闪烁体及其制造方法技术

提供包括嵌在塑料基质中的闪烁化合物纳米尺寸颗粒的闪烁检测器。所述纳米尺寸颗粒可以由金属氧化物、金属卤氧化物、金属硫氧化物或金属卤化物制成。提供了制备所述纳米尺寸颗粒的方法。所述颗粒在结合到所述塑料基质中之前可被涂以有机化合物或聚合物。还提供通过引入二氧化钛纳米尺寸颗粒来使塑料基质的折射率与所述纳米尺寸颗粒相匹配的方法。可将所述闪烁体与一或多个光电检测器联接以形成闪烁检测系统。所述闪烁检测系统可适用于X射线和辐射成像装置如数字X射线成像、乳房造影术、CT、PET或SPECT，或者可用于辐射安全检测器或地下辐射探测器。

【技术实现步骤摘要】
本申请是以下申请的分案申请申请日2008年I月24日；申请号:200880009906. 2(PCT/US2008/051917);专利技术名称”。
技术介绍
本专利技术一般涉及用于制造闪烁检测器的闪烁材料。本专利技术的一个实施方案涉及包括金属氧化物、金属齒氧化物、金属硫氧化物或金属齒化物的纳米尺寸颗粒的闪烁材料及其制造方法。本专利技术的另一实施方案涉及含金属卤化物的纳米尺寸颗粒的闪烁材料及其制 造方法。本专利技术的又一实施方案涉及含金属卤氧化物或金属硫氧化物的纳米尺寸颗粒的闪烁材料及其制造方法。闪烁体是将高能辐射如X射线或Y射线转化成可见光的材料。闪烁体被广泛用于检测和非侵入式成像技术，如用于医学和扫描应用的成像系统。在这些系统中，高能光子典型地穿过进行成像的人或对象并，在成像体积的另一侧，撞击与光检测装置相联的闪烁体。闪烁体典型地响应所述高能光子冲击而产生光学光子。所述光学光子随后可通过所述光检测装置测量和定量，由此提供对入射在所述检测器上的高能辐射的数量和位置的替代测量。另外，闪烁体可用在用于检测以其它方式可能难以检出的放射性对象如违禁物品或污染物的系统中。对于非侵入式成像技术，闪烁本文档来自技高网...

【技术保护点】
制造卤化物基闪烁材料的纳米尺寸颗粒的方法,包括:将包含一或多种金属盐的第一溶液与包含一或多种卤化物前体的第二溶液组合以形成卤化物基闪烁材料的纳米尺寸颗粒，其中所述第一溶液和第二溶液都包含离子液体；和从所述组合的第一和第二溶液中分离所述纳米尺寸颗粒。

【技术特征摘要】
2007.03.26 US 11/728,400;2007.03.26 US 11/728,4451.制造卤化物基闪烁材料的纳米尺寸颗粒的方法，包括 将包含一或多种金属盐的第一溶液与包含一或多种卤化物前体的第二溶液组合以形成卤化物基闪烁材料的纳米尺寸颗粒，其中所述第一溶液和第二溶液都包含离子液体；和 从所述组合的第一和第二溶液中分离所述纳米尺寸颗粒。2.根据权利要求I的方法，其中每种离子液体包含选自由咪唑備、吡啶鐵、吡咯烷■、镌、四烷基铵和锍所构成的组的至少一种阳离子和选自由烷基硫酸根、甲苯磺酸根、甲基磺酸根、双(三氟甲基磺酰)酰亚胺、六氟磷酸根、四氟硼酸根和卤离子所组成的组的至少一种阴离子。3.根据权利要求I的方法，其中所述一或多种金属盐包含选自由镧系元素、第I族元素、第2族元素、第3族元素、第13族元素、第14族元素和第15族元素所构成的组的至少一种金属阴离子。4.根据权利要求I的方法，其中所述一或多种金属盐包含至少一种选自镧、铈、镨、铽和铊的金属阴离子。5.根据权利要求I的方法，其中所述一种或多种卤化物前体至少包含通式为NR4Y的卤化物物种，其中每个R独立地选自由氢化物、烷基、芳基和卤化物所构成的组，Y包含选自由氟离子、氯离子、溴离子、碘...

【专利技术属性】
技术研发人员：SPM卢雷罗，JS瓦图利，BA克罗蒂尔，SJ杜克洛斯，M马诺哈兰，PRL马伦范特，VS文卡塔拉马尼，C比诺，A斯里瓦斯塔瓦，SJ斯托克洛萨，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：发明
国别省市：