用于具有可变反射器的X射线检测器的闪烁器制造技术

本发明专利技术涉及具有光敏感检测器层（１０）的Ｘ射线检测器，在其上布置了用于将Ｘ射线（Ｘ）变换成光子（ｖ）的闪烁层（３０）。光子（ｖ）被反射器（４０）反射回闪烁层，在闪烁层（３０）提供了该反射器，用于改进信号增益和信号噪声比。反射器（４０）的反射率能由外部控制。这例如是通过把电子墨水的反射层（４１，４２，４３）布置在两个电极（４４ａ，４４ｂ）之间而达到的。因此，在Ｘ射线剂量足够高时反射率可被减小，以便提高图像清晰度和检测器的动态范围。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于包含闪烁层和反射器的X射线检测器的闪烁器。而且，本专利技术涉及具有这样的闪烁器的X射线检测器以及用于X辐射的空间分辨检测的方法。平面动态X射线检测器(FDXD)越来越多地使用于医疗诊断领域，用作为通用检测部件，它可以用在不同的专用X射线设备中。像FDXD那样的检测器的重要的特性是它们产生低剂量X射线图像和图像序列的能力。间接变换型的像FDXD那样的检测器包括闪烁器，其中入射的X辐射被变换成可见光的光子，这些光子然后可以由布置在闪烁器下面的光传感器阵列检测到。由于闪烁器把光均匀地发射到所有的方向，只有一部分光子直接到达光传感器。为了限制光子的不想要的扩散，在专利US 2003/0015665 A1中，把闪烁器构建成列。另外，因为光远离传感器而造成的光的损失通过一种反射器或反射层而避免，该反射层被安排在闪烁层的上面，并把光子反射回闪烁器。这样，光输出量(light yield)和从而检测器的灵敏度和信号噪声比可以增加。然而，由于反射的光子在闪烁层上的散射，反射器对于图像清晰度也有负面影响。许多X射线图像包含来自X射线源的、没有穿过要检查的物体的所谓的直接辐射。直接本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于Ｘ射线检测器的闪烁器，包括：－闪烁层（３０），用于将Ｘ射线（Ｘ）变换成光子（ｖ）；－反射器（４０，１４０），布置在闪烁层的至少一个表面附近，以便把光子（ｖ）反射回闪烁层，其中反射器的反射率是可以改变的；－控制设备（５０），用于有选择地改变反射器（４０，１４０）的反射率。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：W吕藤，M奥弗迪克，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]