自动测试模式生成制造技术

描述了一种用于生成数字测试模式以便测试多个布线互连的方法。生成第一测试模式集；第一集合中测试模式的数目涉及布线互连的所述数目，并且定义第一组代码字。根据第一组代码字，选择第二组代码字。第二组中代码字的数目等于布线互连的所述数目，并且第二组代码字的选择是这样来进行的，即：使第二组中代码字的变换计数总和最小。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及自动测试模式生成，并且尤其涉及可以在测试集成电路期间防止地弹(ground-bounce)的测试模式生成。在数字系统中，部件之间通常存在许多布线互连。这是能够使用已知测试信号测试这些互连的设计和制造工艺的重要组成部分。在本说明书中，将把所述互连称为“网络(net)”。过去已经提出了多种测试生成算法。例如，参见2001年由位于Netherlands的Kluwer Academic出版社出版的由JoséT de Sousa和Peter Y K Cheung提出的“Boundary-Scan InterconnectDiagnosis”。测试生成算法的目的在于生成尽可能最小的测试模式集，具有某些最小检测和诊断属性。通常由这种测试生成算法阐明的故障模型是单网络短路和多网络桥路。为了测试两个或更多数字元件之间的多个互连的布线(网络)，把数字测试激励的组合应用于网络输入端，在网络输出端观测响应，并且将其与所期待的响应相比较。假设对网络的输入端存在完全控制，并且网络的输出端完全可被观测。在随后的描述中，将如下术语来用于测试激励。附图的附图说明图1中举例说明了这些术语。-测试模式测试模式2是一组测试数据位，这些数据位被同时、并行地应用于被测试的网络。在图1中，测试模式是作为一列测试数据显示出来的。测试模式有时也被称为并行测试向量(Parallel TestVectors，PTV)。-代码字代码字4是在测试期间串行应用于单个网络的测试数据位列表。在图1中，代码字是测试数据中的行。代码字有时也被称为顺序测试向量(Sequential Test Vectors，STV)。Jarwala和Jau(在1989年10月的IEEE国际测试会议(ITC)的会议记录中，由Najimi Jarwala和Chi W Jau发表的“A New Framework forAnalyzing Test Generation and Diagnosis Algorithm for WiringInterconnects”的第63-70页)描述了如下用于布线互连的确定性故障模型-多网络故障是桥接故障，其产生两个或更多网络之间的短路，并且具有如下特性*线连或门如果主要是“1”驱动器，那么短路具有在短路网络之间的逻辑“线连或门”的性质。*线连与门如果主要是“0”驱动器，那么短路具有在短路网络之间的逻辑“线连与门”的性质。*强驱动器由指定的驱动器支配短路，由此短路的网络跟随主要的驱动器。*单网络故障包括单个网络上的“固定(stuck-at)”故障和“固定开路(stuck-open)”故障，具有如下特性*固定在0所述故障是网络上的数据值始终被读作逻辑“0”。*固定在1所述故障是网络上的数据值始终被读作逻辑“1”。测试短路要求每一网络必须获取唯一的代码字。如果所述网络是无故障的，那么每个响应是唯一的。在短路的情况下，涉及该短路的网络具有相同的响应。因此，这些响应不再是唯一的并且短路被检测。Wlliam Kautz(1974年4月在IEEE Transactions on Computers上、由William H Kautz.提出的Testing of Faultsin WiringInterconnects的第C-23(第4)卷第358-363页)所提出的短路测试以计数序列算法(Counting Sequence Algorithm)而著名。简单的二进制计数算法生成所述代码字。对于k个网络来说，要求log2k个测试模式。所述计数序列算法确保利用最少数目的测试模式进行所有短路检测。为了确保每一网络对固定在0的开路进行测试，每一代码字需要包含至少一个“1”。同样，对于固定在1的故障来说，每一代码字需要包含至少一个“0”。所述计数序列算法无法确保这些。因此，Goel和McMahon(在1982年10月于IEEE国际测试会议(ITC)的会议记录上由P Goel和M T McMahon提出的“Electronic Chip-In-PlaceTest”的第83-90页所提出的测试生成算法以修改的计数序列算法而著名。其主要思想在于如果我们禁止全0和全1的代码字，那么开放式故障可以被检测到。因此，对于k个网络来说，需要log2(k+2)个测试模式，这也可通过简单的二进制计数算法来生成，其起始于1而不是0。所述已修改的计数序列算法确保利用最少数目的测试模式进行所有短路和开路的检测。由Eerenstein和Muris出版的另一个互连文本生成算法(LarsEerenstein和Math Muris提出的题目为“Method for GeneratingTest Patterns to Detectan Electric Shortcir cuit，a Methodfor Testing Electric Circuitry While Using Test Patterns SoGenerated，and a Tester Device for Testing Electric Circuitrywith such Test Patterns”的5,636,229美国专利)以LaMa算法著称。所述LaMa算法基于修改的计数序列算法，只是增量为3而不是1。所述LaMa算法对k个网络要求log2(3k+2)个测试模式。上述测试生成算法确保故障的检测。然而，检测到故障之后，诊断解析往往是测试的另一个重要属性。Jarwala和Jau描述的混淆现象情况，其使所述诊断解析变得模糊。如果有故障网络的故障响应等于另一个无故障网络的无故障响应，那么发生混淆现象。在该情况下，我们无法确定无故障网络是否也遭受故障网络的故障。Paul T.Wagner(在1987年10月在IEEE国际测试会议(ITC)的会议记录中提出的“Interconnect Testing with Boundary Scan”的第52-57页)提出了真/补偿测试算法(True/Complement Test Algorithm)，其增强了(修改的)计数序列算法以便避免混淆现象。Wagner的方法适用于原始计数序列算法的所有测试模式，继之以具有反向值的相同测试模式。由于所述反向测试模式，不会生成全0和全1的代码字。因此，不必在计数序列中除去数字0和k-1。因此，所述真/补偿测试算法要求2log2k个测试模式。由于反向，所述真/补偿测试算法确保每一代码字包含相等数的0和1。如果与另一个网络发生“线连或门”故障，那么在响应字中，1的数目增加而0的数目减少。同样，如果与另一个网络发生“线连或门”故障，那么在响应字中，1的数目增加而0的数目减少。同样，如果与另一个网络发生“连线与门”故障，那么0的数目被增加而1的数目被减少。在固定在开路故障的情况下，所有响应值将为全0或者全1。因此，在每一故障情况中，0和1的数目会改变，如此使得响应字不包含相等数目的0和1。因此，有故障的响应决不会等于另一个网络的无故障响应，由此，真/补偿测试算法避免了混淆现象。在图2(d)的例子中，k＝4，我们需要 个测试模式。所述代码字是1100、1001、0110和0011，并且它们可以被任意地分配给四个网络。图1举例说明了对所示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于生成数字测试集以便测试多个布线互连的方法，每个测试集包括一个位矩阵，所述矩阵用于定义第一组测试模式和第二组代码字，其中每个测试模式的位用于相应的彼此并行的布线互连，并且用于一个互连的连续测试模式的位形成该互连的代码字，并且其中，每个代码字具有与其多个位值变换相关的变换计数，所述测试集具有与测试集中代码字的变换计数总和相关的总变换计数，所述方法包括生成测试集的步骤，所述测试集具有小于预定阈值的总变换计数，所述预定阈值与测试集中测试模式的数目具有预定的关系。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：EJ马里尼斯森，HGH维穆伦，HDL霍尔曼恩，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]