【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于显微镜的零部件范围,特别涉及适用于光学显微镜和电子显微镜下的微操作工作,同时向被观察体加载力、电、磁信号的一种微操作探针。
技术介绍
利用电子显微镜可以观察到材料的表面形貌,其分辨率达到纳米级,在研究材料表面形貌的同时,关心纳米材料的力学性能、电学性能等,进行这些性能的测试是研究探索的目标。在文献“压电与声光Vol24 No03”的“压电陶瓷管驱动三自由度微操作手的研究与应用”中报导,一般操控探针在大气下操作只有三个自由度;在CN1418761“面向生物医学工程的微操作机械人系统”和CN1409186“操作杆”中报导,用机械方法精度达到微米量级,操控范围可达毫米—厘米量级范围,或者在CN1562729“宏/微双重驱动的微小机器人移动平台”中报导,其操作精度达到纳米级,但只有两个自由度。在文献“Three-dimensional manipulation of carbonnanotubes under a scanning electron microscope Nanotechnology 10(1999)244-252”和“Measuring ...
【技术保护点】
一种微操作探针,其特征在于:在真空室外部的机械螺旋传动装置X/Y调节(3)和Z调节轮(4)通过密封圈(13)、调节垫(6)和滑动杆(2)密封连接,滑动杆(2)通过密封圈(11)和滑动腔(1)密封连接,滑动腔(1)通过其大圆盘上的密封圈(12)直接和真空室连接;密封插头(15)通过密封圈(16)和Z调节轮(4)的端口封(5)密封连接;在滑动杆(2)的前端头和串联连接的Z向压电陶瓷管(7)、压电陶瓷管连接器(10)、X/Y向压电陶瓷管(8)及探针连接器(9)连接,探针(14)固定探针连接器(9)的中央孔内。
【技术特征摘要】
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