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电子元件的外形检测装置制造方法及图纸

技术编号:2650154 阅读:170 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及电子元件的生产设备,尤其是指一种电子元件的外形检测装置。按照本实用新型专利技术提供的技术方案,在底板上有垂直于底板的导杆,在导杆的另一端有可以在导杆上滑动的滑块,在滑块上有对着被测电子元件的被测部位的导电体与探针,在底板有一个用于驱动滑块动作的推动机构。本实用新型专利技术可以提高产品的品质和生产效率。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子元件的生产设备,尤其是指一种电子元件的外形检 测装置。
技术介绍
在生产电子元件时,往往会出现一些废品。有些废品从外形上就能判断, 如一个电容器的顶部凸起了,则说明该电容器的内部已经发生内爆,使电容 器的铝壳顶部被顶而突出,形成废品。在现有技术中,检测这类废品的方法 通常是用手模,用眼看,通过模与看来鉴别该电容器是否为废品,因此,有可能会出现错误,导致漏检或误检;此外,由于这种操作方式比较原始,因此,生产效率比较低。
技术实现思路
本技术的目的在于设计一种电子元件的外形检测装置,以提高产品 的品质,和生产效率。按照本技术提供的技术方案,在底板上有垂直于底板的导杆,在导 杆的另一端有可以在导杆上滑动的滑块,在滑块上有对着被测电子元件的被 测部位的导电体与探针,在底板有一个用于驱动滑块动作的推动机构。在推动机构中,缸体位于底座上,缸体内有可伸缩的活塞杆,该活塞杆 的外端与推块连接,在推块上有一个斜面;在滑块上有当推块移动时与斜面 相互接触的导轮。在底板与滑块之间有用于使滑块复位的拉簧。在滑块上有用于安装导轮 的固定座。在滑块上有孔,探针位于该孔内,并在孔内放置迫使探针的头部 伸出该孔的弹簧。本技术的优点是利用本装置来检测电子元件的外形时,检测的准 确率高,检测速度快,从而有效地提高了电子元件的质量与生产效率。附图说明图l为本技术的结构图。图2为本技术立体图。具体实施方式如图所示在底板3上有垂直于底板3的导杆4,在导杆4的另一端有可以在导杆4上滑动的滑块7,在滑块7上有对着被测电子元件的被测部位 的导电体8与探针10,在底板3有一个用于驱动滑块7动作的推动机构。工 作时,电容器9由输送机带着移动,当电容器9移动至本检测装置所在位置 时,推动机构动作,将滑块7推向电容器9,直至探针10与电容器9的顶部 接触,如果电容器9的外形没有内爆,则电容器9的顶部是向内凹陷的,这 时导电体8就无法与电容器9接触,只有探针10与电容器9的顶部接触,在 探针10与导电体8之间就形不成回路,也就不会有电信号发出,这就证明该 电容器9的质量是好的。如果电容器9发生了内爆,使电容器9的顶部突出 甚至破裂,这时导电体8就会与电容器9的顶部接触,与探针10形成回路, 发出电信号,说明该电容器9是废品,应予剔除。在推动机构中,缸体12位于底座3上,缸体12内有可伸縮的活塞杆, 该活塞杆的外端与推块2连接,在推块2上有一个斜面;在滑块7上有当推 块2移动时与斜面相互接触的导轮6。工作时,缸体12内的活塞杆向外伸出, 带动推块2—起移动,当推块2上的斜面接触导轮6时,就推动导轮6沿垂 直于推块2的移动方向的方向移动,由导轮6带动滑块7—起移动,使滑块 7靠近电容器9的顶部。这是推动机构的一种形式,这种推动机构在推动滑 块7时比较平稳。此外还可以直接用缸体活塞来推动滑块7,这时缸体12同 样安装于底板3上,其活塞杆的外端则直接与滑块7连接;还可以采用齿轮 齿条机构来推动,这时齿轮安装于底板3上,与齿轮啮合的齿条则安装于滑 块上,当齿轮转动时,带动齿条移动,由齿条带动滑块一起移动;还可以采 用丝杆螺母机构,这时丝杆安装于底板3上,与丝杆配合的螺母则安装于滑 块上,当丝杆转动时,带动螺母移动,由螺母带动滑块7移动。在底板3与滑块7之间有用于使滑块7复位的拉簧5。当所用的推动机 构为齿轮齿条机构或丝杆螺母机构或直接用缸体及其活塞推动滑块7移动 时,就不需要该复位的拉簧5。在滑块7上有用于安装导轮6的固定座1,以 便于安装与制造。在滑块7上有孔,探针10位于该孔内,并在孔内放置迫使 探针10的头部伸出该孔的弹簧11,以确保探针10始终最先与电容器9的顶 部接触。权利要求1、电子元件的外形检测装置,其特征是在底板(3)上有垂直于底板(3)的导杆(4),在导杆(4)的另一端有可以在导杆(4)上滑动的滑块(7),在滑块(7)上有对着被测电子元件的被测部位的导电体(8)与探针(10),在底板(3)有一个用于驱动滑块(7)动作的推动机构。2、 如权利要求1所述电子元件的外形检测装置,其特征是在推动机构 中,缸体(12)位于底座(3)上,缸体(12)内有可伸缩的活塞杆,该活塞 杆的外端与推块(2)连接,在推块(2)上有一个斜面;在滑块(7)上有当 推块(2)移动时与斜面相互接触的导轮(6)。3、 如权利要求l所述电子元件的外形检测装置,其特征是在底板(3) 与滑块(7)之间有用于使滑块(7)复位的拉簧(5)。4、 如权利要求l所述电子元件的外形检测装置,其特征是在滑块(7) 上有用于安装导轮(6)的固定座(1)。5、 如权利要求1所述电子元件的外形检测装置,其特征是在滑块(7) 上有孔,探针(10)位于该孔内,并在孔内放置迫使探针(10)的头部伸出 该孔的弹簧(11)。6、 如权利要求1所述电子元件的外形检测装置,其特征是在推动机构中,缸体(12)安装于底板(3)上,其活塞杆的外端直接与滑块(7)连接。7、 如权利要求l所述电子元件的外形检测装置,其特征是在推动机构中,齿轮安装于底板(3)上,与齿轮啮合的齿条安装于滑块(7)上。8、 如权利要求1所述电子元件的外形检测装置,其特征是在推动机构中,丝杆安装于底板(3)上,与丝杆配合的螺母安装于滑块(7)上。专利摘要本技术涉及电子元件的生产设备,尤其是指一种电子元件的外形检测装置。按照本技术提供的技术方案,在底板上有垂直于底板的导杆,在导杆的另一端有可以在导杆上滑动的滑块,在滑块上有对着被测电子元件的被测部位的导电体与探针,在底板有一个用于驱动滑块动作的推动机构。本技术可以提高产品的品质和生产效率。文档编号G01B7/28GK201059958SQ20072004061公开日2008年5月14日 申请日期2007年7月10日 优先权日2007年7月10日专利技术者梁进卿 申请人:梁进卿本文档来自技高网...

【技术保护点】
电子元件的外形检测装置,其特征是:在底板(3)上有垂直于底板(3)的导杆(4),在导杆(4)的另一端有可以在导杆(4)上滑动的滑块(7),在滑块(7)上有对着被测电子元件的被测部位的导电体(8)与探针(10),在底板(3)有一个用于驱动滑块(7)动作的推动机构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:梁进卿
申请(专利权)人:梁进卿
类型:实用新型
国别省市:32[中国|江苏]

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