闪烁体及其制造方法技术

提供包括嵌在塑料基质中的闪烁化合物纳米尺寸颗粒的闪烁检测器。所述纳米尺寸颗粒可以由金属氧化物、金属卤氧化物、金属硫氧化物或金属卤化物制成。提供了制备所述纳米尺寸颗粒的方法。所述颗粒在结合到所述塑料基质中之前可被涂以有机化合物或聚合物。还提供通过引入二氧化钛纳米尺寸颗粒来使塑料基质的折射率与所述纳米尺寸颗粒相匹配的方法。可将所述闪烁体与一或多个光电检测器联接以形成闪烁检测系统。所述闪烁检测系统可适用于Ｘ射线和辐射成像装置如数字Ｘ射线成像、乳房造影术、ＣＴ、ＰＥＴ或ＳＰＥＣＴ，或者可用于辐射安全检测器或地下辐射探测器。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
本专利技术 一般涉及用于制造闪烁检测器的闪烁材料。本专利技术的一个实施方案涉及包括金属氧化物、金属囟氧化物、金属硫氧化物或金 属卣化物的纳米尺寸颗粒的闪烁材料及其制造方法。本专利技术的另 一 实施 方案涉及含金属卣化物的纳米尺寸颗粒的闪烁材料及其制造方法。本发 明的又 一 实施方案涉及含金属卣氧化物或金属硫氧化物的纳米尺寸颗 粒的闪烁材料及其制造方法。闪烁体是将高能辐射如X射线或y射线转化成可见光的材 料。闪烁体被广泛用于检测和非侵入式成像技术，如用于医学和扫描应 用的成像系统。在这些系统中，高能光子典型地穿过进行成像的人或对 象并，在成像体积的另一侧，撞击与光检测装置相联的闪烁体。闪烁体 典型地响应所述高能光子沖击而产生光学光子。所述光学光子随后可通 过所述光检测装置测量和定量，由此提供对入射在所述检测器上的高能 辐射的数量和位置的替代测量。另外，闪烁体可用在用于检测以其它方 式可能难以检出的放射性对象如违禁物品或污染物的系统中。对于非侵入式成像技术，闪烁体的一个最重要的应用就是用 在利用数字检测和存储系统产生射线照相图像的医疗设备中。例如，在 现有的数字X射线成像系统如CT扫描器中，辐射从辐射源射向受检者， 典型地为医疗诊断应用中的患者。 一部分所述辐射穿过患者并撞击检测 器。检测器的表面将所述辐射转化成能被感应到的光子。所述检测器被 分成离散图像装置的矩阵，或像素，并根据撞击每个像素的辐射的数量 或强度编码输出信号。由于当辐射穿过患者时辐射强度被改变，所以基 于所述输出信号重构的图像提供与通过传统感光胶片技术得到的那些 类似的患者组织投影。另 一种基于高能辐射的成像系统是正电子发射断层扫描 (positron emission tomography, PET),其通常使用具有多个典型呈环形 阵列排列的像素的闪烁体基检测器。每个所述像素构成 一 个与光电倍增 管联在一起的闪烁装置。在PET中，用放射性同位素对具有期望生物活 性或亲合力的化学示踪剂化合物作了标记，其中所述放射性同位素通过发射正电子而衰变。随后，发射的正电子与电子相互作用，放出两个511 keV的光子(Y射线)。所述两个y射线同时发出并在相反方向上传播，穿过 周围的组织，离开患者身体，被所述检测器吸收和记录。通过测量所述 两个光子到达检测器上的两个点的微小时差，就可以计算出所述正电子 在所述对象内部的位置。这种时差测量的限制高度取决于闪烁体材料的 阻止能力、光输出和衰变时间。在CT和PET中，为产生精确的图像即好的空间分辨率都要求 小的像素尺寸。为避免在各个发光模块中产生的光发生像素间污染，闪 烁体由被切成小段或切成小片的单晶或透明陶资成像板制成。所述小段 和各个元件之间的校准反射体一起使用以在物理上尽可能多地保持很 多光射向各个检测器。所述切片工艺限制了各个像素的尺寸，因为像素 尺寸越小生产成本和加工难度就会越高。对于要求更小像素间距的系统，例如在数字射线照相系统中， 使用了磷光体如CsI针和光纤闪烁体(FOS)面板。然而，这些闪烁体满足 不了CT系统的更严格的发光要求。基于CsI的闪烁体衰变时间长，导致 容易洗去图像的余辉。此外，基于FOS板的检测器不具有精确成像所需 的高转化效率。与用于成像应用的复杂闪烁体相比，用于检测放射性违禁物 品或污染物的闪烁体通常只是由聚噻吩或聚苯胺之类的材料制成的简 单塑料膜。不过，这些系统并非特别专用于涉及的辐射种类，常常可能 发生误报。因此，存在对能够易于形成具有在CT和PET应用中所需的小 像素尺寸的材料并同时提供透明度和定制的发光性能的新型闪烁体的 需要。
技术实现思路
在一个实施方案中，本专利技术技术提供包括塑料基质的闪烁体， 其中所述塑料基质含有嵌入的闪烁材料纳米尺寸颗粒。在各种方面，所 述纳米尺寸颗粒可以由金属氧化物、金属囟氧化物、金属硫氧化物、金 属卣化物或其组合制成。在另一实施方案中，本专利技术技术提供包括含有嵌入的闪烁材 料纳米尺寸颗粒的塑料基质的闪烁检效'J系统。 一 或多个光电检领'J器附着19在所述塑料基质上，并经构造以检测在所述塑料基质中产生的光子。在另一实施方案中，本专利技术技术提供包括闪烁检测系统和经构造以对所述闪烁检测系统产生的信号进行分析的信号处理系统的辐 射检测和分析系统。所述闪烁检测系统由包括塑料基质的闪烁体和附着 的光检测装置制成，其中所述塑料基质含有嵌入的闪烁材料纳米尺寸颗 粒，所述光检测装置经构造以响应所述闪烁体产生的光子而产生信号。在又一实施方案中，本专利技术技术提供制造闪烁检测器的方法。 该方法包括将闪烁材料納米尺寸颗粒嵌入塑料基质中，和将光电检测器 系统附着到所述塑料基质上。所述光电检测器系统包括一或多个经构造 以将所述塑料基质内产生的光子转化成电信号的元件。在一个实施方案中，本专利技术技术提供制造卣化物基闪烁材料 的纳米尺寸颗粒的方法。该方法包括将包含一或多种金属盐的第 一溶液 与包含一或多种卣化物前体的第二溶液组合以形成卣化物基闪烁材料 的纳米尺寸颗粒，和从所述组合的笫一和第二溶液中分离所述纳米尺寸 颗粒。 一方面，所述溶液包括离子液体。在另一实施方案中，本专利技术技术提供另一种制造面化物基闪 烁材料的纳米尺寸颗粒的方法。该方法包括制造微乳液，在所述微乳液 中形成由化物基闪烁材料的纳米尺寸颗粒，和从所述微乳液中分离所述 颗粒。 一方面，形成所述纳米尺寸颗粒包括使卣化氢气体鼓泡通过所述 微乳液。另一方面，所迷溶液包括离子液体。在另一实施方案中，本专利技术技术提供另一种制造卣化物基闪 烁材料的纳米尺寸颗粒的方法。该方法包括制造第一微乳液，向所迷第 一微乳液中加入含一或多种有机金属盐的溶液形成第二微乳液，和从所 述第二微乳液中分离囟化物基闪烁材料的纳米尺寸颗粒。 一方面，所述第一微乳液包括作为前体的阴离子源。另一方面，所述溶液包括离子液 体。在另一实施方案中，本专利技术技术提供又一种制造卣化物基闪 烁材料的纳米尺寸颗粒的方法。该方法包括形成第一微乳液，形成第二 微乳液，将所述笫 一微乳液和所述第二微乳液组合形成组合的微乳液， 和从所述组合的微乳液中分离卣化物基闪烁材料的纳米尺寸颗粒。 一方 面，所述微乳液使用离子液体制成。在另一实施方案中，本专利技术技术提供包括金属卣化物纳米尺寸颗粒的晶态闪烁体，其中所述纳米尺寸颗粒的尺寸小于约100nm。 一 方面，所述金属卣化物包括通式为MXn:Y的磷光体，其中M包括选自La、 Na、 K、 Rb、 Cs及其组合的至少一种金属离子；X包括F、 Cl、 Br、 I及 其组合中的至少一种；Y包括选自T1、 Tb、 Na、 Ce、 Pr、 Eu及其组合的 至少一种金属离子；n为l-4的整数。另一方面，所述金属卣化物包括通 式为3的磷光体，其中x、 z、 (l-y-z)和(y-z)都在 0-l的范围。在另一实施方案中，本专利技术技术提供包含金属面化物纳米尺 寸颗粒的晶态闪烁体，其中所述纳米尺寸颗粒的尺寸小于约100nm。在一个实施方案中，本专利技术技术提供制造氧化物基闪烁材料 的纳米尺寸颗粒的方法。该方法包括形成笫一微乳液，形成第二微乳液， 混合所述第一微乳液和所述第二微乳液形成溶液，从所述溶液中分离前 体颗粒，和由所述前体颗粒形成氧化物基闪烁材料的納米尺寸颗粒本文档来自技高网...

【技术保护点】
闪烁体，包含塑料基质，其中所述塑料基质包含嵌入的闪烁材料纳米尺寸颗粒。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：SPM卢雷罗，JS瓦图利，BA克罗蒂尔，SJ杜克洛斯，M马诺哈兰，PRL马伦范特，VS文卡塔拉马尼，C比诺，A斯里瓦斯塔瓦，SJ斯托克洛萨，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：发明
国别省市：US[]