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测试元件制造技术

技术编号:2645763 阅读:169 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种测试元件,其特征在于:所述测试元件为长直线形的测试针。(*该技术在2013年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种安装在测试仪上用于测试集成电路板线路测试的测试元件。技术背景现有的用于集成电路板线路测试的测试元件一般是由导线、连接端子、测试端子构成。所述测试端子是由测试杆、杆套和弹簧构成,所述弹簧安装在杆套内,所述测试杆一端带有锥形探头,其另一端插入杆套内并固定在弹簧的活动端。导线的一端裸露,其裸露端与测试端子导电连接,导线的另一端通过连接端子连接到测试机上,使用时根据测试的对象不同而选择探头尺寸匹配的测试元件,这样才可以开始测试集成电路板的线路,而测试时主要是依靠弹簧使探头与集成电路板接触式探测。因此,这种结构普遍存在着一些不可避免的缺陷,如这种接触式的探测方式一方面是探测只能单板测试,另一方面也常常会因为弹簧弹性的损坏而造成接触不稳定从而导致测试性能不稳定;由于测试元件的结构复杂,从而造成加工的工艺复杂,因此也引起产品的制作成本和使用成本较高;测试元件的复杂结构也造成测试端子的体型不能缩小,因此可以探测的点间距较大;另外,弹簧的寿命严重影响到测试元件的使用寿命,造成测试元件寿命较短。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足,提供一种结构简单、使用方便、节省成本、测试性能稳本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王俊峰
申请(专利权)人:王俊峰
类型:实用新型
国别省市:

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