【技术实现步骤摘要】
一种PCIe设备信号参数动态校正装置和方法
本专利技术涉及芯片生产
，特别涉及一种PCIe设备信号参数动态校正装置和方法。
技术介绍
PCIe(PCIExpress)接口是一种总线接口，采用了的点对点串行连接，比起PCI以及更早期的计算机总线的共享并行架构，每个设备都有自己的专用连接，不需要向整个总线请求带宽，而且可以把数据传输率提高到一个很高的频率，达到PCI所不能提供的高带宽，因此成为目前业内主流的总线接口。在实际使用中，现有的主机设备与PCIe接口信号并不完全适配，因此需对其进行信号兼容性测试，目前具体的做法是利用PCIe协会的测试夹具做内部的环路带宽信噪测试，即，将PCIe协会的测试夹具连接主机设备的PCIe插槽，利用信号发生器发送TX信号，再与返回的信号做比较，得到测试结果，测试的流程仅仅针对该版型从芯片输出端到最后的插槽。然而PCIe协会的测试夹具是一个大型的测试设备，价格昂贵，芯片或主机设备的生产厂家才会使用，对于很多用户来说，则是一笔无法承受的成本。更有甚至某些主机设备的厂家会直接使用芯...
【技术保护点】
1.一种PCIe设备信号参数动态校正装置，其特征在于：设置于PCIe设备的芯片内部，并包括：/n误码率配置单元，用于接受用户对TLP层错误重传率的配置，该TLP层错误重传率记为误码率；/n测试模板单元，提供多个测试模板供用户选择所需的测试模板，每个测试模板中保存有一测试发送序列；/n加重与预加重参数调整单元，分别针对PCIe链路的输出和输入，在PCIe协议规定的标准模式下自动对eq/deq参数进行动态调整校正；/n回环测试单元，用于在测试状态下将所述测试发送序列打上回环标记后发出；/n数据完整性校验单元，用于进行PCIe链路端对端的循环冗余码校验和链路循环冗余码校验，当循环...
【技术特征摘要】
1.一种PCIe设备信号参数动态校正装置，其特征在于：设置于PCIe设备的芯片内部，并包括：
误码率配置单元，用于接受用户对TLP层错误重传率的配置，该TLP层错误重传率记为误码率；
测试模板单元，提供多个测试模板供用户选择所需的测试模板，每个测试模板中保存有一测试发送序列；
加重与预加重参数调整单元，分别针对PCIe链路的输出和输入，在PCIe协议规定的标准模式下自动对eq/deq参数进行动态调整校正；
回环测试单元，用于在测试状态下将所述测试发送序列打上回环标记后发出；
数据完整性校验单元，用于进行PCIe链路端对端的循环冗余码校验和链路循环冗余码校验，当循环冗余码校验和链路循环冗余码出现不完整现象时，则判断PCIe链路信号恶化；
误码率统计单元，用于在PCIe链路信号恶化的情况下统计误码率，当误码率达到所述误码率配置单元的配置值时，自动触发所述加重与预加重参数调整单元进入动态调整校正功能，并使所述回环测试单元进入测试状态；
数据比较单元，用于在测试状态下，将所述回环测试单元发出的所述测试发送序列转给对端EP设备，并接收由对端EP设备返回的解码后数据，对所述测试发送序列和解码后数据进行比较，并将比较结果反馈给所述加重与预加重参数调整单元。
2.根据权利要求1所述的一种PCIe设备信号参数动态校正装置，其特征在于：所述加重与预加重参数调整单元进行自动调整eq/deq参数时，从协议推荐数值往下和往上不断的增减，直到探测到信号恶变的上下两个边界。
3.根据权利要求1所述的一种PCIe设备信号参数动态校正装置，其特征在于：所述误码率统计单元对单位时间内的误码率进行统计包括下述两种方式：
第一种，如果对端EP设备支持AER，就直接利用查询双方AER信息来进行统计；
第二种，如果对端EP设备不支持AER，以主机端接口的单位时间内的重传中断数量密度来统计。
4.根据权利要求3所述的一种PCIe设备信号参数动态校正装置，其特征在于：还包括：
模式选择单元，供用户设定测试模式，包括所述测试模式包括下述两个方面：
(1)是否绝对需要进行测试，若用户配置是，则允许所述回环测试单元进入测试状态，以对PCIe设备信号参数动态校正，若用户配置否，则结束流程；
(2)测试是否需要细分到不同lane粒度，若用户配置是，并配置lane的数量为n，则分别针对每一个lane进行PCIe设备信号参数动态校正，直到n个lane都校正完毕。
5.一种PCIe设备信号参数动态校正方法，其特征在于：在芯片内部实现，并包括下述...
【专利技术属性】
技术研发人员：林涛，
申请(专利权)人：瑞芯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35
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