴与反射镜的交点到镜头的距离D来获得清晰的影像，一般距离D的调整数值都在d2理论值附近。根据上述分析，现在将放射摄影探测器光路系统设置在本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置中，使用普通光源替代X光进行测试，并记录测量的d2值，然后在将相机装到放射摄影探测器上以后，根据d2值确定相机的安放位置，很快就可以完成放射摄影探测器光路系统调试工作。如图4、图5、图6、图7和图8所示，本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置包括日光灯5、闪烁屏或毛玻璃9、反射镜12、相机13，日光灯5设置于闪烁屏或毛玻璃9的上端，反射镜12设置于闪烁屏或毛玻璃9的下端，并与闪烁屏或毛玻璃9呈45度角，相机13设置于反射镜12镜面的对端。本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置的实施例包括灯箱罩1、光线转换箱2、调整支架3和相机暗箱4，调整支架3位于相机暗箱4内部，灯箱罩1、光线转换箱2和相机暗箱4的箱体边沿通过螺钉固定在一起，灯箱罩1内设置4只日光灯5，灯箱罩1外部设置灯开关6和-->电源线及插头7。灯箱罩1的敞口对接闪烁屏或毛玻璃9。光线转换箱2包括闪烁屏或毛玻璃压盖8、光线转换箱2的敞口对接闪烁屏或毛玻璃9，光线转换箱2又分为转换箱10和转换箱11，反射镜12设置于转换箱10和转换箱11对接后形成的对角线上，光线转换箱2相对于相机的箱面上设置透光孔。相机暗箱4的敞口对接光线转换箱2。调整支架3上放置相机13。本测试装置把其中的光路系统的部件和光路测试移植到具有相同空间结构的测试装置来完成。并用灯箱可见光代替x射线，测试相机图像，得到最佳图像的测试结果，人和设备的安全得到保证，并简化了操作。本专利技术放射摄影探测器光路系统测试装置还可以作为闪烁屏质量品质的检测工具，这同样节约了成本，提高了检测效率。本专利技术根据上述放射摄影探测器光路系统测试装置在进行测试时执行如下步骤：A1、启动所述测试装置，使用所述光源照射所述反射镜；A2、调整相机镜头光轴与反射镜的交点到相机镜头的距离D，直到所述相机显示清晰的影像；A3、记录相机镜头光轴与反射镜的交点到相机镜头的距离D；A4、将所述相机安放到放射摄影探测器光路系统中以后，根据所述距离D调整相机位置。本领域技术人员不脱离本专利技术的实质和精神，可以有多种变形方案实现本专利技术，以上所述仅为本专利技术较佳可行的实施例而已，并非因此局限本专利技术的权利范围，凡运用本专利技术说明书及附图内容所作的等效结构变化，均包含于本专利技术的权利范围之内。-->本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放射摄影探测器光路系统测试装置，其特征在于：包括放置在一支架上的光源、闪烁屏或毛玻璃、反射镜、相机，所述光源设置于所述闪烁屏或毛玻璃的上端，所述反射镜设置于所述闪烁屏或毛玻璃的下端，并与所述闪烁屏或毛玻璃呈４５度角，所述相机设置于所述反射镜镜面的对端。

【技术特征摘要】
1.一种放射摄影探测器光路系统测试装置，其特征在于：包括放置在一支架上的光源、闪烁屏或毛玻璃、反射镜、相机，所述光源设置于所述闪烁屏或毛玻璃的上端，所述反射镜设置于所述闪烁屏或毛玻璃的下端，并与所述闪烁屏或毛玻璃呈45度角，所述相机设置于所述反射镜镜面的对端。2.根据权利要求1所述的放射摄影探测器光路系统测试装置，其特征在于：还包括灯箱罩，所述光源位于所述灯箱罩的内部，所述灯箱罩的敞口对接所述闪烁屏或毛玻璃。3.根据权利要求2所述的放射摄影探测器光路系统测试装置，其特征在于：还包括光线转换箱，所述光线转换箱的敞口对接所述闪烁屏或毛玻璃，所述反射镜设置于所述光线转换箱内的对角线上，所述光线转换箱相对于所述相机的箱面上设置透光孔。4.根据权利要求3所述的放射摄影探测器光路系统测试装置，其特征在于：还包括相机暗...

【专利技术属性】
技术研发人员：滕久宏，吴定汉，
申请(专利权)人：深圳市蓝韵实业有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]