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本发明公开一种EEPROM芯片传递式测试方法，单次并行测试n颗芯片，对第一个芯片进行数据源的先写后读，读出的数据由测试机写入下一颗芯片并读出，以此类推，数据总共进行n‑1次传递，然后将从第n颗芯片读出的数据与PC机所给的源数据进行对比。若对...
该专利属于江苏艾科半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏艾科半导体有限公司授权不得商用。

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