数字放射成像曝光剂量的评价方法技术

技术编号:11201141 阅读:131 留言:0更新日期:2015-03-26 08:43
本发明专利技术公开一种数字放射成像曝光剂量的评价方法,其包括步骤:采集不同曝光电流下的多幅曝光图像,并记录每幅曝光图像对应的曝光剂量Dosei,通过线性拟合公式为Dosei=Slop*Meani+Offset确定每幅曝光图像的灰度均值Meani与对应的曝光剂量Dosei进行线性拟合时的斜率Slop和偏移量Offset;在待评价的曝光图像中提取感兴趣区域并计算感兴趣区域的感兴趣值Value,利用公式EI=Slop*Value+Offset计算曝光指数EI;通过计算曝光偏差指数DI,EIT为预设的目标曝光指数,曝光偏差指数DI为正时表示曝光剂量偏高,曝光偏差指数DI为负时表示曝光剂量偏低。本发明专利技术通过计算曝光偏差指数DI来对曝光剂量进行客观的量化评估,从而方便后续调整曝光参数,获得曝光剂量适当的图像。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种数字放射成像曝光剂量的评价方法,其特征在于,包括步骤:采集不同曝光电流下的多幅曝光图像,并记录每幅曝光图像对应的曝光剂量Dosei,通过线性拟合公式为Dosei=Slop*Meani+Offset确定每幅曝光图像的灰度均值Meani与对应的曝光剂量Dosei进行线性拟合时的斜率Slop和偏移量Offset;在待评价的曝光图像中提取感兴趣区域并计算感兴趣区域的感兴趣值Value,利用公式EI=Slop*Value+Offset计算曝光指数EI;通过计算曝光偏差指数DI,EIT为预设的目标曝光指数,曝光偏差指数DI为正时表示曝光剂量偏高,曝光偏差指数DI为负时表示曝光剂量偏低。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:郭朋李运祥
申请(专利权)人:深圳市蓝韵实业有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1