本发明专利技术涉及一种波长检测装置包括：激发光系统，接收激发光系统光束的检测装置，包括，液体容器，用于放置待测液并接受激发光系统发射出的平行光线；分光棱镜，用于将通过液体容器的光线分为互相垂直的两束光线；第一检测系统，由依次设置的第一过滤片、第一CCD镜头、第一光路检测器以及PC机组成；第二检测系统，由依次设置的第二过滤片、第二CCD镜头、第二光路检测器以及PC机组成。本发明专利技术装置通过安装在光源后的过滤片过滤了杂质光，且安装的光阑可以用于调节光强的大小，安装的准直镜可以将激发光平行射到检测物上。本发明专利技术可以不需要更换滤光片即可测量双波长。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种波长检测装置，具体涉及一种液体波长检测装置。
技术介绍
光波长检测是波分复用光通信系统中的信道性能监测以及光传感系统中的传感参量解调等应用中的关键问题，可以采用光栅光谱仪、扫描光滤波器等进行光波长检测。现有的液体波长检测装置中，激发光一般设计比较复杂，不能去除背景光，且检测装置设计较为复杂，不能使用简单的手段去检测，导致检测装置的制造成本加大。有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的液体波长检测装置，使其更具有产业上的利用价值。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术的目的是提供一种液体波长检测装置。本专利技术的技术方案如下:一种波长检测装置，其特征在于，包括:激发光系统，包括，光源，用于产生激发光的光源；过滤片，用于接收所述光源发射的激发光并过滤背景杂质光；第一凸透镜，用于接收所述过滤片发射的散射的光并将散射的光折射成平行光；第二凸透镜，用于接收所述第二凸透镜发射的平行光并将平行光进行聚焦；光阑，用于接收第二凸透镜聚焦的光线，并通过光阑的大小控制通过其的光线强度；准直镜，用于接收通过光阑的光线，并将光线折射成平行光线。检测装置，包括，液体容器，用于放置待测液并接受激发光系统发射出的平行光线；分光棱镜，用于将通过液体容器的光线分为互相垂直的两束光线；第一检测系统，由依次设置的第一过滤片、第一 CXD镜头、第一光路检测器以及PC机组成；第二检测系统，由依次设置的第二过滤片、第二 CXD镜头、第二光路检测器以及PC机组成。进一步的，所述光源为He-Ne激光。进一步的，所述第一过滤片和第二过滤片用于过滤不同波长的光。借由上述方案，本专利技术至少具有以下优点:本专利技术装置通过安装在光源后的过滤片过滤了杂质光，且安装的光阑可以用于调节光强的大小，安装的准直镜可以将激发光平行射到检测物上。本专利技术可以不需要更换滤光片即可测量双波长。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。【附图说明】图1是本专利技术的结构示意图；【具体实施方式】下面结合附图和实施例，对本专利技术的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。参见图1，本专利技术一较佳实施例所述的一种液体波长检测装置，包括激发光系统，包括光源1，用于产生激发光的光源；过滤片2，用于接收所述光源发射的激发光并过滤背景杂质光；第一凸透镜3，用于接收所述过滤片发射的散射的光并将散射的光折射成平行光；第二凸透镜4，用于接收所述第二凸透镜发射的平行光并将平行光进行聚焦；光阑5，用于接收第二凸透镜聚焦的光线，并通过光阑的大小控制通过其的光线强度；准直镜6，用于接收通过光阑的光线，并将光线折射成平行光线。检测装置，包括，液体容器7，用于放置待测液并接受激发光系统发射出的平行光线；分光棱镜8，用于将通过液体容器的光线分为互相垂直的两束光线；第一检测系统，由依次设置的第一过滤片9、第一 CCD镜头10、第一光路检测器11以及PC机15组成；第二检测系统，由依次设置的第二过滤片12、第二 CXD镜头13、第二光路检测器14以及PC机15组成。本专利技术中的光源为He-Ne激光器。本专利技术的工作原理如下:光源发出的光经过过滤片过滤掉背景杂质光，在经过两片凸透镜进行聚焦，设置的光阑可以调节通过光源的大小，最后准直镜用于将接收到的光束平行射入液体容器在通过分光棱镜将光束分为两束通过两个不同的过滤片过滤掉不同的光束后再通过两个检测系统检测液体的波长。以上所述仅是本专利技术的优选实施方式，并不用于限制本专利技术，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本专利技术的保护范围。【主权项】1.一种波长检测装置，其特征在于，包括: 激发光系统，包括， 光源，用于产生激发光的光源； 过滤片，用于接收所述光源发射的激发光并过滤背景杂质光； 第一凸透镜，用于接收所述过滤片发射的散射的光并将散射的光折射成平行光； 第二凸透镜，用于接收所述第二凸透镜发射的平行光并将平行光进行聚焦； 光阑，用于接收第二凸透镜聚焦的光线，并通过光阑的大小控制通过其的光线强度； 准直镜，用于接收通过光阑的光线，并将光线折射成平行光线。 检测装置，包括， 液体容器，用于放置待测液并接受激发光系统发射出的平行光线； 分光棱镜，用于将通过液体容器的光线分为互相垂直的两束光线； 第一检测系统，由依次设置的第一过滤片、第一 CCD镜头、第一光路检测器以及PC机组成； 第二检测系统，由依次设置的第二过滤片、第二 CCD镜头、第二光路检测器以及PC机组成。2.根据权利要求1所述的一种波长检测装置，其特征在于:所述光源为He-Ne激光。3.根据权利要求1所述的一种波长检测装置，其特征在于:所述第一过滤片和第二过滤片用于过滤不同波长的光。【专利摘要】本专利技术涉及一种波长检测装置包括：激发光系统，接收激发光系统光束的检测装置，包括，液体容器，用于放置待测液并接受激发光系统发射出的平行光线；分光棱镜，用于将通过液体容器的光线分为互相垂直的两束光线；第一检测系统，由依次设置的第一过滤片、第一CCD镜头、第一光路检测器以及PC机组成；第二检测系统，由依次设置的第二过滤片、第二CCD镜头、第二光路检测器以及PC机组成。本专利技术装置通过安装在光源后的过滤片过滤了杂质光，且安装的光阑可以用于调节光强的大小，安装的准直镜可以将激发光平行射到检测物上。本专利技术可以不需要更换滤光片即可测量双波长。【IPC分类】G01J9/00【公开号】CN105157855【申请号】CN201510504435【专利技术人】刘锴, 郑钢, 于浩 【申请人】苏州优谱德精密仪器科技有限公司【公开日】2015年12月16日【申请日】2015年8月17日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种波长检测装置，其特征在于，包括：激发光系统，包括，光源，用于产生激发光的光源；过滤片，用于接收所述光源发射的激发光并过滤背景杂质光；第一凸透镜，用于接收所述过滤片发射的散射的光并将散射的光折射成平行光；第二凸透镜，用于接收所述第二凸透镜发射的平行光并将平行光进行聚焦；光阑，用于接收第二凸透镜聚焦的光线，并通过光阑的大小控制通过其的光线强度；准直镜，用于接收通过光阑的光线，并将光线折射成平行光线。检测装置，包括，液体容器，用于放置待测液并接受激发光系统发射出的平行光线；分光棱镜，用于将通过液体容器的光线分为互相垂直的两束光线；第一检测系统，由依次设置的第一过滤片、第一CCD镜头、第一光路检测器以及PC机组成；第二检测系统，由依次设置的第二过滤片、第二CCD镜头、第二光路检测器以及PC机组成。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘锴，郑钢，于浩，
申请(专利权)人：苏州优谱德精密仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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