测试信号发生装置制造方法及图纸

本发明专利技术的目的在于提供一种能够产生用于对动态地转移状态的被测试装置进行测试的测试信号的测试信号发生装置。本发明专利技术的测试信号发生装置包括：模式存储单元（２０），存储多个模式；模式选择单元（２３），从多个模式中选择一个模式；测试信号发生单元（２５），产生具有模式选择单元（２３）所选择的模式的测试信号；触发信号接收单元（２１），接收至少１种触发信号；以及模式映射存储单元（２２），对各个模式存储表示使测试信号发生单元（２５）反复产生具有该模式的测试信号的次数、以及在使测试信号发生单元（２５）反复产生具有该模式的测试信号的途中，触发信号接收单元（２１）接收到了触发信号时，模式选择单元（２３）对该触发信号的每个种类的动作等的模式映射。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及测试信号发生装置，特别涉及产生用于对被测试装置进行测 试的测试信号的测试信号发生装置。
技术介绍
作为以往的测试信号发生装置，有以下这样的装置，即设置产生测试信号的模式(pattern)的多个模式发生模块，主序列发生器(main sequencer) 按照次序程序(sequence program )顺序选择模式发生模块，并使选择的模式 发生模块产生模式，从而产生具有用于对各种各样的被测试装置进行测试的 模式的测试信号(例如，参照专利文献l)。 专利文献1:特开平11-64469号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题但是，以往的测试信号发生装置在主序列发生器执行次序程序的期间， 不能动态地改变产生的测试信号的模式，所以存在以下问题，即无法产生根 据接收到的信号等动态地转移状态的、用于测试被测试装置的测试信号。本专利技术为了解决以往的问题而完成，其目的在于提供 一 种能够产生动态 地转移状态的、用于测试被测试装置的测试信号的测试信号发生装置。用于解决课题的方案本专利技术的测试信号发生装置其包括测试信号发生单元(25)，产生测试 信号；模式存储单元(20),存储所述测试信号的多个模式；模式映射存储单 元(22),对所述各个模式，存储使所述测试信号发生单元反复产生具有该模 式的测试信号的次数、以及在反复产生了该次数的具有该模式的测试信号后， 决定使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式的模式映射；以及模式 选择单元(23),按照所述模式映射，从所述多个模式选择使所述测试信号发 生单元产生的测试信号的模式，所述测试信号发生装置具有以下结构，即还包括触发信号接收单元(21),接收至少l种触发信号，所述模式映射还表示 按所述每个模式与所述触发信号的种类对应的模式，在所述测试信号发生单 元按照所述模式映射反复产生所述次数的、具有由所述模式选择单元所选择 的模式的测试信号的途中，当所述触发信号接收单元接收到了所述触发信号 时，所述模式选择单元根据所述模式映射来选择与该触发信号相对应的模式。根据该结构，本专利技术的测试信号发生装置可以根据触发信号的类别而动 态地改变测试信号的模式，因此可以产生动态地转移状态的、用于测试被测 试装置的测试信号。此外，所述触发信号接收单元也可以接收通过被测试信号验证装置验证 的结果作为所述触发信号，所述被测试信号验证装置验证由接收了所述测试 信号的被测试装置所发送的被测试信号。根据该结构，本专利技术的测试信号发生装置可以根据被测试信号验证装置 的验证结果动态地改变测试信号的模式。此外，本专利技术的设备测试系统包括测试信号发生装置，产生用于发送 到被测试装置(3)的测试信号；以及被测试信号验证装置，验证由接收了所 述测试信号的所述被测试装置所发送的被测试信号，所述测试信号发生装置 包括测试信号发生单元(25)，产生测试信号；模式存储单元(20),存储 所述测试信号的多个模式；模式映射存储单元(22 )，对所述各个模式，存储 使所述测试信号发生单元反复产生具有该模式的测试信号的次数、以及在反 复产生了该次数的具有该模式的测试信号后，决定使所述测试信号发生单元 产生的测试信号的模式的模式映射；以及模式选择单元(23)，按照所述模式 映射，从所述多个模式选择使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式， 所述被测试信号验证装置包括参照模式存储单元(30 )，存储与所述多个模 式分别对应的多个参照模式，所述设备测试系统具有以下结构，即所述测试 信号发生装置还包括触发信号接收单元(21 ),接收至少l种触发信号；以 及模式信息发送单元(24),将表示由所述模式选择单元选择的模式的模式信 息发送到所述被测试信号验证装置，所述被测试信号验证装置还包括被测 试信号验证单元(33)，基于与所述模式信息发送单元所发送的模式信息表示 的模式对应的参照模式，验证通过所述被测试装置发送的被测试信号，所述 模式映射还表示按所述每个模式与所述触发信号的种类对应的模式，在所述 测试信号发生单元按照所述模式映射反复产生所述次数的、具有由所述模式选择单元所选择的模式的测试信号的途中，当所述触发信号接收单元接收到 了所述触发信号时，所述模式选择单元根据所述模式映射来选择与该触发信 号相对应的模式。根据该结构，本专利技术的设备测试系统可以根据触发信号的类别而动态地 改变使测试信号发生装置产生的测试信号的模式，因此可以对动态地转移状 态的被测试装置进行测试。此外，也可以包括触发信号发送单元，在所述被测试信号验证装置通过 所述被测试信号验证单元检测出了所述被测试信号的误码时，以及所述被测 试信号的至少一部分与预先决定的至少一个对照模式一致时，对每个事项发 送不同的所述触发信号。根据该结构，本专利技术的设备测试系统可以根据被测试信号验证装置的验 证结果动态地改变使测试信号发生装置产生的测试信号。此外，本专利技术的测试信号发生程序用于使测试信号发生装置产生测试信 号，其中，所述测试信号发生程序对所述测试信号发生装置中预先存储的多 个模式的每一个，指定使所述测试信号发生装置反复产生具有该模式的测试信号的次数；在使所述测试信号发生装置反复产生具有该模式的测试信号的 途中接收到了触发信号时，所述测试信号发生装置对该触发信号的每个种类 的动作；以及在使所述测试信号发生装置反复产生具有该模式的测试信号的 途中没有接收到所述触发信号时，重复产生结束后的所述测试信号发生装置的动作。根据该程序，可以根据触发信号的类别而动态地改变使测试信号发生装 置产生的测试信号的模式，因此可以使测试信号发生装置产生动态地转移状 态的、用于测试被测试装置的测试信号。专利技术效果本专利技术能够提供可产生动态地转移状态的、用于测试被测试装置的测试 信号的测试信号发生装置。附图说明图1是本专利技术一实施方式的设备测试系统的方框图。 图2是表示构成本专利技术一实施方式的设备测试系统的测试信号发生装置 存储的模式以及模式映射的例子的示意图。图3是构成本专利技术一实施方式的设备测试系统的显示装置上所显示的模式以及模式映射的编辑画面的图像。图4是表示构成本专利技术一实施方式的设备测试系统的被测试信号验证装 置存储的参照模式以及对照模式的一例的示意图。图5是表示构成本专利技术一实施方式的设备测试系统的测试信号发生装置 的动作的流程图。图6是表示构成本专利技术一实施方式的设备测试系统的被测试信号验证装 置的动作的流程图。 标号说明 1设备测试系统 2输入输出装置 3被测试装置 4测试信号发生装置 5被测试信号验证装置 10输入装置 11显示装置 12 CPU20模式存储单元21触发信号接收单元22模式映射存储单元23模式选择单元24模式信息发送单元25测试信号发生单元30参照模式存储单元31对照模式存储单元32同步单元33纟皮测试信号—睑i正单元34验证结果发送单元35触发信号发送单元具体实施方式以下，参照附图说明本专利技术的实施方式。图1表示本专利技术一实施方式的设备测试系统。设备测试系统l包括输入输出装置2;产生用于对被测试装置3进行 测试的测试信号的测试信号发生装置4;以及验证由接收了测试信号的被测 试装置3所发送的被测试信号的被测试信号验证装置5。输入输出装置2具有由键盘或指示设备(pointing device )等构成的输入本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试信号发生装置，其包括：　测试信号发生单元（２５），产生测试信号；　模式存储单元（２０），存储所述测试信号的多个模式；　模式映射存储单元（２２），对所述各个模式，存储使所述测试信号发生单元反复产生具有该模式的测试信号 的次数、以及在反复产生了该次数的具有该模式的测试信号后，决定使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式的模式映射；以及　模式选择单元（２３），按照所述模式映射，从所述多个模式选择使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式，　所述 测试信号发生装置的特征在于，　还包括触发信号接收单元（２１），接收至少１种触发信号，　所述模式映射还表示按所述每个模式与所述触发信号的种类对应的模式，　在所述测试信号发生单元按照所述模式映射反复产生所述次数的、具有由所述模 式选择单元所选择的模式的测试信号的途中，当所述触发信号接收单元接收到了所述触发信号时，所述模式选择单元根据所述模式映射来选择与该触发信号相对应的模式。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：和田健，土肥正彦，
申请(专利权)人：安立股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]