【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种在使被测物过渡到信号波形返回状态的状态下的链路训练中，将基于由pci express6.0标准定义的参数值的测试信号发送至被测物，并且接收伴随测试信号的发送而从被测物返回的被测量信号来测量比特误码率(以下，也称为ber：bit errorrate)的误码率测量装置及误码率测量方法。
技术介绍
1、以往，误码率测量装置作为将包含固定数据的已知波形的测试信号发送至被测物，将伴随测试信号的发送而从被测物返回并接收到的被测量信号与成为基准的参考信号以比特单位进行比较来测量ber的装置而为人所知。
2、在这种误码率测量装置中，例如，如下述专利文献1中所公开，在链路训练中对被测物的输出波形进行加重(emphasis)调整，为了确保与链路伙伴即被测物之间的通信品质，需要选择从误码率测量装置观察的发送(tx)侧的加重与被测物的接收(rx)侧的用户任意设定的均衡器(equalizer)的最佳组合。因此，在pci express5.0标准以前的以往的误码率测量装置中，采用了扫描对被测物的接收机最佳的发送(tx)侧的均衡器设定并且能够自动搜索对被测物的接收机最佳的设定的矩阵扫描功能。在与该pci express1-5标准对应的矩阵扫描功能中，以pre-shoot1、de-emphasis这2个系数来映射(mapping)三角行列(x轴、y轴)，以根据系数求出的加重设定来测量最佳的ber。
3、专利文献1：日本特开2022-043738号公报
4、然而，在以往的矩阵扫描功能中，当以根据系数求出的加重
技术实现思路
1、因此，本专利技术是鉴于上述问题点而完成的，其目的在于提供一种能够有效地进行pci express6.0标准的ber测量试验而实现提高用户调试效率的误码率测量装置及误码率测量方法。
2、为了实现上述目的，本专利技术的方案1所述的误码率测量装置为执行矩阵扫描功能的误码率测量装置1，所述矩阵扫描功能在链路训练中将由以pci express标准定义的最大电压摆幅值(full swing值)下的各系数值组合而成的测试信号发送至被测物w，并且接收伴随所述测试信号的发送而从所述被测物返回的被测量信号来测量比特误码率，所述误码率测量装置1的特征在于，
3、所述测试信号是基于从由所述各系数值组合而成的三角行列矩阵中选择设定的扫描对象的小区的参数值的信号，
4、所述误码率测量装置1具备：显示控制部6b，所述最大电压摆幅值下的所述各系数值有三种，以能够通过与所述最大电压摆幅值相对应的数量的选项卡进行选择的方式显示第1系数值，将所选择的选项卡的所述第1系数值下的第2各系数值与第3各系数值的组合的每一个作为所述小区而在显示画面上进行矩阵显示，并且将所述第2各系数值及所述第3各系数值设为横向坐标轴与纵向坐标轴的组合且将所述第1系数值设为进深方向坐标轴，来将所述各系数值在所述显示画面上进行立体俯瞰显示；
5、操作显示部2，供在所述矩阵显示或所述俯瞰显示中选择包括成为扫描对象的至少一个小区的范围；及
6、控制部6，执行基于通过所述操作显示部选择的范围的参数值的所述矩阵扫描功能。
7、本专利技术的方案2所述的误码率测量装置的特征在于，在方案1的误码率测量装置中，
8、将所述第1系数值设为c-2，将所述第2各系数值设为c+1，将所述第3各系数值设为c-1，
9、所述误码率测量装置具备存储由不同参数值组合的小区构成的多个脚本的存储部5，
10、所述控制部从存储于所述存储部的多个脚本中选择设定一个脚本，
11、并执行基于所选择设定的脚本的参数值的矩阵扫描功能。
12、本专利技术的方案3所述的误码率测量装置的特征在于，在方案2的误码率测量装置中，
13、所述脚本包括由所述标准指定的参数值的小区。
14、本专利技术的方案4所述的误码率测量方法为执行矩阵扫描功能的误码率测量方法，所述矩阵扫描功能在链路训练中将由以pci express标准定义的最大电压摆幅值下的各系数值组合而成的测试信号发送至被测物w，并且接收伴随所述测试信号的发送而从所述被测物返回的被测量信号来测量比特误码率，所述误码率测量方法的特征在于，
15、所述测试信号是基于从由所述各系数值组合而成的三角行列矩阵中选择设定的扫描对象的小区的参数值的信号，
16、所述误码率测量方法包括如下步骤：所述最大电压摆幅值下的所述各系数值有三种，以能够通过与所述最大电压摆幅值相对应的数量的选项卡进行选择的方式显示第1系数值；
17、将所述所选择的选项卡的所述第1系数值下的第2各系数值与第3
18、各系数值的组合的每一个设为所述小区而矩阵显示于显示画面上；
19、将所述第2各系数值及所述第3各系数值设为横向坐标轴与纵向坐标轴的组合且将所述第1系数值设为进深方向坐标轴，来将所述各系数值在所述显示画面上进行立体俯瞰显示；
20、在所述矩阵显示或所述俯瞰显示中，选择包括成为扫描对象的至少一个小区的范围；及
21、执行基于所述所选择的范围的参数值的所述矩阵扫描功能。
22、为了实现上述目的，本专利技术的方案5所述的误码率测量方法的特征在于，在方案4的误码率测量方法中：
23、将所述第1系数值设为c-2，将所述第2各系数值设为c+1，将所述第3各系数值设为c-1，
24、所述误码率测量方法包括如下步骤：存储由不同参数值组合的小区构成的多个脚本；及
25、从所述存储的多个脚本中选择设定一个脚本，并执行基于选择设定的脚本的参数值的矩阵扫描功能。
26、本专利技术的方案6所述的误码率测量方法的特征在于，在方案4或5的误码率测量方法中，
27、所述脚本包括由所述标准指定的参数值的小区。
28、在以往的矩阵扫描功能中，只能应对基于全部扫描的三角行列的所有小区的测量及在三角行列中从开始进行测量的小区起后方的所有测量这两种测量，相对于此，根据本专利技术，扫描对象的选择宽度扩展，能够有效地进行pci express6.0标准的ber测量试验，从而能够实现用户调试效率的提高。
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1.一种误码率测量装置，其为执行矩阵扫描功能的误码率测量装置(1)，所述矩阵扫描功能在链路训练中将由以PCI Express标准定义的最大电压摆幅值下的各系数值组合而成的测试信号发送至被测物(W)，并且接收伴随所述测试信号的发送而从所述被测物返回的被测量信号并测量比特误码率，所述误码率测量装置(1)的特征在于，
2.根据权利要求1所述的误码率测量装置，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的误码率测量装置，其特征在于，
4.一种误码率测量方法，其为执行矩阵扫描功能的误码率测量方法，所述矩阵扫描功能在链路训练中将由以PCI Express标准定义的最大电压摆幅值下的各系数值组合而成的测试信号发送至被测物(W)，并且接收伴随所述测试信号的发送而从所述被测物返回的被测量信号并测量比特误码率，所述误码率测量方法的特征在于，
5.根据权利要求4所述的误码率测量方法，其特征在于，
6.根据权利要求4或5所述的误码率测量方法，其特征在于，
【技术特征摘要】
1.一种误码率测量装置，其为执行矩阵扫描功能的误码率测量装置(1)，所述矩阵扫描功能在链路训练中将由以pci express标准定义的最大电压摆幅值下的各系数值组合而成的测试信号发送至被测物(w)，并且接收伴随所述测试信号的发送而从所述被测物返回的被测量信号并测量比特误码率，所述误码率测量装置(1)的特征在于，
2.根据权利要求1所述的误码率测量装置，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的误码率测量装置，其特征在于，
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