一种X线平板探测器图像坏线的修补方法技术

本发明专利技术公开一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其包括步骤：计算X线平板探测器图像中坏线区域的异常度；当异常度大于预设的第一阈值时，进一步判断异常度是否大于预设的第二阈值，若是，忽略X线平板探测器图像坏线中各像素点的像素值，通过坏线坐标周围的非损坏像素区域，在坏线垂直方向使用插值平滑法对图像进行处理，得到最终的修补图像，否则，进一步检测坏线内平行于坏线方向的明显的边缘，对边缘进行曲线拟合，并经过插值及平滑处理得到最终的修补图像。本发明专利技术无需修改X线平板探测器的参数，又充分利用了坏线区域的有效像素值，达到了较好的修复效果，并保留了X光图像的有效诊断信息，对提高诊断具有积极意义。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其包括步骤：计算X线平板探测器图像中坏线区域的异常度；当异常度大于预设的第一阈值时，进一步判断异常度是否大于预设的第二阈值，若是，忽略X线平板探测器图像坏线中各像素点的像素值，通过坏线坐标周围的非损坏像素区域，在坏线垂直方向使用插值平滑法对图像进行处理，得到最终的修补图像，否则，进一步检测坏线内平行于坏线方向的明显的边缘，对边缘进行曲线拟合，并经过插值及平滑处理得到最终的修补图像。本专利技术无需修改X线平板探测器的参数，又充分利用了坏线区域的有效像素值，达到了较好的修复效果，并保留了X光图像的有效诊断信息，对提高诊断具有积极意义。【专利说明】一种X线平板探测器图像坏线的修补方法
本专利技术涉及医学图像处理技术，尤其是涉及一种X线平板探测器图像坏线的修补 方法。
技术介绍
目前X线平板探测器较以前的胶片成像有很多优点，如空间分辨率高、空间畸变 小、有灵活的后处理过程等。但是探测器由于制作工艺复杂，在出厂时、运输过程中或者使 用一段时间之后会出现异常的亮点、暗点和坏点坏线等缺陷。目前厂家自带坏点和坏线矫 正程序，相比坏点矫正程序，坏线矫正程序更容易因为坏线宽度和坏线变化剧烈程度而出 现修复不足的痕迹。这时需要一种方法进行二次修复，消除或者淡化坏线痕迹。 中国专利CN200510026786. 5提出一种X射线数字成像的校正方法，该方法是根据 对成像链的物理学分析，利用数学模型对数字平板进行漂移校正，空间非均匀性校正，坏点 校正后，完整的X射线信息的数字图像。但是此方法只能矫正图像坏点且需要对X光平板 探测器进行改动。 中国专利申请CN201010135142. 0提出一种处理X线平板探测器图像坏线的方法 及其装置，此方法首先检测X线平板探测器坏线的位置，然后使用坏线的邻域内的非坏线 图像像素的图像数据计算补偿量，从而修复图像的坏线。此方法忽略了坏线中的有效像素 值，导致修复结果图像在坏线区域的像素为人工制造，失去了诊断意义。
技术实现思路
本专利技术提出一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，在厂家矫正结果的基础上 再次对坏线区域进行修补达到彻底去除坏线的目的，以解决现有技术采用简单的插值方法 对图像坏线进行处理导致修复效果不佳的技术问题。 本专利技术采用如下技术方案实现：一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其包 括步骤： A、计算X线平板探测器图像中坏线区域的异常度diffVal ; B、当异常度diffVal大于预设的第一阈值T时，进一步判断异常度diffVal是否 大于预设的第二阈值t，若是，转入步骤C，否则转入步骤D ; C、忽略X线平板探测器图像坏线中各像素点的像素值，通过坏线坐标周围的非 损坏像素区域，在坏线垂直方向使用插值平滑法对图像进行处理，得到最终的修补图像 f(x，y); 【权利要求】1. 一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其特征在于，包括步骤： A、 计算X线平板探测器图像中坏线区域的异常度diffVal; B、 当异常度diffVal大于预设的第一阈值T时，进一步判断异常度diffVal是否大于 预设的第二阈值t，若是，转入步骤C，否则转入步骤D; C、 忽略X线平板探测器图像坏线中各像素点的像素值，通过坏线坐标周围的非损坏像 素区域，在坏线垂直方向使用插值平滑法对图像进行处理，得到最终的修补图像f(x，y);D、 检测坏线坏线方向明显的边缘，对边缘进行曲线拟合，并经过插值及平滑处理得到 最终的修补图像f(x，y); 其中，第一阈值T的计算公式为 第二阈值t的计算公式为 I·^i=l、2、L和N，N为坏线方向上像素点的个数，Max(Grayscale)为 X线平板探测器图像的最大灰度值，Xi为坏线上各像素点的像素值，与1撕分别是与坏 线左右两侧相邻的两条完好的像素线。2. 根据权利要求1所述一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其特征在于，X线 平板探测器图像中有L条上下贯穿平板的坏线，坏线坐标为Def1，其中1=1，L，L，则异常度 diffVal的计算公式如下：I、L和L-I。3. 根据权利要求1所述一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其特征在于，步骤 C中使用插值平滑法对图像进行处理的计算公式如下：f(x,y)=cof·Io^+d-cof) ·Ι(χΛ+1)， χ=1，2,…R;y=l，…，I; 叫P=〇、l、…和表示紧靠坏线左侧的完好线上的每个点Ι(χΛ+1)表 示紧靠坏线右侧相邻的完好线上的每个点，R表示坏线的长度，y是从1到当前坏线1的取 值，1=1，...，L。4. 根据权利要求1所述一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其特征在于，检测坏 线坏线方向明显的边缘的步骤包括： 使用高斯平滑模板进行滤波； 使用Sobel垂直方向滤波模板进行滤波检测得到坏线区域中平行于坏线方向明显的 边缘，并记录下这些边缘点的坐标（χ」，yP。5. 根据权利要求1所述一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其特征在于，对边 缘进行曲线拟合的步骤包括：将得到的边缘点坐标使用二次多项式ax2+bX+c=y进行曲线拟 合，a为2次项系数，b为一次项系数，c为常数项，X是自变量也是在图像中的行坐标，y是 因变量也是在图像中的列坐标。6. 根据权利要求5所述一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其特征在于，步骤D 中插值处理的步骤包括： 在坏线区域内边缘中每一点（Xph)eax2+bx+c的法线方向 巧），(、少。向上使用和^_内的像素值 (X。，y(l)eYriUYli和坏线本身在曲线方程上的像素点值进行插值，插值方法为 / 、Q_k\l-d^'al)_n 1 .汾厂W=o.7.(/η。,卜外-j~{~，y=〇、i、… 和L-I，其中，t为预设的二次阈值，I为x线平板探测器图像的像素值，k为控制系数。7. 根据权利要求6所述一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其特征在于，控制系 数k为1。【文档编号】G06T7/00GK104463831SQ201310441747【公开日】2015年3月25日 申请日期:2013年9月25日 优先权日:2013年9月25日 【专利技术者】赵明 申请人:深圳市蓝韵实业有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其特征在于，包括步骤：A、计算X线平板探测器图像中坏线区域的异常度diffVal；B、当异常度diffVal大于预设的第一阈值T时，进一步判断异常度diffVal是否大于预设的第二阈值t，若是，转入步骤C，否则转入步骤D；C、忽略X线平板探测器图像坏线中各像素点的像素值，通过坏线坐标周围的非损坏像素区域，在坏线垂直方向使用插值平滑法对图像进行处理，得到最终的修补图像f(x,y)；D、检测坏线坏线方向明显的边缘，对边缘进行曲线拟合，并经过插值及平滑处理得到最终的修补图像f(x,y)；其中，第一阈值T的计算公式为第二阈值t的计算公式为i=1、2、L和N，N为坏线方向上像素点的个数，Max(GrayScale)为X线平板探测器图像的最大灰度值，Xi为坏线上各像素点的像素值，与分别是与坏线左右两侧相邻的两条完好的像素线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵明，
申请(专利权)人：深圳市蓝韵实业有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44