【技术实现步骤摘要】
一种EEPROM芯片传递式测试方法及系统
本专利技术属于芯片测试
，具体涉及一种EEPROM芯片传递式测试方法及系统。
技术介绍
现有EPPROM芯片功能测试的方法为：设单次并行测试片数为n(1≤n≤16，n∈N+)，对n个EPPROM全地址先写后读，将读取的EPPROM数据与PC机所给的源数据进行比对，判断芯片的性能，测试n个EPPROM，则与PC机所给的源数据进行对比的次数为n-1，n越大，测试机逻辑运算和布尔运算的时间越长，该测试方法测试时间长，测试效率低，占用测试机的资源多。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题：现有的测试方法测试时间长，测试效率低，占用测试机的资源较多。技术方案：为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案如下：本专利技术公开一种EEPROM芯片传递式测试方法，单次并行测试n颗芯片，对第一个芯片进行数据源的先写后读，读出的数据由测试机写入下一颗芯片并读出，以此类推，数据总共进行n-1次传递，然后将从第n颗芯片读出的数据与PC机所给的源数据进行对比。
【技术保护点】
1.一种EEPROM芯片传递式测试方法，其特征在于：单次并行测试n颗芯片，对第一个芯片进行数据源的先写后读，读出的数据由测试机写入下一颗芯片并读出，以此类推，数据总共进行n-1次传递，然后将从第n颗芯片读出的数据与PC机所给的源数据进行对比。/n
【技术特征摘要】
1.一种EEPROM芯片传递式测试方法，其特征在于：单次并行测试n颗芯片，对第一个芯片进行数据源的先写后读，读出的数据由测试机写入下一颗芯片并读出，以此类推，数据总共进行n-1次传递，然后将从第n颗芯片读出的数据与PC机所给的源数据进行对比。
2.根据权利要求1所述的EEPROM芯片传递式测试方法，其特征在于：如果从第n颗芯片读出的数据与PC机所给的源数据一致，则n颗芯片全部为合格品；如果从第n颗芯片读出的数据与PC机所给的源数据不一致，则存在不良品。
3.根据权利要求2所述的EEPROM芯片传递式测试方法，其特征在于：出现不良品时，每颗芯片读出的数据与源数据进行一一对比。
4.根据权利要求3所述的EEPROM芯片传递式测试方法，其特征在于：如果从第n颗芯片读出的数据与PC机所给的源数据一致，则对比次数为1次，若出现不良品，则对比次数为n-1次。
5.根据权利要求1所述的EEPROM芯片传递式测试方法，其特征在于：从每颗芯片读出的数据存储在测试机中，以供出现不良品时进行数据对比。
6.根据权利要求1所述的EEPROM芯片传递式测试方法，其特征在于：单次并行测试的芯片数1≤n≤16，n∈N。
7.一种实现...
【专利技术属性】
技术研发人员：王锐，俞博文，
申请(专利权)人：江苏艾科半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。