探针构造制造技术

一种探针构造，至少包括探针、探针套管及导线，所述探针套管用于供所述探针套入，其特征在于，还包括一个插接件，所述接插件的一端与所述导线的裸线连接，并套有一个加热固定的热缩套管，所述插接件与探针构造接合而相互导通，可重复插接使用。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种探针的构造设计，尤指一种可重复插接且节省成本的探针构造。如图1至图3所示，一般测试用治具包括一个探针构造及一个设有若干测试孔31的密度板3，其中探针构造又包括探针1、探针套管2及导线4，该探针1内设压缩弹簧而使其探针头11便于测试；探针套管2的一端设有一斜边21；导线4则剖开露出一段裸线41。测试时，先将探针套管2从测试孔31一端插入，再施力压锤斜边21使探针套管2可被撑抵于密度板3，接着将探针1插入探针套管2内，最后通过绕接、焊接或夹压的方式，使裸线41结合于相对斜边21的探针套管另端即可进行测试。由于探针1及探针套管2多已不易拔出，欲强力拔出时，则可能造成探针1、探针套管2及测试孔31的刮伤，因此厂商在测试完一定数量的PCB(例如2000片)之后，便直接丢弃整组测试治具。另外，还可直接将裸线41剪断，再费时、费力去剖开导线4，以一段新的裸线41重新连接在探针套管2上。可见，现有探针构造具有以下缺点1、探针套管及探针多已不易拔出供下次使用，欲拔出时亦可能刮伤探针、探针套管及测试孔；2、由于不易拔出，因而造成厂商将整组测试治具一起丢弃；3、如果剪断裸线，则需要再以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈淑梅，
申请(专利权)人：陈淑梅，
类型：实用新型
国别省市：